一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃(sao)描(miao)電鏡觀察的(de)放大(da)倍數在1萬(wan)以下(xia)，通(tong)常比其他類(lei)型顯微鏡所(suo)觀察到的(de)圖(tu)像(xiang)更(geng)(geng)富(fu)有立體感(gan)，清晰度更(geng)(geng)高，層次細節更(geng)(geng)分明和(he)豐富(fu)。但(dan)在使用過(guo)程中，也需要(yao)注意一些地方(fang)，才能獲得(de)高品(pin)質(zhi)圖(tu)像(xiang)：

1、制樣：成功制備出所要(yao)觀察的(de)位置，樣品如果不導電(dian)，可能需要(yao)鍍金。

2、環境：電(dian)鏡(jing)處在(zai)無振(zhen)動干擾和無磁(ci)場干擾的(de)環境下。

3、設備：電(dian)鏡電(dian)子槍(qiang)仍在合理(li)的使用時間內。

4、拍攝：找到拍攝位(wei)置，選擇合(he)適(shi)距離，選擇合(he)適(shi)探頭(tou)→對中→調像散→聚焦，反復操作至最清晰即(ji)可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電鏡圖(tu)片(pian)分析的方法(fa)是觀察SEM圖(tu)片(pian)的整體(ti)形態(tai)和結構，了(le)解樣(yang)品(pin)的形貌和表面特(te)征。確定(ding)需要分析的區(qu)域，可以使用(yong)SEM軟件中的標記工具或者直(zhi)接在圖(tu)片(pian)上標記。測(ce)量(liang)樣(yang)品(pin)的尺(chi)寸和形態(tai)，可以使用(yong)SEM軟件中的測(ce)量(liang)工具進行測(ce)量(liang)。

如：分(fen)析樣品(pin)的成分(fen)和(he)結(jie)構(gou)(gou)，可以使用SEM配合能譜儀(yi)（EDS）或者電子背(bei)散射（EBSD）等技術(shu)進(jin)(jin)行(xing)(xing)分(fen)析。根據(ju)分(fen)析結(jie)果，結(jie)合SEM圖片的形(xing)態(tai)和(he)結(jie)構(gou)(gou)，對樣品(pin)進(jin)(jin)行(xing)(xing)進(jin)(jin)一(yi)步(bu)的解釋(shi)和(he)推斷。

需要(yao)注意的(de)是，SEM圖片的(de)分(fen)析需要(yao)結合樣(yang)品的(de)具(ju)體特征和(he)(he)分(fen)析目(mu)的(de)進行(xing)，不同的(de)樣(yang)品和(he)(he)分(fen)析目(mu)的(de)可能需要(yao)不同的(de)分(fen)析方法和(he)(he)技術。