一、探傷儀是干什么用的
探(tan)傷儀是一種探(tan)測(ce)機(ji)器(qi)缺(que)陷的的工(gong)程器(qi)械,它的主(zhu)要用途是探(tan)測(ce)機(ji)器(qi)加(jia)工(gong)件內部是否有(you)缺(que)陷,如(ru)裂(lie)紋、砂眼、氣孔(kong)、白點、夾雜等,檢查焊縫是否合(he)格,查找有(you)無暗傷,進而判定工(gong)件合(he)格與否。
探傷(shang)(shang)儀(yi)的應用十分廣泛,目(mu)前探傷(shang)(shang)儀(yi)主(zhu)要用在工業(ye)(ye)和醫療上(shang),工業(ye)(ye)上(shang)用于(yu)檢(jian)測(ce)金屬(shu)材料中(zhong)是(shi)否有(you)傷(shang)(shang)痕(hen)、氣泡、裂縫等(deng),醫學上(shang)用于(yu)檢(jian)測(ce)人體的軟組織、血流等(deng)是(shi)否正(zheng)常(chang)。
二、探傷儀的原理是什么
探傷(shang)儀檢(jian)測通常是對被(bei)測物(wu)體(ti)(ti)(比如(ru)工(gong)業材料(liao)、人體(ti)(ti))發(fa)射超聲,然后(hou)利(li)用(yong)其(qi)反射、多(duo)普(pu)勒效(xiao)(xiao)應(ying)、透射等(deng)來獲取被(bei)測物(wu)體(ti)(ti)內(nei)(nei)部的(de)(de)信息并經過處理(li)形成圖像。探傷(shang)儀其(qi)中多(duo)普(pu)勒效(xiao)(xiao)應(ying)法是利(li)用(yong)超聲在遇到運動(dong)的(de)(de)物(wu)體(ti)(ti)時發(fa)生的(de)(de)多(duo)普(pu)勒頻移效(xiao)(xiao)應(ying)來得出該物(wu)體(ti)(ti)的(de)(de)運動(dong)方(fang)向(xiang)和速度等(deng)特性(xing);透射法則(ze)是通過分析超聲穿(chuan)透過被(bei)測物(wu)體(ti)(ti)之后(hou)的(de)(de)變化而得出物(wu)體(ti)(ti)的(de)(de)內(nei)(nei)部特性(xing)的(de)(de),其(qi)應(ying)用(yong)還處于研制(zhi)階段。
三、探傷儀怎么使用
探(tan)傷儀五(wu)大常規方法是指射(she)線探(tan)傷法、超(chao)聲(sheng)波探(tan)傷法、磁粉探(tan)傷法、渦流探(tan)傷法和(he)滲透探(tan)傷法。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利用射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿(chuan)透(tou)性和(he)(he)直(zhi)線(xian)(xian)性來(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)方(fang)法。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)雖(sui)然(ran)不會像可(ke)(ke)見光(guang)那樣憑肉眼(yan)就(jiu)(jiu)(jiu)能(neng)直(zhi)接(jie)察知(zhi),但它可(ke)(ke)使照(zhao)相(xiang)底(di)片(pian)感光(guang),也(ye)可(ke)(ke)用特殊(shu)的(de)(de)(de)接(jie)收(shou)器來(lai)接(jie)收(shou)。常用于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)有(you)x光(guang)和(he)(he)同(tong)位素(su)發(fa)出的(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian),分別(bie)稱為x光(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)和(he)(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。當這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿(chuan)過(照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she))物(wu)質(zhi)時,該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)密(mi)度(du)越大,射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)強(qiang)度(du)減弱得(de)越多,即射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)透(tou)過該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)(jiu)(jiu)越小(xiao)。此時,若(ruo)用照(zhao)相(xiang)底(di)片(pian)接(jie)收(shou),則(ze)底(di)片(pian)的(de)(de)(de)感光(guang)量就(jiu)(jiu)(jiu)小(xiao);若(ruo)用儀器來(lai)接(jie)收(shou),獲得(de)的(de)(de)(de)信(xin)號就(jiu)(jiu)(jiu)弱。因(yin)此,用射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)來(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)待(dai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)零部件時,若(ruo)其(qi)內(nei)部有(you)氣孔、夾(jia)渣等缺(que)(que)陷(xian)(xian),射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿(chuan)過有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑比(bi)沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑所透(tou)過的(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密(mi)度(du)要(yao)小(xiao)得(de)多,其(qi)強(qiang)度(du)就(jiu)(jiu)(jiu)減弱得(de)少些(xie),即透(tou)過的(