一、磁性測厚儀和渦流測厚儀的區別是什么

1、什么是磁性測厚儀

磁(ci)(ci)(ci)性(xing)測厚(hou)(hou)儀在測定各種導磁(ci)(ci)(ci)材料的(de)磁(ci)(ci)(ci)阻(zu)時，測定值會因其(qi)表(biao)面非導磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)蓋層(ceng)厚(hou)(hou)度的(de)不同而發生(sheng)變化(hua)。利用這種變化(hua)即可測知(zhi)覆(fu)蓋層(ceng)厚(hou)(hou)度值。常(chang)用于測定鐵磁(ci)(ci)(ci)金屬表(biao)面上的(de)噴(pen)鋁層(ceng)、塑料層(ceng)、電(dian)鍍層(ceng)、磷(lin)化(hua)層(ceng)、油漆層(ceng)等的(de)厚(hou)(hou)度。

2、什么是渦流測厚儀

渦流(liu)測厚(hou)儀也是測厚(hou)儀的(de)(de)(de)(de)一種，當載有高頻(pin)電流(liu)的(de)(de)(de)(de)探(tan)頭(tou)線(xian)圈置于(yu)被(bei)測金(jin)屬(shu)表(biao)面時，由于(yu)高頻(pin)磁場的(de)(de)(de)(de)作用(yong)而(er)(er)使金(jin)屬(shu)體(ti)內產(chan)生渦流(liu)，此(ci)渦流(liu)產(chan)生的(de)(de)(de)(de)磁場又反作用(yong)于(yu)探(tan)頭(tou)線(xian)圈，使其阻抗(kang)發生變(bian)化(hua)，此(ci)變(bian)化(hua)量(liang)與(yu)探(tan)頭(tou)線(xian)圈離(li)(li)金(jin)屬(shu)表(biao)面的(de)(de)(de)(de)距離(li)(li)（即覆(fu)蓋層的(de)(de)(de)(de)厚(hou)度(du)(du)）有關(guan)，因而(er)(er)根據探(tan)頭(tou)線(xian)圈阻抗(kang)的(de)(de)(de)(de)變(bian)化(hua)可間接測量(liang)金(jin)屬(shu)表(biao)面覆(fu)蓋層的(de)(de)(de)(de)厚(hou)度(du)(du)。常用(yong)于(yu)測定鋁材(cai)上的(de)(de)(de)(de)氧(yang)化(hua)膜或鋁、銅(tong)表(biao)面上其他(ta)絕緣覆(fu)蓋層的(de)(de)(de)(de)厚(hou)度(du)(du)。

3、渦流測厚儀和磁性測厚儀的區別

磁(ci)性測(ce)厚(hou)儀和渦(wo)流(liu)測(ce)厚(hou)儀都可(ke)以用(yong)來測(ce)量(liang)涂層厚(hou)度，二者的主(zhu)要(yao)區別就(jiu)是測(ce)量(liang)原(yuan)理不(bu)同：

（1）磁性測厚儀原理

磁(ci)(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)采用磁(ci)(ci)性(xing)法對(dui)覆層(ceng)實(shi)行測(ce)厚(hou)，磁(ci)(ci)性(xing)法原理分為(wei)兩種，因而磁(ci)(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)也分為(wei)了磁(ci)(ci)吸力涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)和磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)涂(tu)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)。

磁(ci)(ci)(ci)吸(xi)(xi)(xi)力(li)涂層測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)可以(yi)經過測(ce)頭內的(de)(de)永恒磁(ci)(ci)(ci)鐵與(yu)磁(ci)(ci)(ci)性(xing)金屬(shu)基材之間磁(ci)(ci)(ci)吸(xi)(xi)(xi)力(li)大小來判(pan)別涂層的(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)，這種(zhong)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)由(you)竭力(li)簧，磁(ci)(ci)(ci)鋼，標(biao)尺以(yi)及自停機構等個別組成，被(bei)(bei)測(ce)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)性(xing)金屬(shu)基材與(yu)磁(ci)(ci)(ci)鋼吸(xi)(xi)(xi)合后(hou)，接力(li)彈簧被(bei)(bei)逐步拉長，當拉力(li)逐步增大到剛好大于吸(xi)(xi)(xi)力(li)時，磁(ci)(ci)(ci)鋼會(hui)脫離磁(ci)(ci)(ci)性(xing)金屬(shu)基材，脫離的(de)(de)霎(sha)時拉力(li)的(de)(de)大小就(jiu)可以(yi)被(bei)(bei)記載下(xia)，再經過一定的(de)(de)比例關(guan)系就(jiu)可以(yi)測(ce)量出覆層的(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)。

