一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實(shi)際上是(shi)一樣的(de)，是(shi)兩種不同的(de)稱呼而已，如果非要(yao)說(shuo)有什(shen)么區別的(de)話(hua)，那就(jiu)是(shi)覆層測厚儀(yi)是(shi)新(xin)研發的(de)新(xin)產品，與之前涂(tu)層測厚儀(yi)相比有以下主要(yao)優點：

1、測(ce)量速度快：測(ce)量速度比普通涂層(ceng)測(ce)厚儀快6倍。

2、精度高：產品校準后精度即可達到1-2%，比普通的涂(tu)層(ceng)測厚儀精度更(geng)高。

3、穩(wen)定性(xing)(xing)：測量值的穩(wen)定性(xing)(xing)和使(shi)用穩(wen)定性(xing)(xing)優于涂層測厚儀。

4、功能(neng)、數據、操(cao)作、顯示全部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚儀和超聲波(bo)測厚儀相比，雖然都(dou)(dou)是測厚儀，但在以下幾個方面都(dou)(dou)存在區別：

1、測量范圍不同

作為無損(sun)檢測(ce)(ce)儀(yi)(yi)器，超(chao)聲(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)和(he)涂層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)都有(you)卡尺和(he)千(qian)分尺等測(ce)(ce)量儀(yi)(yi)器達不(bu)到的優(you)勢(shi)，但(dan)是兩者在測(ce)(ce)量范圍上還(huan)是有(you)區(qu)別的，涂層(ceng)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)主要用來(lai)表面覆層(ceng)，而(er)超(chao)聲(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)側重于壁厚(hou)和(he)板(ban)厚(hou)的基材測(ce)(ce)量。

超聲波測厚儀(yi)的具體(ti)測量范圍：超聲波測厚儀(yi)可以測量金屬材(cai)質、管(guan)道、壓力容器、板材(cai)（鋼板、鋁(lv)板）、塑料、鐵(tie)管(guan)、PVC管(guan)、玻璃等(deng)其他特殊(shu)材(cai)料的厚度；也可以測量工件表面油(you)漆層等(deng)帶(dai)涂層的材(cai)料。

涂層測(ce)厚(hou)儀的(de)具體(ti)測(ce)量范圍：主(zhu)要用(yong)于測(ce)量金屬上的(de)涂層，防腐層，電鍍層，塑(su)料，油(you)漆，塑(su)膠，陶瓷，琺瑯等覆蓋層的(de)厚(hou)度(du)，也可以擴展(zhan)應用(yong)到對紙張，薄(bo)膜(mo)，板材等的(de)厚(hou)度(du)進行間接測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點測量(liang)法(fa)：在被(bei)測體上任一點，利用探頭進行(xing)測量(liang)，顯示(shi)值(zhi)即為厚度值(zhi)。

②兩(liang)點測(ce)量法：在被測(ce)體的同一點用(yong)探(tan)頭(tou)進行(xing)兩(liang)次(ci)測(ce)量，在第二次(ci)測(ce)量中，探(tan)頭(tou)的分割面成(cheng) 90°，取兩(liang)次(ci)測(ce)量中的較小值(zhi)(zhi)為厚度(du)值(zhi)(zhi)。

③多點測量(liang)法(fa)：當測量(liang)值不穩(wen)定(ding)時，以一個測定(ding)點為中心，在直徑約為 30mm 的(de)圓內進行多次測量(liang)，取最小值為厚度值。

④連(lian)續測(ce)量法(fa)：用單點測(ce)量法(fa)，沿指定線路(lu)連(lian)續測(ce)量，其間隔不小于 5mm，取(qu)其中最小值(zhi)為厚(hou)度值(zhi)。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁性法(fa)：主要用于鐵基(ji)涂層，當測(ce)(ce)量頭與覆(fu)(fu)蓋(gai)層接觸時，測(ce)(ce)量頭和磁性金屬基(ji)體構成一閉合磁路，由于非磁性覆(fu)(fu)蓋(gai)層的存在，使磁路磁阻變化(hua)，通過測(ce)(ce)量其(qi)變化(hua)可導出覆(fu)(fu)蓋(gai)層的厚(hou)度(du)。

②渦流法：主(zhu)要用(yong)于非鐵基涂層，用(yong)利用(yong)高頻交變(bian)電(dian)(dian)流在線圈中產(chan)生一個電(dian)(dian)磁場(chang)，當測(ce)量頭與覆蓋(gai)層接(jie)觸(chu)時，金屬基體上產(chan)生電(dian)(dian)渦流，并對測(ce)量頭中的(de)線圈產(chan)生反(fan)饋(kui)作(zuo)(zuo)用(yong)，通(tong)過測(ce)量反(fan)饋(kui)作(zuo)(zuo)用(yong)的(de)大(da)小(xiao)可導出覆蓋(gai)層的(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量精度是(shi)：0-1250um（標配(pei)F1/N1探頭）00-10000um（選配(pei)F10/N10探頭）。