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)(jiu)(jiu)大些(xie),若(ruo)用底(di)片(pian)接(jie)收(shou),則(ze)感光(guang)量就(jiu)(jiu)(jiu)大些(xie),就(jiu)(jiu)(jiu)可(ke)(ke)以(yi)(yi)從底(di)片(pian)上(shang)反(fan)映(ying)出缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)于(yu)(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)平面投(tou)影;若(ruo)用其(qi)它接(jie)收(shou)器也(ye)同(tong)樣可(ke)(ke)以(yi)(yi)用儀表來(lai)反(fan)映(ying)缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)于(yu)(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)平面投(tou)影和(he)(he)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)透(tou)過量。由此可(ke)(ke)見,一般情況下,射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是(shi)不易(yi)發(fa)現裂紋的(de)(de)(de),或者說,射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對(dui)裂紋是(shi)不敏感的(de)(de)(de)。因(yin)此,射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對(dui)氣孔、夾(jia)渣、未焊透(tou)等體積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)最敏感。即射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)適宜用于(yu)(yu)體積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang),而不適宜面積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們(men)的(de)(de)(de)(de)耳朵能直接(jie)接(jie)收到的(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)范圍(wei)通常(chang)(chang)是20Hz到20kHz,即(ji)音(yin)(聲(sheng)(sheng))頻(pin)。頻(pin)率(lv)低于(yu)(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)稱為次聲(sheng)(sheng)波(bo),高(gao)于(yu)(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)稱為超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)。工業上常(chang)(chang)用(yong)(yong)數兆赫茲超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)來探(tan)(tan)傷。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)頻(pin)率(lv)高(gao),則(ze)(ze)傳播的(de)(de)(de)(de)直線性強,又易于(yu)(yu)在固體中傳播,并(bing)(bing)且遇到兩種不同介(jie)質形成的(de)(de)(de)(de)界(jie)面時(shi)易于(yu)(yu)反(fan)射(she)(she),這(zhe)樣就可以用(yong)(yong)它(ta)來探(tan)(tan)傷。通常(chang)(chang)用(yong)(yong)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)(tan)頭與待探(tan)(tan)工件(jian)表面良好的(de)(de)(de)(de)接(jie)觸,探(tan)(tan)頭則(ze)(ze)可有效地向工件(jian)發射(she)(she)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo),并(bing)(bing)能接(jie)收(缺(que)(que)陷)界(jie)面反(fan)射(she)(she)來的(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo),同時(shi)轉換成電信號,再傳輸(shu)給(gei)儀器(qi)進(jin)行(xing)處理。根據(ju)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)在介(jie)質中傳播的(de)(de)(de)(de)速度(常(chang)(chang)稱聲(sheng)(sheng)速)和傳播的(de)(de)(de)(de)時(shi)間,就可知(zhi)(zhi)道缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)位(wei)置。當缺(que)(que)陷越大(da)(da),反(fan)射(she)(she)面則(ze)(ze)越大(da)(da),其(qi)反(fan)射(she)(she)的(de)(de)(de)(de)能量也就越大(da)(da),故可根據(ju)反(fan)射(she)(she)能量的(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小來查知(zhi)(zhi)各(ge)缺(que)(que)陷(當量)的(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小。常(chang)(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷波(bo)形有縱(zong)波(bo)、橫波(bo)、表面波(bo)等,前二者適用(yong)(yong)于(yu)(yu)探(tan)(tan)測內(nei)部缺(que)(que)陷,后者適宜于(yu)(yu)探(tan)(tan)測表面缺(que)(que)陷,但對表面的(de)(de)(de)(de)條件(jian)要(yao)求(qiu)高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷是建立在漏磁(ci)(ci)(ci)原理基礎上的一種磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷方法。