芒果视频下载

一、探傷儀是干什么用的

探(tan)傷儀是一種探(tan)測(ce)機器缺陷的的工(gong)程(cheng)器械，它的主要用途是探(tan)測(ce)機器加工(gong)件內部是否(fou)(fou)有缺陷，如(ru)裂(lie)紋、砂(sha)眼、氣孔、白點、夾雜等(deng)，檢查焊縫(feng)是否(fou)(fou)合格，查找有無暗傷，進而(er)判定(ding)工(gong)件合格與否(fou)(fou)。

探傷儀(yi)的應(ying)用(yong)(yong)十(shi)分廣(guang)泛，目前探傷儀(yi)主要(yao)用(yong)(yong)在工業和(he)醫療(liao)上(shang)，工業上(shang)用(yong)(yong)于檢測(ce)金屬材料中(zhong)是否有(you)傷痕、氣泡、裂縫等(deng)，醫學(xue)上(shang)用(yong)(yong)于檢測(ce)人體的軟組(zu)織、血流等(deng)是否正常。

二、探傷儀的原理是什么

探傷儀(yi)(yi)檢測(ce)通(tong)常是對(dui)被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)（比如工業材(cai)料、人體(ti)）發(fa)射(she)(she)超(chao)(chao)聲，然后(hou)利用其(qi)(qi)反射(she)(she)、多普勒效應(ying)、透(tou)射(she)(she)等(deng)來獲(huo)取被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)內部(bu)的信息并經過處理(li)形(xing)成(cheng)圖像。探傷儀(yi)(yi)其(qi)(qi)中多普勒效應(ying)法是利用超(chao)(chao)聲在遇到(dao)運動的物(wu)體(ti)時發(fa)生的多普勒頻移效應(ying)來得(de)出該物(wu)體(ti)的運動方向(xiang)和(he)速度等(deng)特性；透(tou)射(she)(she)法則(ze)是通(tong)過分析(xi)超(chao)(chao)聲穿透(tou)過被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)之后(hou)的變化(hua)而(er)得(de)出物(wu)體(ti)的內部(bu)特性的，其(qi)(qi)應(ying)用還處于研制階段(duan)。

三、探傷儀怎么使用

探傷儀五大(da)常(chang)規方法是指(zhi)射線探傷法、超聲(sheng)波(bo)探傷法、磁粉探傷法、渦流探傷法和滲(shen)透探傷法。

1、射線探傷方法

射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)穿透(tou)性(xing)和(he)直線(xian)(xian)(xian)性(xing)來(lai)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)方(fang)法。這些(xie)(xie)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)會像可見光(guang)(guang)那(nei)樣憑肉眼就能(neng)直接(jie)(jie)察(cha)知，但(dan)它可使照相底(di)(di)片(pian)(pian)感(gan)光(guang)(guang)，也可用(yong)(yong)(yong)特殊(shu)的(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)。常用(yong)(yong)(yong)于探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)有(you)(you)x光(guang)(guang)和(he)同(tong)位素發(fa)出的(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光(guang)(guang)探(tan)傷(shang)(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)。當這些(xie)(xie)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿過(guo)（照射(she)(she)(she)）物(wu)質(zhi)(zhi)時，該物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)密度(du)越(yue)大(da)，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度(du)減(jian)弱得(de)(de)越(yue)多，即射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)能(neng)穿透(tou)過(guo)該物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就越(yue)小。此(ci)(ci)時，若用(yong)(yong)(yong)照相底(di)(di)片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)，則底(di)(di)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)感(gan)光(guang)(guang)量(liang)就小；若用(yong)(yong)(yong)儀器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)，獲得(de)(de)的(de)(de)(de)(de)信(xin)號就弱。因此(ci)(ci)，用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)來(lai)照射(she)(she)(she)待探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)零部件時，若其(qi)內部有(you)(you)氣(qi)孔(kong)、夾渣(zha)等缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿過(guo)有(you)(you)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)路(lu)徑比沒有(you)(you)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)路(lu)徑所透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)(zhi)密度(du)要小得(de)(de)多，其(qi)強(qiang)(qiang)度(du)就減(jian)弱得(de)(de)少些(xie)(xie)，即透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就大(da)些(xie)(xie)，若用(yong)(yong)(yong)底(di)(di)片(pian)(pian)接(jie)(jie)收(shou)，則感(gan)光(guang)(guang)量(liang)就大(da)些(xie)(xie)，就可以(yi)從底(di)(di)片(pian)(pian)上反映出缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)向的(de)(de)(de)(de)平面投影；若用(yong)(yong)(yong)其(qi)它接(jie)(jie)收(shou)器(qi)也同(tong)樣可以(yi)用(yong)(yong)(yong)儀表來(lai)反映缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)向的(de)(de)(de)(de)平面投影和(he)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)量(liang)。由此(ci)(ci)可見，一(yi)般情(qing)況下(xia)，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)是(shi)不(bu)易發(fa)現(xian)裂(lie)紋(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)對(dui)裂(lie)紋(wen)(wen)是(shi)不(bu)敏感(gan)的(de)(de)(de)(de)。因此(ci)(ci)，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)對(dui)氣(qi)孔(kong)、夾渣(zha)、未(wei)焊透(tou)等體積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)最敏感(gan)。即射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)適(shi)宜用(yong)(yong)(yong)于體積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)，而不(bu)適(shi)宜面積(ji)型(xing)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)。

