一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種(zhong)測(ce)量鍍(du)層等金屬薄膜的(de)厚度的(de)儀器，主要用于測(ce)量鋼、鐵(tie)等鐵(tie)磁(ci)質金屬基體上的(de)非鐵(tie)磁(ci)性涂層、鍍(du)層，其具有以下特(te)點(dian)：

1、精度高(gao)：鍍(du)(du)層測厚儀的(de)(de)測量精度通常在±0.1μm范圍內，可(ke)以滿(man)足大多數表面鍍(du)(du)層或涂(tu)層的(de)(de)測量需求。

2、快速測(ce)量(liang)：鍍(du)層測(ce)厚儀可以在短時(shi)間內(nei)快速測(ce)量(liang)大范(fan)圍的表面，提(ti)高生產(chan)效率。

3、無損(sun)檢測(ce)：鍍層(ceng)測(ce)厚儀不會對被測(ce)物體表面造成損(sun)傷，可以用于生產過程中的質(zhi)量控制和檢測(ce)。

4、操作簡單：鍍(du)層測厚儀(yi)操作簡單，易于(yu)掌握(wo)，適合(he)于(yu)不同領域的(de)用戶使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀一般由三部分組成：

1、傳感器：傳感器部(bu)分負責與(yu)物體表(biao)面接(jie)觸，并采集鍍(du)層(ceng)或(huo)(huo)涂層(ceng)的電阻值、電導率或(huo)(huo)磁場強度等參(can)數。

2、測(ce)量(liang)電(dian)路：測(ce)量(liang)電(dian)路部分將傳感(gan)器(qi)采集的(de)信號進(jin)行處理，計算出鍍層或涂層的(de)厚度。

3、顯(xian)示單(dan)元(yuan)：計(ji)算(suan)出(chu)的厚度將顯(xian)示在(zai)顯(xian)示單(dan)元(yuan)上(shang)。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍(du)(du)層測(ce)厚儀用(yong)于測(ce)量鍍(du)(du)層厚度，主(zhu)要有三種(zhong)原(yuan)理：

1、磁吸型

永久磁鐵（測(ce)頭）與(yu)導(dao)磁鋼材(cai)之(zhi)間的(de)吸力(li)大(da)小與(yu)處于這兩者(zhe)之(zhi)間的(de)距離成(cheng)一定比例關系(xi)，這個(ge)距離就是覆層的(de)厚度。利用這一原理制成(cheng)測(ce)厚儀，只(zhi)要覆層與(yu)基材(cai)的(de)導(dao)磁率之(zhi)差足(zu)夠大(da)，就可(ke)進(jin)行測(ce)量。

這種測厚(hou)儀基本結構由磁鋼，接力簧，標尺及(ji)自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其(qi)后逐(zhu)漸拉(la)長，拉(la)力逐(zhu)漸增大。當拉(la)力剛好(hao)大于吸力，磁鋼脫離的(de)(de)一(yi)瞬(shun)間記錄下(xia)拉(la)力的(de)(de)大小即可獲得覆層厚(hou)度。

2、磁感應型

采用磁(ci)(ci)感應原理時，利(li)用從測頭(tou)經(jing)過非鐵(tie)磁(ci)(ci)覆層(ceng)而流入鐵(tie)磁(ci)(ci)基體的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通的(de)(de)(de)大小，來測定(ding)覆層(ceng)厚(hou)度(du)。也可以測定(ding)與之對應的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)阻的(de)(de)(de)大小，來表示其(qi)覆層(ceng)厚(hou)度(du)。覆層(ceng)越厚(hou)，則磁(ci)(ci)阻越大，磁(ci)(ci)通越小。

利(li)用磁感(gan)應原理的(de)測厚儀，原則上可以有導(dao)(dao)磁基體上的(de)非導(dao)(dao)磁覆(fu)層厚度，一般要(yao)求(qiu)基材導(dao)(dao)磁率在(zai)500以上，如(ru)果覆(fu)層材料(liao)也有磁性，則要(yao)求(qiu)與基材的(de)導(dao)(dao)磁率之(zhi)差足夠大（如(ru)鋼上鍍鎳(nie)）。

3、電渦流型

高(gao)頻(pin)交流(liu)信號在(zai)測(ce)頭(tou)(tou)線圈(quan)中產生電(dian)(dian)(dian)磁場，測(ce)頭(tou)(tou)靠近導(dao)(dao)體(ti)(ti)時，就在(zai)其中形(xing)成渦流(liu)。測(ce)頭(tou)(tou)離(li)導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)體(ti)(ti)愈近，則渦流(liu)愈大，反射(she)阻抗也(ye)愈大。這個(ge)反饋(kui)作用量(liang)表征了測(ce)頭(tou)(tou)與導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)體(ti)(ti)之間距離(li)的大小，也(ye)就是導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)體(ti)(ti)上非導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)覆層厚度的大小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所(suo)有(you)導(dao)(dao)電體上的(de)(de)非導(dao)(dao)電體覆(fu)層均可測(ce)量(liang)，如航天(tian)航空(kong)器表(biao)面、車輛、家電、鋁合(he)金門窗及其它(ta)鋁制品表(biao)面的(de)(de)漆，塑料(liao)涂(tu)層及陽極氧化(hua)膜。覆(fu)層材料(liao)有(you)一定的(de)(de)導(dao)(dao)電性，通過校準同樣也可測(ce)量(liang)，但要求(qiu)兩(liang)者的(de)(de)導(dao)(dao)電率之(zhi)比至少相差3-5倍(bei)（如銅上鍍鉻(ge)）。