當磁(ci)(ci)(ci)力(li)線穿過(guo)鐵磁(ci)(ci)(ci)材料及(ji)其(qi)制品時(shi)(shi),在其(qi)(磁(ci)(ci)(ci)性(xing))不連續(xu)處將產(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)場,形成(cheng)磁(ci)(ci)(ci)極(ji)(ji)。此(ci)時(shi)(shi)撒上干磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)或澆上磁(ci)(ci)(ci)懸液,磁(ci)(ci)(ci)極(ji)(ji)就會吸附磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen),產(chan)生用(yong)(yong)肉(rou)眼能(neng)直接(jie)觀察(cha)的明顯磁(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci),可借(jie)助于該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯示(shi)鐵磁(ci)(ci)(ci)材料及(ji)其(qi)制品的缺(que)陷(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷法可探(tan)(tan)測(ce)(ce)露出(chu)表面,用(yong)(yong)肉(rou)眼或借(jie)助于放大鏡也(ye)不能(neng)直接(jie)觀察(cha)到(dao)的微小缺(que)陷(xian),也(ye)可探(tan)(tan)測(ce)(ce)未露出(chu)表面,而是埋(mai)藏在表面下(xia)幾毫(hao)米的近(jin)表面缺(que)陷(xian)。用(yong)(yong)這(zhe)種方法雖然也(ye)能(neng)探(tan)(tan)查氣孔(kong)、夾雜、未焊透等體積(ji)型缺(que)陷(xian),但對面積(ji)型缺(que)陷(xian)更靈敏,更適于檢查因淬火(huo)、軋(ya)制、鍛造、鑄造、焊接(jie)、電鍍、磨削、疲勞等引起的裂(lie)紋。
磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷中對缺(que)(que)(que)陷的(de)(de)(de)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)方法有多(duo)種,有用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de),也有不(bu)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)。用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)稱為(wei)(wei)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷,因(yin)它顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)直觀、操作(zuo)簡單、人們(men)樂于(yu)使用(yong)(yong)(yong),故它是最常用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)方法之一。不(bu)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de),習(xi)慣上稱為(wei)(wei)漏磁(ci)(ci)探(tan)(tan)傷,它常借(jie)助(zhu)于(yu)感應線圈(quan)、磁(ci)(ci)敏管、霍爾元件等來(lai)反映缺(que)(que)(que)陷,它比(bi)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷更衛生,但不(bu)如前者直觀。由于(yu)磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷主(zhu)要用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)缺(que)(que)(que)陷,因(yin)此,人們(men)有時把磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷直接稱為(wei)(wei)磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷,其設備稱為(wei)(wei)磁(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷設備。
4、渦流探傷方法
渦(wo)(wo)流(liu)(liu)探(tan)傷(shang)(shang)是由交(jiao)流(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)產生的(de)(de)(de)交(jiao)變磁場(chang)作(zuo)用(yong)于(yu)待探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)導電(dian)材料,感應出(chu)(chu)電(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)。如果材料中(zhong)有(you)缺陷(xian),它將干(gan)擾所(suo)產生的(de)(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu),即(ji)形(xing)成干(gan)擾信號(hao)。用(yong)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)探(tan)傷(shang)(shang)儀檢測(ce)出(chu)(chu)其干(gan)擾信號(hao),就可知道缺陷(xian)的(de)(de)(de)狀況。影(ying)響渦(wo)(wo)流(liu)(liu)的(de)(de)(de)因素很(hen)多,即(ji)是說渦(wo)(wo)流(liu)(liu)中(zhong)載有(you)豐富的(de)(de)(de)信號(hao),這些(xie)信號(hao)與材料的(de)(de)(de)很(hen)多因素有(you)關,如何將其中(zhong)有(you)用(yong)的(de)(de)(de)信號(hao)從諸多的(de)(de)(de)信號(hao)中(zhong)一一分離出(chu)(chu)來(lai),是渦(wo)(wo)流(liu)(liu)研究工作(zuo)者(zhe)的(de)(de)(de)難(nan)題,多年來(lai)已經取得了一些(xie)進(jin)展,在一定(ding)條件(jian)下可解決(jue)一些(xie)問題,但還(huan)遠不能滿足(zu)現場(chang)的(de)(de)(de)要求,有(you)待于(yu)大力發展。
