一、探傷儀是干什么用的
探(tan)傷(shang)儀是一種(zhong)探(tan)測(ce)(ce)機器缺陷的的工程器械，它的主要用途是探(tan)測(ce)(ce)機器加工件內部是否(fou)(fou)有缺陷，如裂紋、砂眼、氣(qi)孔(kong)、白點、夾(jia)雜(za)等，檢查(cha)焊縫是否(fou)(fou)合(he)格(ge)，查(cha)找有無暗傷(shang)，進而判定工件合(he)格(ge)與否(fou)(fou)。
探傷儀(yi)的(de)應用(yong)十分廣泛，目(mu)前探傷儀(yi)主要(yao)用(yong)在工(gong)業(ye)(ye)和(he)醫療上(shang)(shang)，工(gong)業(ye)(ye)上(shang)(shang)用(yong)于檢測(ce)金屬材料中(zhong)是否有(you)傷痕、氣泡、裂縫等，醫學上(shang)(shang)用(yong)于檢測(ce)人(ren)體的(de)軟組織、血流等是否正常。
二、探傷儀的原理是什么
探傷儀(yi)檢測(ce)通(tong)常是(shi)(shi)對(dui)被(bei)測(ce)物體(ti)（比如工業材料、人體(ti)）發射(she)超聲，然后利(li)用其反(fan)射(she)、多普勒(le)效(xiao)應、透射(she)等來(lai)獲(huo)取被(bei)測(ce)物體(ti)內部(bu)的(de)(de)(de)信息并經過處(chu)(chu)理形成圖(tu)像。探傷儀(yi)其中多普勒(le)效(xiao)應法是(shi)(shi)利(li)用超聲在(zai)遇到運(yun)(yun)動(dong)的(de)(de)(de)物體(ti)時(shi)發生的(de)(de)(de)多普勒(le)頻移效(xiao)應來(lai)得(de)出(chu)該物體(ti)的(de)(de)(de)運(yun)(yun)動(dong)方(fang)向和速度等特(te)性；透射(she)法則是(shi)(shi)通(tong)過分析超聲穿透過被(bei)測(ce)物體(ti)之(zhi)后的(de)(de)(de)變(bian)化而得(de)出(chu)物體(ti)的(de)(de)(de)內部(bu)特(te)性的(de)(de)(de)，其應用還(huan)處(chu)(chu)于(yu)研制(zhi)階段。
三、探傷儀怎么使用
探(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀五大常(chang)規方法(fa)(fa)(fa)是指射線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)、超聲(sheng)波探(tan)(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)、磁粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)、渦流探(tan)(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)和滲透探(tan)(tan)(tan)傷(shang)法(fa)(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是利用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿透性和直線(xian)(xian)(xian)(xian)性來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)。這(zhe)些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然(ran)不(bu)會像可(ke)(ke)見光那(nei)樣憑(ping)肉眼就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)能直接(jie)(jie)察知，但它可(ke)(ke)使照相底(di)(di)片感(gan)光，也可(ke)(ke)用(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收器來(lai)接(jie)(jie)收。常用(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光和同位素發出(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分別(bie)稱為x光探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當(dang)這(zhe)些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)（照射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)質(zhi)時，該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)密度越(yue)大(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強度減弱得越(yue)多(duo)，即(ji)(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能穿透過(guo)該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)越(yue)小(xiao)。此時，若(ruo)(ruo)用(yong)照相底(di)(di)片接(jie)(jie)收，則底(di)(di)片的(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)光量(liang)就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)小(xiao)；若(ruo)(ruo)用(yong)儀器來(lai)接(jie)(jie)收，獲(huo)得的(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)弱。因此，用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)照射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零部件時，若(ruo)(ruo)其內部有(you)氣孔、夾渣等缺(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)有(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)徑比沒有(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)徑所透過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密度要小(xiao)得多(duo)，其強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)減弱得少些(xie)(xie)，即(ji)(ji)透過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)大(da)些(xie)(xie)，若(ruo)(ruo)用(yong)底(di)(di)片接(jie)(jie)收，則感(gan)光量(liang)就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)大(da)些(xie)(xie)，就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)可(ke)(ke)以從底(di)(di)片上(shang)反映出(chu)缺(que)陷(xian)垂直于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)平面投影；若(ruo)(ruo)用(yong)其它接(jie)(jie)收器也同樣可(ke)(ke)以用(yong)儀表來(lai)反映缺(que)陷(xian)垂直于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)平面投影和射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透過(guo)量(liang)。由此可(ke)(ke)見，一般情況下，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是不(bu)易發現裂(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)，或(huo)者說，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對裂(lie)紋(wen)是不(bu)敏感(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)。