一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一(yi)種測量鍍(du)層等金(jin)屬(shu)薄(bo)膜的(de)厚度的(de)儀(yi)器，主要用于測量鋼、鐵(tie)等鐵(tie)磁(ci)質金(jin)屬(shu)基體上的(de)非(fei)鐵(tie)磁(ci)性涂(tu)層、鍍(du)層，其具有以下特點：

1、精度高：鍍層(ceng)測(ce)(ce)厚儀(yi)的測(ce)(ce)量精度通(tong)常(chang)在±0.1μm范圍內，可以(yi)滿(man)足大多數表面鍍層(ceng)或(huo)涂(tu)層(ceng)的測(ce)(ce)量需求。

2、快(kuai)(kuai)速測量：鍍層測厚儀可以在(zai)短時(shi)間(jian)內(nei)快(kuai)(kuai)速測量大范圍的(de)表面，提(ti)高生產(chan)效(xiao)率。

3、無損檢(jian)測(ce)(ce)：鍍(du)層測(ce)(ce)厚(hou)儀不會對被(bei)測(ce)(ce)物體(ti)表(biao)面(mian)造成損傷，可以用于生產過程(cheng)中(zhong)的質量控制和檢(jian)測(ce)(ce)。

4、操(cao)作(zuo)簡單(dan)：鍍層測厚(hou)儀操(cao)作(zuo)簡單(dan)，易于掌握，適(shi)合(he)于不同(tong)領域的用(yong)戶使(shi)用(yong)。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀(yi)一般由三部分組成：

1、傳感器：傳感器部分負責與物體(ti)表面接觸，并(bing)采集鍍層或(huo)涂層的(de)電(dian)阻值、電(dian)導率或(huo)磁場強度等參數。

2、測量(liang)電路：測量(liang)電路部分將傳感器采集的信號進行(xing)處理，計算出鍍層或涂層的厚度。

3、顯示(shi)單(dan)元：計算出(chu)的厚度將顯示(shi)在顯示(shi)單(dan)元上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍(du)(du)層測(ce)厚(hou)儀用于(yu)測(ce)量鍍(du)(du)層厚(hou)度，主要有三種原理(li)：

1、磁吸型

永久磁(ci)鐵（測頭）與(yu)導(dao)磁(ci)鋼材之間的吸(xi)力大小與(yu)處(chu)于這(zhe)兩者之間的距離(li)成一定比例關系，這(zhe)個距離(li)就是覆層(ceng)(ceng)的厚度。利用這(zhe)一原理制成測厚儀，只要覆層(ceng)(ceng)與(yu)基材的導(dao)磁(ci)率之差足夠大，就可(ke)進行測量。

這(zhe)種(zhong)測(ce)(ce)厚(hou)儀基本結構由(you)磁鋼，接(jie)力(li)(li)簧(huang)，標尺及自(zi)停機構組成。磁鋼與被測(ce)(ce)物吸合(he)后，將測(ce)(ce)量簧(huang)在其后逐漸拉(la)長(chang)，拉(la)力(li)(li)逐漸增大(da)。當拉(la)力(li)(li)剛好大(da)于吸力(li)(li)，磁鋼脫(tuo)離的(de)(de)一瞬間記錄下拉(la)力(li)(li)的(de)(de)大(da)小即可(ke)獲得覆層厚(hou)度。

2、磁感應型

采用磁感應原理(li)時，利用從測(ce)頭經過非鐵(tie)磁覆層(ceng)(ceng)而流入鐵(tie)磁基體的(de)磁通(tong)的(de)大小(xiao)，來測(ce)定覆層(ceng)(ceng)厚度(du)。也可以測(ce)定與之(zhi)對應的(de)磁阻(zu)(zu)的(de)大小(xiao)，來表(biao)示(shi)其覆層(ceng)(ceng)厚度(du)。覆層(ceng)(ceng)越(yue)厚，則磁阻(zu)(zu)越(yue)大，磁通(tong)越(yue)小(xiao)。

利用磁(ci)感應原理的(de)測厚儀，原則上可(ke)以有(you)導(dao)(dao)磁(ci)基體上的(de)非導(dao)(dao)磁(ci)覆(fu)層厚度(du)，一般要求(qiu)(qiu)基材導(dao)(dao)磁(ci)率在500以上，如(ru)果覆(fu)層材料也(ye)有(you)磁(ci)性，則要求(qiu)(qiu)與(yu)基材的(de)導(dao)(dao)磁(ci)率之差足夠大(da)（如(ru)鋼上鍍(du)鎳）。

3、電渦流型

高頻交流信號在(zai)測(ce)頭線圈中(zhong)產生電(dian)(dian)(dian)磁場(chang)，測(ce)頭靠近(jin)導(dao)(dao)體時(shi)，就(jiu)在(zai)其中(zhong)形成渦流。測(ce)頭離導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)基體愈(yu)近(jin)，則渦流愈(yu)大，反(fan)射阻抗也愈(yu)大。這個反(fan)饋作用量表征了測(ce)頭與導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)基體之間距離的大小，也就(jiu)是導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)基體上(shang)非(fei)導(dao)(dao)電(dian)(dian)(dian)覆層厚度的大小。

采用電渦流原理的測厚儀，原(yuan)則上(shang)對所有導(dao)(dao)電(dian)體上(shang)的非導(dao)(dao)電(dian)體覆(fu)層均可測量，如(ru)(ru)航(hang)天航(hang)空器表面、車輛、家電(dian)、鋁(lv)合(he)金門窗及(ji)其(qi)它鋁(lv)制品(pin)表面的漆，塑(su)料涂層及(ji)陽極氧化膜。覆(fu)層材(cai)料有一定的導(dao)(dao)電(dian)性(xing)，通過校(xiao)準同樣(yang)也可測量，但(dan)要求兩者(zhe)的導(dao)(dao)電(dian)率之(zhi)比(bi)至(zhi)少相差3-5倍（如(ru)(ru)銅上(shang)鍍鉻）。