渦(wo)流探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)顯(xian)著(zhu)特點(dian)是(shi)對導電(dian)材(cai)料(liao)就能起作用(yong),而不(bu)一定是(shi)鐵磁材(cai)料(liao),但對鐵磁材(cai)料(liao)的(de)(de)(de)效果較差。其次(ci),待探(tan)工件表面的(de)(de)(de)光潔度(du)(du)、平整度(du)(du)、邊介等(deng)(deng)對渦(wo)流探(tan)傷(shang)都有較大影響,因此常(chang)將渦(wo)流探(tan)傷(shang)用(yong)于(yu)形狀較規則、表面較光潔的(de)(de)(de)銅管(guan)等(deng)(deng)非鐵磁性工件探(tan)傷(shang)。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)(shen)透探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)(yong)毛細現象(xiang)來進行探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。對于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)光(guang)(guang)滑而清(qing)潔的(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部(bu)(bu)件(jian),用(yong)(yong)一種(zhong)帶(dai)色(se)(常(chang)為(wei)紅色(se))或(huo)帶(dai)有熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)透性很(hen)強(qiang)(qiang)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體,涂覆于(yu)待探(tan)(tan)(tan)零(ling)部(bu)(bu)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)。若表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)有肉眼(yan)不能直接(jie)察知(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)微(wei)裂紋(wen)(wen),由于(yu)該(gai)液(ye)體的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透性很(hen)強(qiang)(qiang),它將(jiang)(jiang)沿(yan)著(zhu)裂紋(wen)(wen)滲(shen)(shen)(shen)透到其(qi)(qi)根部(bu)(bu)。然后將(jiang)(jiang)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透液(ye)洗去,再涂上對比度較大的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)液(ye)(常(chang)為(wei)白色(se))。放置片刻后,由于(yu)裂紋(wen)(wen)很(hen)窄,毛細現象(xiang)作(zuo)用(yong)(yong)顯(xian)著(zhu),原(yuan)滲(shen)(shen)(shen)透到裂紋(wen)(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透液(ye)將(jiang)(jiang)上升到表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)并擴散,在(zai)白色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)襯底上顯(xian)出(chu)(chu)較粗的(de)(de)(de)(de)(de)紅線(xian),從而顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂紋(wen)(wen)露于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形狀,因此,常(chang)稱為(wei)著(zhu)色(se)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。若滲(shen)(shen)(shen)透液(ye)采(cai)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是帶(dai)熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體,由毛細現象(xiang)上升到表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體,則會在(zai)紫外燈(deng)照射下發出(chu)(chu)熒光(guang)(guang),從而更(geng)能顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂紋(wen)(wen)露于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形狀,故常(chang)常(chang)又將(jiang)(jiang)此時的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)直接(jie)稱為(wei)熒光(guang)(guang)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。此探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)方(fang)法(fa)也可用(yong)(yong)于(yu)金屬(shu)和(he)非金屬(shu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。其(qi)(qi)使(shi)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)液(ye)劑有較大氣味,常(chang)有一定毒性。
探傷儀除以上五大常規方法外,近年來又有了紅外、聲發射等一(yi)些新(xin)的探傷(shang)方法。