因此，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對氣孔、夾渣、未焊透等體積(ji)型缺(que)陷(xian)最敏感(gan)。即(ji)(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)適(shi)宜(yi)用(yong)于(yu)體積(ji)型缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適(shi)宜(yi)面積(ji)型缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們的(de)(de)(de)(de)耳朵能(neng)直(zhi)接接收到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)頻率范圍通常(chang)是20Hz到(dao)(dao)20kHz，即音（聲）頻。頻率低于(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為次聲波(bo)(bo)，高(gao)于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為超(chao)(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)。工(gong)業(ye)上(shang)常(chang)用數兆赫茲超(chao)(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)來探傷(shang)(shang)。超(chao)(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)頻率高(gao)，則傳(chuan)(chuan)播(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性強，又易于(yu)在(zai)固(gu)體(ti)中(zhong)傳(chuan)(chuan)播(bo)(bo)，并(bing)且遇到(dao)(dao)兩種不同(tong)(tong)介質形成(cheng)的(de)(de)(de)(de)界(jie)面時易于(yu)反(fan)(fan)射(she)，這樣就可(ke)以(yi)用它來探傷(shang)(shang)。通常(chang)用超(chao)(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)探頭與待探工(gong)件表面良好的(de)(de)(de)(de)接觸(chu)，探頭則可(ke)有(you)效地(di)向工(gong)件發射(she)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)，并(bing)能(neng)接收（缺(que)陷(xian)）界(jie)面反(fan)(fan)射(she)來的(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)，同(tong)(tong)時轉換成(cheng)電信號，再傳(chuan)(chuan)輸給儀器進行處理。根(gen)據超(chao)(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)在(zai)介質中(zhong)傳(chuan)(chuan)播(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)速(su)(su)度（常(chang)稱(cheng)(cheng)聲速(su)(su)）和傳(chuan)(chuan)播(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)時間，就可(ke)知道缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)位置(zhi)。當(dang)缺(que)陷(xian)越(yue)大，反(fan)(fan)射(she)面則越(yue)大，其(qi)反(fan)(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)能(neng)量也就越(yue)大，故可(ke)根(gen)據反(fan)(fan)射(she)能(neng)量的(de)(de)(de)(de)大小來查(cha)知各缺(que)陷(xian)（當(dang)量）的(de)(de)(de)(de)大小。常(chang)用的(de)(de)(de)(de)探傷(shang)(shang)波(bo)(bo)形有(you)縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表面波(bo)(bo)等，前二者適用于(yu)探測內(nei)部缺(que)陷(xian)，后者適宜于(yu)探測表面缺(que)陷(xian)，但(dan)對表面的(de)(de)(de)(de)條件要(yao)求(qiu)高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)是建立(li)在漏磁(ci)(ci)(ci)原理(li)基礎(chu)上(shang)的一種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)力線穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及其制(zhi)品(pin)時，在其（磁(ci)(ci)(ci)性）不連續(xu)處將產生漏磁(ci)(ci)(ci)場，形(xing)成磁(ci)(ci)(ci)極。此時撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)或澆上(shang)磁(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)極就會吸附(fu)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產生用肉(rou)眼能(neng)直接(jie)觀察(cha)的明(ming)顯磁(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)此，可借助于(yu)(yu)該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及其制(zhi)品(pin)的缺陷情況。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)可探(tan)(tan)測露(lu)出表(biao)(biao)面，用肉(rou)眼或借助于(yu)(yu)放大鏡(jing)也不能(neng)直接(jie)觀察(cha)到的微小(xiao)缺陷，也可探(tan)(tan)測未露(lu)出表(biao)(biao)面，而是埋藏在表(biao)(biao)面下幾毫米(mi)的近表(biao)(biao)面缺陷。用這(zhe)種(zhong)方(fang)法(fa)雖然也能(neng)探(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未焊透等(deng)體積型缺陷，但對面積型缺陷更靈敏(min)，更適于(yu)(yu)檢查因(yin)淬(cui)火、軋制(zhi)、鍛(duan)造、鑄造、焊接(jie)、電鍍、磨削(xue)、疲(pi)勞(lao)等(deng)引起的裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)中對缺(que)陷(xian)的顯示(shi)(shi)方(fang)法有多種(zhong)，有用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)的，也有不用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)的。用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)的稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)，因它(ta)(ta)(ta)顯示(shi)(shi)直觀(guan)、操作(zuo)簡單(dan)、人們(men)樂于使用，故它(ta)(ta)(ta)是最常(chang)用的方(fang)法之(zhi)一。不用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)的，習(xi)慣上(shang)稱為(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)傷(shang)，它(ta)(ta)(ta)常(chang)借助于感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)敏管、霍(huo)爾(er)元件(jian)等(deng)來(lai)反映缺(que)陷(xian)，它(ta)(ta)(ta)比磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)更(geng)衛(wei)生，但不如前者直觀(guan)。由于磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)主要(yao)用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯示(shi)(shi)缺(que)陷(xian)，因此(ci)，人們(men)有時把(ba)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)直接稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)，其設(she)備稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)設(she)備。
