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覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪 涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

本文章由注冊用戶 荊湖酒徒 上傳提供 2024-07-18 評論 0
摘要:覆層測厚儀又叫涂層測厚儀,二者實際上是都是測量材料表面覆蓋圖層厚度的儀器,并沒有什么太大區別,不過和超聲波測厚儀相比,區別還是比較大的,主要在測量范圍、測量方法和測量精度等方面有所不同。下面一起來文章中詳細了解一下覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪以及涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別吧。

一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器,它和涂層測厚儀實際上是一樣的(de),是兩種不同的(de)稱呼而已,如果(guo)非要說有(you)什(shen)么區別(bie)的(de)話,那就是覆層(ceng)測厚儀是新研(yan)發的(de)新產品,與之(zhi)前涂層(ceng)測厚儀相(xiang)比有(you)以下主要優點:

1、測量速度快:測量速度比普通(tong)涂層測厚儀快6倍。

2、精度高(gao):產品校準后精度即可達到(dao)1-2%,比普通的涂(tu)層(ceng)測厚(hou)儀精度更高(gao)。

3、穩(wen)定(ding)性:測(ce)量(liang)值的(de)穩(wen)定(ding)性和(he)使用穩(wen)定(ding)性優(you)于涂層測(ce)厚儀(yi)。

4、功能、數據、操(cao)作、顯示全部(bu)是中文(wen)。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚儀和超聲波測厚儀相比(bi),雖然(ran)都是測厚儀,但在(zai)以下幾個方(fang)面都存在(zai)區別:

1、測量范圍不同

作為無損檢(jian)測儀(yi)(yi)器(qi),超聲(sheng)波(bo)測厚(hou)儀(yi)(yi)和(he)(he)涂層測厚(hou)儀(yi)(yi)都有卡(ka)尺和(he)(he)千(qian)分尺等測量(liang)(liang)儀(yi)(yi)器(qi)達不到的(de)優勢,但是兩者在測量(liang)(liang)范圍(wei)上還(huan)是有區別的(de),涂層測厚(hou)儀(yi)(yi)主要用來表面覆層,而超聲(sheng)波(bo)測厚(hou)儀(yi)(yi)側重(zhong)于壁厚(hou)和(he)(he)板厚(hou)的(de)基材測量(liang)(liang)。

超聲(sheng)波(bo)測厚(hou)儀的(de)具體測量(liang)(liang)范圍:超聲(sheng)波(bo)測厚(hou)儀可以測量(liang)(liang)金屬材(cai)(cai)質、管道、壓力(li)容(rong)器、板材(cai)(cai)(鋼板、鋁(lv)板)、塑(su)料(liao)(liao)、鐵管、PVC管、玻璃等(deng)(deng)其他特殊(shu)材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)厚(hou)度;也可以測量(liang)(liang)工件(jian)表面油漆層等(deng)(deng)帶涂層的(de)材(cai)(cai)料(liao)(liao)。

涂(tu)層(ceng)(ceng)測厚儀的(de)具體測量范圍:主要用于測量金屬(shu)上的(de)涂(tu)層(ceng)(ceng),防腐層(ceng)(ceng),電鍍(du)層(ceng)(ceng),塑料,油漆,塑膠(jiao),陶(tao)瓷(ci),琺(fa)瑯等(deng)覆蓋層(ceng)(ceng)的(de)厚度,也(ye)可以擴展(zhan)應用到對紙張,薄膜,板材等(deng)的(de)厚度進行間接測量。

2、測量方法不同

(1)超聲波測厚儀的測量方法

①單點測量法:在(zai)被測體(ti)上任(ren)一(yi)點,利用探頭進行測量,顯示值即為厚度值。

②兩(liang)點測(ce)量(liang)法(fa):在被測(ce)體的(de)同一點用探(tan)頭(tou)進行兩(liang)次測(ce)量(liang),在第二次測(ce)量(liang)中(zhong),探(tan)頭(tou)的(de)分割面(mian)成 90°,取兩(liang)次測(ce)量(liang)中(zhong)的(de)較小值為厚度值。

③多點(dian)測量(liang)法:當測量(liang)值不穩定(ding)(ding)時,以一個測定(ding)(ding)點(dian)為中心,在直徑(jing)約為 30mm 的圓內(nei)進行多次測量(liang),取最(zui)小值為厚度(du)值。

④連續測(ce)(ce)量法(fa):用單點測(ce)(ce)量法(fa),沿(yan)指定線路連續測(ce)(ce)量,其間隔不(bu)小于 5mm,取其中最小值為厚度(du)值。

(2)涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)(ci)性法:主(zhu)要用于(yu)鐵基涂(tu)層(ceng)(ceng),當(dang)測量(liang)(liang)頭與覆蓋層(ceng)(ceng)接觸時,測量(liang)(liang)頭和磁(ci)(ci)性金屬(shu)基體構成一閉(bi)合磁(ci)(ci)路,由于(yu)非磁(ci)(ci)性覆蓋層(ceng)(ceng)的(de)存在,使磁(ci)(ci)路磁(ci)(ci)阻(zu)變化,通過(guo)測量(liang)(liang)其變化可導出覆蓋層(ceng)(ceng)的(de)厚度。

②渦流(liu)法:主要用于非(fei)鐵基涂層(ceng)(ceng),用利用高頻交變電(dian)(dian)流(liu)在(zai)線圈中產生一個電(dian)(dian)磁場,當測量(liang)頭與覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)接觸時,金屬基體上產生電(dian)(dian)渦流(liu),并對測量(liang)頭中的(de)線圈產生反饋作用,通過測量(liang)反饋作用的(de)大小可導(dao)出覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)的(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm;涂層測厚儀的測量精度是:0-1250um(標配F1/N1探(tan)頭)00-10000um(選配F10/N10探(tan)頭)。

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