2、超聲波探傷方法

人們的(de)(de)(de)耳朵能(neng)直接接收到的(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)頻率范圍(wei)通常(chang)(chang)是20Hz到20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)）頻。頻率低于(yu)20Hz的(de)(de)(de)稱為次(ci)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高(gao)于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)稱為超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工業上常(chang)(chang)用(yong)數(shu)兆赫(he)茲(zi)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)來探(tan)(tan)傷(shang)。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻率高(gao)，則(ze)傳(chuan)播的(de)(de)(de)直線性強，又易于(yu)在(zai)(zai)固體中(zhong)傳(chuan)播，并且遇到兩種(zhong)不(bu)同介質形成(cheng)的(de)(de)(de)界面(mian)(mian)(mian)時易于(yu)反(fan)射，這(zhe)樣就可(ke)以用(yong)它來探(tan)(tan)傷(shang)。通常(chang)(chang)用(yong)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)(tan)頭與待探(tan)(tan)工件表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)接觸，探(tan)(tan)頭則(ze)可(ke)有效地向工件發射超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并能(neng)接收（缺(que)陷(xian)）界面(mian)(mian)(mian)反(fan)射來的(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同時轉(zhuan)換成(cheng)電信號，再傳(chuan)輸給儀(yi)器進(jin)行處理。根據超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)(zai)介質中(zhong)傳(chuan)播的(de)(de)(de)速度（常(chang)(chang)稱聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳(chuan)播的(de)(de)(de)時間(jian)，就可(ke)知(zhi)道缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)位置。當缺(que)陷(xian)越(yue)大(da)(da)(da)，反(fan)射面(mian)(mian)(mian)則(ze)越(yue)大(da)(da)(da)，其反(fan)射的(de)(de)(de)能(neng)量也就越(yue)大(da)(da)(da)，故可(ke)根據反(fan)射能(neng)量的(de)(de)(de)大(da)(da)(da)小(xiao)來查(cha)知(zhi)各缺(que)陷(xian)（當量）的(de)(de)(de)大(da)(da)(da)小(xiao)。常(chang)(chang)用(yong)的(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷(shang)波(bo)(bo)(bo)形有縱(zong)波(bo)(bo)(bo)、橫(heng)波(bo)(bo)(bo)、表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)等，前二者(zhe)適用(yong)于(yu)探(tan)(tan)測(ce)內部(bu)缺(que)陷(xian)，后者(zhe)適宜于(yu)探(tan)(tan)測(ce)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)缺(que)陷(xian)，但對表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)條件要求高(gao)。