4、渦流探傷方法
渦(wo)流(liu)探(tan)傷是(shi)(shi)(shi)由交(jiao)流(liu)電(dian)(dian)流(liu)產生(sheng)的(de)交(jiao)變磁(ci)場作(zuo)用(yong)于(yu)待探(tan)傷的(de)導(dao)電(dian)(dian)材料，感應出電(dian)(dian)渦(wo)流(liu)。如(ru)果材料中有(you)(you)缺(que)陷，它將(jiang)干(gan)擾所產生(sheng)的(de)電(dian)(dian)渦(wo)流(liu)，即(ji)(ji)形成干(gan)擾信(xin)號(hao)。用(yong)渦(wo)流(liu)探(tan)傷儀檢測出其(qi)(qi)干(gan)擾信(xin)號(hao)，就(jiu)可知道缺(que)陷的(de)狀(zhuang)況(kuang)。影響渦(wo)流(liu)的(de)因(yin)素(su)很(hen)多(duo)(duo)(duo)，即(ji)(ji)是(shi)(shi)(shi)說渦(wo)流(liu)中載(zai)有(you)(you)豐富的(de)信(xin)號(hao)，這些(xie)信(xin)號(hao)與材料的(de)很(hen)多(duo)(duo)(duo)因(yin)素(su)有(you)(you)關，如(ru)何將(jiang)其(qi)(qi)中有(you)(you)用(yong)的(de)信(xin)號(hao)從(cong)諸(zhu)多(duo)(duo)(duo)的(de)信(xin)號(hao)中一一分離(li)出來，是(shi)(shi)(shi)渦(wo)流(liu)研究(jiu)工作(zuo)者的(de)難題(ti)，多(duo)(duo)(duo)年(nian)來已經取(qu)得了一些(xie)進展(zhan)，在一定條件下可解決一些(xie)問題(ti)，但還遠不能滿足現場的(de)要求，有(you)(you)待于(yu)大力發展(zhan)。
渦(wo)流探(tan)傷的顯著特點是對(dui)導(dao)電材(cai)料就能起(qi)作用，而不一定是鐵磁材(cai)料，但對(dui)鐵磁材(cai)料的效果較(jiao)差。其次，待探(tan)工件(jian)表面的光(guang)(guang)潔度(du)(du)、平整度(du)(du)、邊介等對(dui)渦(wo)流探(tan)傷都有較(jiao)大影響，因此(ci)常(chang)將渦(wo)流探(tan)傷用于形狀較(jiao)規則(ze)、表面較(jiao)光(guang)(guang)潔的銅管等非鐵磁性(xing)工件(jian)探(tan)傷。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)(yong)毛(mao)(mao)細(xi)現(xian)象來進行探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。對于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)光滑而(er)清潔的(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)(ling)部(bu)件，用(yong)(yong)一(yi)種帶(dai)色(se)（常(chang)為(wei)紅色(se)）或(huo)帶(dai)有(you)熒(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)(tou)性(xing)很強的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)(ti)，涂(tu)(tu)覆于(yu)待探(tan)(tan)零(ling)(ling)部(bu)件的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)。若表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)有(you)肉眼不能直(zhi)接察知(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)，由于(yu)該液(ye)體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)性(xing)很強，它將沿著裂(lie)紋(wen)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)到其根部(bu)。然(ran)后將表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂(tu)(tu)上(shang)(shang)對比度較(jiao)大(da)的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)液(ye)（常(chang)為(wei)白(bai)色(se)）。放置片刻后，由于(yu)裂(lie)紋(wen)很窄，毛(mao)(mao)細(xi)現(xian)象作用(yong)(yong)顯(xian)(xian)著，原滲(shen)(shen)透(tou)(tou)到裂(lie)紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)將上(shang)(shang)升(sheng)到表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散，在(zai)白(bai)色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)(shang)顯(xian)(xian)出較(jiao)粗(cu)的(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從而(er)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)出裂(lie)紋(wen)露于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀，因此(ci)，常(chang)稱為(wei)著色(se)探(tan)(tan)傷(shang)。若滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是帶(dai)熒(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)(ti)，由毛(mao)(mao)細(xi)現(xian)象上(shang)(shang)升(sheng)到表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)(ti)，則會在(zai)紫(zi)外(wai)燈(deng)照射下(xia)發出熒(ying)光，從而(er)更(geng)能顯(xian)(xian)示(shi)(shi)出裂(lie)紋(wen)露于(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀，故(gu)常(chang)常(chang)又將此(ci)時(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)(tan)傷(shang)直(zhi)接稱為(wei)熒(ying)光探(tan)(tan)傷(shang)。此(ci)探(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)也可用(yong)(yong)于(yu)金(jin)屬和非金(jin)屬表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)(tan)傷(shang)。其使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷(shang)液(ye)劑有(you)較(jiao)大(da)氣味(wei)，常(chang)有(you)一(yi)定毒性(xing)。
探傷儀除以上五大常規方法外，近(jin)年來又有(you)了紅外、聲發射等一(yi)些新的探傷方法。
