一、掃描電子顯微鏡的原理是什么

掃描電子顯微鏡已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具，在正式使用之前，我們來看看掃描電子顯微鏡的原理是什么吧！

掃描電(dian)子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電(dian)子顯微鏡和光學(xue)(xue)顯微鏡之間的(de)(de)一種觀察手(shou)段(duan)。其原(yuan)理(li)是利用材料表面微區的(de)(de)特(te)征(zheng)（如(ru)形貌、原(yuan)子序數、化學(xue)(xue)成分、或晶體結構等）的(de)(de)差異，在(zai)電(dian)子束作(zuo)用下通過試(shi)樣不同區域產生不同的(de)(de)亮度差異，從而獲得(de)具(ju)有一定襯(chen)度的(de)(de)圖像。

二、掃描電子顯微鏡有哪些用途

掃描電子(zi)顯微(wei)鏡可(ke)應(ying)用(yong)于(yu)陶瓷材料分析、金屬材料失效分析。在(zai)石油(you)、地質、礦物領域，電子(zi)、半導體領域，醫學(xue)、生物學(xue)領域，化(hua)工、高分子(zi)材料領域，公安刑偵工作領域，以及農、林業等方面(mian)都有廣(guang)泛應(ying)用(yong)。

掃描電(dian)子顯微(wei)鏡可(ke)進(jin)行(xing)顯微(wei)形(xing)貌分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)，如(ru)果(guo)配備了其它分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)儀器(qi)也可(ke)進(jin)行(xing)成分(fen)(fen)的(de)常規(gui)微(wei)區(qu)分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)，包括元(yuan)素(su)定量(liang)、定性(xing)成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)。進(jin)行(xing)顯微(wei)形(xing)貌分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)時，空間分(fen)(fen)辨率可(ke)達亞(ya)微(wei)米級(ji)；能(neng)夠進(jin)行(xing)晶界的(de)狀態測(ce)(ce)量(liang)，或者晶體/晶粒的(de)相鑒定，以及晶體、晶粒取(qu)向測(ce)(ce)量(liang)等；進(jin)行(xing)微(wei)區(qu)成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)時，能(neng)夠通過快速的(de)多元(yuan)素(su)面掃描和線(xian)掃描進(jin)行(xing)分(fen)(fen)布測(ce)(ce)量(liang)。

在(zai)(zai)現(xian)(xian)代產(chan)(chan)業(ye)化生(sheng)產(chan)(chan)和科(ke)學(xue)(xue)研究中，掃(sao)描電子顯微鏡(jing)發展(zhan)成為材料分析(xi)、監控(kong)工農業(ye)生(sheng)產(chan)(chan)、保(bao)證產(chan)(chan)品質量、保(bao)障大生(sheng)產(chan)(chan)流程安全高效的(de)必要手段；同時在(zai)(zai)生(sheng)物、環保(bao)、醫學(xue)(xue)等有關人類的(de)生(sheng)存、發展(zhan)領域的(de)應用也日新月異(yi)；在(zai)(zai)軍事現(xian)(xian)代高科(ke)技方(fang)面的(de)發展(zhan)（例如生(sheng)物武(wu)器、化學(xue)(xue)武(wu)器戰(zhan)爭、現(xian)(xian)場毒(du)物檢測、生(sheng)命保(bao)障任務等）發揮了巨(ju)大的(de)作用。