3、磁粉探傷方法

磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷是(shi)建立在(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)原(yuan)理基礎上(shang)的一種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷方法。當磁(ci)(ci)(ci)力(li)(li)線穿過鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材料及其制品時(shi)，在(zai)其（磁(ci)(ci)(ci)性）不連續處(chu)將(jiang)產(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)場，形成(cheng)磁(ci)(ci)(ci)極。此時(shi)撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)或澆上(shang)磁(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)極就會吸附(fu)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產(chan)生用肉(rou)眼(yan)能(neng)(neng)直接(jie)(jie)觀察(cha)的明顯磁(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)此，可(ke)借助于該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材料及其制品的缺(que)陷(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷法可(ke)探(tan)(tan)測露(lu)出(chu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)，用肉(rou)眼(yan)或借助于放(fang)大(da)鏡也(ye)不能(neng)(neng)直接(jie)(jie)觀察(cha)到的微小缺(que)陷(xian)，也(ye)可(ke)探(tan)(tan)測未(wei)(wei)露(lu)出(chu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)，而是(shi)埋(mai)藏在(zai)表(biao)面(mian)(mian)(mian)下幾毫米的近表(biao)面(mian)(mian)(mian)缺(que)陷(xian)。用這(zhe)種(zhong)方法雖然也(ye)能(neng)(neng)探(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未(wei)(wei)焊透等體積型缺(que)陷(xian)，但對(dui)面(mian)(mian)(mian)積型缺(que)陷(xian)更(geng)靈(ling)敏，更(geng)適(shi)于檢查因(yin)淬火、軋制、鍛造、鑄(zhu)造、焊接(jie)(jie)、電鍍、磨削、疲勞等引起的裂紋。

磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)中對缺(que)陷的(de)(de)顯示(shi)(shi)方法(fa)有(you)多種，有(you)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)的(de)(de)，也有(you)不(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)的(de)(de)。用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)的(de)(de)稱為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)，因它顯示(shi)(shi)直(zhi)觀、操作簡(jian)單、人們樂于使用(yong)，故它是最常用(yong)的(de)(de)方法(fa)之一。不(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)的(de)(de)，習慣上(shang)稱為(wei)(wei)漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)傷(shang)(shang)，它常借助于感(gan)應線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元(yuan)件等來反映缺(que)陷，它比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)更衛生，但不(bu)如前(qian)者(zhe)直(zhi)觀。由于磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)主要用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來顯示(shi)(shi)缺(que)陷，因此(ci)，人們有(you)時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)直(zhi)接稱為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)，其設(she)備稱為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)設(she)備。

4、渦流探傷方法

渦流(liu)(liu)探(tan)(tan)傷是由(you)交(jiao)流(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)產生的(de)交(jiao)變磁場作(zuo)用于待探(tan)(tan)傷的(de)導電(dian)材(cai)(cai)料，感應出(chu)(chu)(chu)電(dian)渦流(liu)(liu)。如果材(cai)(cai)料中有(you)(you)缺陷(xian)，它將干擾(rao)所產生的(de)電(dian)渦流(liu)(liu)，即形成干擾(rao)信號(hao)(hao)。用渦流(liu)(liu)探(tan)(tan)傷儀檢測出(chu)(chu)(chu)其干擾(rao)信號(hao)(hao)，就(jiu)可知道缺陷(xian)的(de)狀況。影(ying)響渦流(liu)(liu)的(de)因(yin)素很(hen)多，即是說渦流(liu)(liu)中載有(you)(you)豐富的(de)信號(hao)(hao)，這些(xie)信號(hao)(hao)與材(cai)(cai)料的(de)很(hen)多因(yin)素有(you)(you)關，如何將其中有(you)(you)用的(de)信號(hao)(hao)從諸多的(de)信號(hao)(hao)中一一分離出(chu)(chu)(chu)來，是渦流(liu)(liu)研究工作(zuo)者(zhe)的(de)難題(ti)，多年來已經取得了一些(xie)進展，在一定條件下可解(jie)決一些(xie)問題(ti)，但還遠不(bu)能滿足現場的(de)要求，有(you)(you)待于大力發(fa)展。

