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掃描電鏡有哪些種類 掃描電鏡由什么組成

本文章由注冊用戶 知識百寶箱 上傳提供 2024-05-05 評論 0
摘要:掃描電鏡是一種大型精密儀器,主要結構包括電子光學系統、信號收集、圖像顯示和記錄系統、真空系統,是機械學、光學、電子學、熱學、材料學、真空技術等多門學科的綜合應用。接下來本文將重點介紹掃描電鏡有哪些種類以及掃描電鏡由什么組成,趕緊和我一起到文中來看看吧!

一、掃描電鏡有哪些種類

掃(sao)描電鏡分類方(fang)法:

1、按照電子槍種類分:鎢絲槍(qiang)、六硼化(hua)鑭、場(chang)發射(she)(she)電子槍(qiang)(冷(leng)場(chang)發射(she)(she)、熱場(chang)發射(she)(she))。

2、按照樣品室的真空度分:高真空模(mo)式(shi)(shi)、低真空模(mo)式(shi)(shi)、環境(jing)模(mo)式(shi)(shi)(冷熱(re)高壓(ya)低壓(ya)等等)。

3、按照真空泵分:油擴(kuo)散泵、分(fen)子泵。

4、按照自動化程度分:自動、手動。

5、按照操作方式分:旋鈕操(cao)(cao)作、鼠標操(cao)(cao)作。

6、按照電器控制系統分:模擬(ni)控制(zhi)、數字控制(zhi)。

7、按照圖像顯示系統分:模擬顯(xian)像(xiang)、數(shu)字顯(xian)像(xiang)。

二、掃描電鏡由什么組成

掃(sao)描電(dian)鏡由電(dian)子光學系(xi)統(tong),信(xin)號收集及顯示系(xi)統(tong),真空系(xi)統(tong)及電(dian)源系(xi)統(tong)組成(cheng)。

1、電子光學系統

電(dian)(dian)子光學系統由電(dian)(dian)子槍,電(dian)(dian)磁透鏡,掃(sao)描線圈和樣品室等部件組成。其作用(yong)是用(yong)來獲得(de)掃(sao)描電(dian)(dian)子束,作為(wei)產生物理信號的激發源。為(wei)了(le)獲得(de)較(jiao)高的信號強(qiang)度和圖(tu)像分辨率,掃(sao)描電(dian)(dian)子束應具(ju)有較(jiao)高的亮(liang)度和盡(jin)可能小的束斑直徑(jing)。

(1)電子槍

其(qi)作用是利用陰極(ji)與(yu)陽極(ji)燈絲間的(de)高(gao)(gao)壓產生(sheng)高(gao)(gao)能量的(de)電子(zi)(zi)束(shu)。目前大多(duo)數掃描電鏡采(cai)用熱陰極(ji)電子(zi)(zi)槍(qiang)。其(qi)優點(dian)是燈絲價格較(jiao)便宜(yi),對(dui)真(zhen)空(kong)度要求不高(gao)(gao),缺(que)點(dian)是鎢絲熱電子(zi)(zi)發(fa)射(she)效(xiao)率(lv)(lv)低,發(fa)射(she)源直徑較(jiao)大,即使經過二(er)級(ji)(ji)或三級(ji)(ji)聚光鏡,在樣品表面上(shang)的(de)電子(zi)(zi)束(shu)斑直徑也(ye)在5-7nm,因(yin)此(ci)儀器分辨(bian)(bian)率(lv)(lv)受到(dao)限(xian)制(zhi)。現在,高(gao)(gao)等級(ji)(ji)掃描電鏡采(cai)用六硼(peng)化鑭(lan)(LaB6)或場發(fa)射(she)電子(zi)(zi)槍(qiang),使二(er)次電子(zi)(zi)像的(de)分辨(bian)(bian)率(lv)(lv)達到(dao)2nm。但這種(zhong)電子(zi)(zi)槍(qiang)要求很高(gao)(gao)的(de)真(zhen)空(kong)度。

(2)電磁透鏡

其作用(yong)主(zhu)要是把電子槍的束斑(ban)逐漸縮(suo)小,是原來直徑約為50mm的束斑(ban)縮(suo)小成(cheng)一個只有(you)數nm的細小束斑(ban)。其工作原理(li)與透射電鏡中的電磁透鏡相同。

掃描電(dian)鏡(jing)一般有(you)三(san)個(ge)聚光鏡(jing),前兩個(ge)透(tou)(tou)鏡(jing)是強(qiang)透(tou)(tou)鏡(jing),用來(lai)縮小電(dian)子(zi)束光斑尺寸(cun)。第三(san)個(ge)聚光鏡(jing)是弱透(tou)(tou)鏡(jing),具有(you)較長(chang)的焦距,在該(gai)透(tou)(tou)鏡(jing)下方放(fang)置樣品(pin)可避(bi)免磁場對(dui)二次電(dian)子(zi)軌跡的干擾。

(3)掃描線圈

其作用是(shi)提供入射(she)電(dian)子束(shu)在(zai)樣(yang)品表面(mian)上以(yi)及陰極射(she)線管內(nei)電(dian)子束(shu)在(zai)熒光屏上的(de)同步掃(sao)(sao)描信(xin)號。改變入射(she)電(dian)子束(shu)在(zai)樣(yang)品表面(mian)掃(sao)(sao)描振幅,以(yi)獲得(de)所需放大倍(bei)率的(de)掃(sao)(sao)描像(xiang)。掃(sao)(sao)描線圈試(shi)掃(sao)(sao)描點晶的(de)一(yi)個重(zhong)要組件,它(ta)一(yi)般(ban)放在(zai)最后二透鏡之間(jian),也有的(de)放在(zai)末(mo)級(ji)透鏡的(de)空間(jian)內(nei)。

(4)樣品室

樣(yang)品室中主要部件是樣(yang)品臺。它出能(neng)進行三維空間的移(yi)動,還能(neng)傾斜(xie)和轉動,樣(yang)品臺移(yi)動范圍一般可(ke)達40毫米,傾斜(xie)范圍至少(shao)在(zai)50度左右,轉動360度。

樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)室中還(huan)要安(an)(an)置各種型號(hao)檢測器。信號(hao)的收集效率(lv)和相應(ying)檢測器的安(an)(an)放位(wei)置有很大(da)關系。樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)臺還(huan)可以帶有多種附件,例(li)如樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)在樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)臺上加熱,冷卻(que)或拉伸,可進行(xing)動態觀察。近(jin)年來,為適應(ying)斷(duan)口實物等大(da)零件的需(xu)要,還(huan)開發了可放置尺(chi)寸在Φ125mm以上的大(da)樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)臺。

2、信號檢測放大系統

其作(zuo)用(yong)是(shi)檢(jian)測(ce)樣品在入射電子(zi)作(zuo)用(yong)下產生的物理信號(hao),然(ran)后經(jing)視頻放(fang)大(da)作(zuo)為顯像(xiang)系統(tong)的調(diao)制信號(hao)。

3、真空系統和電源系統

真(zhen)(zhen)空系(xi)統(tong)(tong)的作用是為保證電(dian)子光(guang)學(xue)系(xi)統(tong)(tong)正常(chang)工作,防止樣(yang)品污染(ran)提(ti)供高的真(zhen)(zhen)空度(du),一般(ban)情況(kuang)下(xia)要求保持10.4-10.5mmHg的真(zhen)(zhen)空度(du)。

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