一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃描電鏡(jing)觀(guan)察(cha)的(de)放大倍數在(zai)1萬(wan)以下(xia)，通常比其(qi)他(ta)類型(xing)顯(xian)微(wei)鏡(jing)所觀(guan)察(cha)到的(de)圖像更富(fu)有(you)立(li)體感(gan)，清晰度更高，層次細節(jie)更分明(ming)和(he)豐(feng)富(fu)。但在(zai)使用過程中，也需要注意一些地方(fang)，才(cai)能獲得高品質圖像：

1、制樣：成功制備出所要觀察的(de)位(wei)置，樣(yang)品(pin)如(ru)果不導(dao)電，可(ke)能需(xu)要鍍金。

2、環境：電鏡處在無振動(dong)干擾(rao)(rao)和(he)無磁場干擾(rao)(rao)的環(huan)境下(xia)。

3、設備：電鏡電子槍(qiang)仍在合理(li)的使(shi)用時間內。

4、拍攝：找到拍攝(she)位置，選(xuan)擇(ze)(ze)合適距離，選(xuan)擇(ze)(ze)合適探頭→對中→調(diao)像散→聚焦，反復操作至最清晰(xi)即可(ke)。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電(dian)鏡圖(tu)片(pian)分(fen)析的(de)(de)(de)方法(fa)是觀察SEM圖(tu)片(pian)的(de)(de)(de)整體(ti)形(xing)態(tai)和結(jie)構，了解樣(yang)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)形(xing)貌和表面特征(zheng)。確定需(xu)要分(fen)析的(de)(de)(de)區域，可(ke)以(yi)(yi)使用SEM軟件(jian)中(zhong)的(de)(de)(de)標記(ji)工具或者直接在(zai)圖(tu)片(pian)上標記(ji)。測量(liang)樣(yang)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)尺寸和形(xing)態(tai)，可(ke)以(yi)(yi)使用SEM軟件(jian)中(zhong)的(de)(de)(de)測量(liang)工具進行測量(liang)。

如：分(fen)析樣品的成(cheng)分(fen)和結(jie)構(gou)，可(ke)以使用SEM配合能譜儀（EDS）或(huo)者電子背散射(she)（EBSD）等技術進(jin)行(xing)分(fen)析。根據分(fen)析結(jie)果，結(jie)合SEM圖(tu)片的形態和結(jie)構(gou)，對樣品進(jin)行(xing)進(jin)一步的解釋和推(tui)斷。

需(xu)要(yao)注(zhu)意(yi)的是(shi)，SEM圖片的分析需(xu)要(yao)結(jie)合樣品的具體(ti)特(te)征和分析目的進(jin)行，不(bu)同(tong)的樣品和分析目的可能(neng)需(xu)要(yao)不(bu)同(tong)的分析方法和技術。