渦流(liu)探(tan)傷(shang)(shang)的顯(xian)著(zhu)特點是對導電材(cai)料(liao)就能起作用，而不(bu)一定是鐵(tie)磁(ci)材(cai)料(liao)，但對鐵(tie)磁(ci)材(cai)料(liao)的效果較(jiao)(jiao)差。其次，待探(tan)工(gong)件表面的光(guang)潔(jie)度(du)、平整度(du)、邊介等對渦流(liu)探(tan)傷(shang)(shang)都有較(jiao)(jiao)大(da)影響，因此常將渦流(liu)探(tan)傷(shang)(shang)用于形(xing)狀較(jiao)(jiao)規(gui)則、表面較(jiao)(jiao)光(guang)潔(jie)的銅管(guan)等非鐵(tie)磁(ci)性工(gong)件探(tan)傷(shang)(shang)。

5、滲透探傷方法

滲(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷是利用毛細(xi)現(xian)象(xiang)來進行(xing)探(tan)傷的(de)(de)方(fang)法。對于(yu)表面(mian)(mian)光(guang)(guang)滑而(er)清潔的(de)(de)零部件(jian)，用一種帶色(se)（常(chang)(chang)(chang)為(wei)紅色(se)）或帶有(you)熒(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)(tou)性很強的(de)(de)液體(ti)，涂(tu)(tu)覆于(yu)待探(tan)零部件(jian)的(de)(de)表面(mian)(mian)。若(ruo)表面(mian)(mian)有(you)肉(rou)眼不能直接察(cha)知的(de)(de)微裂(lie)(lie)紋(wen)，由于(yu)該液體(ti)的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)性很強，它將(jiang)沿著裂(lie)(lie)紋(wen)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)其(qi)(qi)根部。然后(hou)將(jiang)表面(mian)(mian)的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液洗(xi)去(qu)，再涂(tu)(tu)上(shang)(shang)對比度較大的(de)(de)顯(xian)示(shi)液（常(chang)(chang)(chang)為(wei)白色(se)）。放置片刻后(hou)，由于(yu)裂(lie)(lie)紋(wen)很窄，毛細(xi)現(xian)象(xiang)作用顯(xian)著，原滲(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)裂(lie)(lie)紋(wen)內的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液將(jiang)上(shang)(shang)升到(dao)表面(mian)(mian)并擴散(san)，在(zai)白色(se)的(de)(de)襯底(di)上(shang)(shang)顯(xian)出(chu)(chu)較粗的(de)(de)紅線，從而(er)顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)表面(mian)(mian)的(de)(de)形狀，因(yin)此，常(chang)(chang)(chang)稱為(wei)著色(se)探(tan)傷。若(ruo)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液采用的(de)(de)是帶熒(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)液體(ti)，由毛細(xi)現(xian)象(xiang)上(shang)(shang)升到(dao)表面(mian)(mian)的(de)(de)液體(ti)，則會在(zai)紫外(wai)燈照射下(xia)發(fa)出(chu)(chu)熒(ying)光(guang)(guang)，從而(er)更能顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)表面(mian)(mian)的(de)(de)形狀，故常(chang)(chang)(chang)常(chang)(chang)(chang)又將(jiang)此時的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷直接稱為(wei)熒(ying)光(guang)(guang)探(tan)傷。此探(tan)傷方(fang)法也(ye)可(ke)用于(yu)金屬(shu)和(he)非金屬(shu)表面(mian)(mian)探(tan)傷。其(qi)(qi)使用的(de)(de)探(tan)傷液劑有(you)較大氣(qi)味，常(chang)(chang)(chang)有(you)一定毒性。

探傷儀除(chu)以上五大常規(gui)方(fang)(fang)法外，近年來又有了紅外、聲發射等一些新的探(tan)傷方(fang)(fang)法。