磁(ci)(ci)感應涂層測(ce)(ce)(ce)厚儀則是利用(yong)了磁(ci)(ci)感應原理(li)，可以(yi)經過測(ce)(ce)(ce)量測(ce)(ce)(ce)頭(tou)內長久磁(ci)(ci)鐵通(tong)過非(fei)鐵磁(ci)(ci)性(xing)的涂層流(liu)入(ru)磁(ci)(ci)性(xing)金(jin)屬基(ji)材(cai)的磁(ci)(ci)通(tong)量確定涂層的厚度，相同，涂層越厚，磁(ci)(ci)通(tong)量越小，當獲得(de)一定的比例(li)關系(xi)后可以(yi)計算出(chu)涂層的厚度。

（2）渦流測厚儀原理

渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)測(ce)厚儀采用了電(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)原理(li)，在測(ce)頭(tou)內的(de)線圈鐵(tie)芯通電(dian)后可(ke)以(yi)發生高(gao)頻磁場(chang)，經(jing)過測(ce)頭(tou)與(yu)(yu)(yu)被測(ce)涂(tu)層的(de)金屬基(ji)材(cai)接觸(chu)發生的(de)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)大(da)(da)小(xiao)(xiao)來反(fan)映測(ce)頭(tou)與(yu)(yu)(yu)基(ji)材(cai)之間(jian)的(de)間(jian)隔大(da)(da)小(xiao)(xiao)，測(ce)頭(tou)離金屬基(ji)材(cai)越近，渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)越大(da)(da)，越遠則渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)越小(xiao)(xiao)，基(ji)于這樣的(de)原理(li)可(ke)以(yi)找出(chu)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)大(da)(da)小(xiao)(xiao)與(yu)(yu)(yu)間(jian)隔大(da)(da)小(xiao)(xiao)之間(jian)的(de)比例關系，從而求出(chu)間(jian)隔大(da)(da)小(xiao)(xiao)，也就(jiu)是(shi)涂(tu)層的(de)厚度。

二、渦流測厚儀和磁性測厚儀哪個好

磁性測(ce)厚儀和渦流測(ce)厚儀對比(bi)起(qi)來，主(zhu)要是原(yuan)理不同，二者各(ge)有各(ge)的(de)優勢和應用領(ling)域，并不能說(shuo)哪種更好，選擇時主(zhu)要是根(gen)據測(ce)量需要來選：

1、磁性測厚儀適(shi)用于(yu)測量(liang)磁性金(jin)屬(shu)基材(cai)(cai)(cai)上(shang)的非磁性覆蓋層的厚度(du)，主要應用于(yu)鋼(gang)鐵等磁性金(jin)屬(shu)基材(cai)(cai)(cai)上(shang)的釉瓷，搪瓷防(fang)護(hu)層，鎳(nie)鉻等有(you)色金(jin)屬(shu)鍍層，油(you)漆(qi)以(yi)及一些防(fang)腐涂(tu)層的厚度(du)測量(liang)等。另外還有(you)一些塑料，電(dian)容器紙，聚脂(zhi)薄膜(mo)等材(cai)(cai)(cai)料，也可以(yi)利用鋼(gang)鐵制造的基材(cai)(cai)(cai)來實現其厚度(du)測量(liang)。

2、渦流測厚儀(yi)適用于測量非磁(ci)性(xing)(xing)金屬(shu)基材上的(de)(de)非導電覆蓋層的(de)(de)厚度。主要應(ying)用一些(xie)非磁(ci)性(xing)(xing)金屬(shu)基材（比如銅，鋁，壓(ya)鑄鋅(xin)）上的(de)(de)涂料，陶瓷(ci)或(huo)者陽極氧化層的(de)(de)厚度測量。