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手動探針臺和自動的區別在哪里 手動探針臺和自動的哪個好

本文章由注冊用戶 時代工業園 上傳提供 2025-01-17 評論 0
摘要:手動探針臺是一種輔助執行機構,主要用于半導體芯片的電參數測試。測試人員將需要量測的芯片放置在探針臺載物臺上,通過X-Y移動,配合顯微鏡,找到需要探測的位置。然后,通過旋轉探針座上的X-Y-Z三向旋鈕,控制前部探針扎到被測點,使信號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數。那么手動探針臺和自動的區別在哪里以及手動探針臺和自動的哪個好呢?一起來看看吧!

一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自(zi)(zi)動探(tan)(tan)針臺可分為(wei)半自(zi)(zi)動探(tan)(tan)針臺和全自(zi)(zi)動探(tan)(tan)針,它們(men)和手動探(tan)(tan)針臺在(zai)使用類型(xing)、功能、操作方(fang)式和價(jia)格等方(fang)面都有所不同。

1、手動探針臺是(shi)一種手動控制的探針臺,通常用(yong)于沒有很多待測器件需要測量或數據需要收集的情(qing)況下。該類探針臺的優點是(shi)靈活、可變性高,易于配置(zhi)環境和轉換(huan)測試環境,并且不需要涉及額(e)外(wai)培訓(xun)和設置(zhi)時間(jian)的電子(zi)設備、PC或軟件。手動探針臺系統(tong)只(zhi)需要少(shao)量的培訓(xun),因(yin)此非常適合研(yan)發(fa)人員使用(yong)。

2、半(ban)自(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)(zhen)(zhen)臺是一(yi)種半(ban)自(zi)動(dong)(dong)控制的(de)(de)探針(zhen)(zhen)(zhen)臺,可(ke)以在沒有很多待(dai)測(ce)器件需(xu)(xu)(xu)要測(ce)量(liang)或數據需(xu)(xu)(xu)要收集的(de)(de)情況下使用。與(yu)手動(dong)(dong)探針(zhen)(zhen)(zhen)臺相比(bi),半(ban)自(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)(zhen)(zhen)臺的(de)(de)操作相對簡單,但需(xu)(xu)(xu)要使用者進行(xing)一(yi)些(xie)簡單的(de)(de)操作,如移動(dong)(dong)晶圓載(zai)物臺、調整顯(xian)微鏡焦距等。半(ban)自(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)(zhen)(zhen)臺通常需(xu)(xu)(xu)要進行(xing)一(yi)些(xie)預設(she)置,以便(bian)能夠適應不(bu)同的(de)(de)測(ce)試環境。

3、全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)(tai)是一(yi)種全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)控制(zhi)的探(tan)針臺(tai)(tai),可以(yi)在沒有很多(duo)待(dai)測(ce)器件需(xu)要(yao)測(ce)量(liang)或數據需(xu)要(yao)收集(ji)的情況下使用。相(xiang)比于半自(zi)(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)(tai),全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)(tai)具有更高的精度和效率,可以(yi)在短(duan)時間內完成大(da)量(liang)的測(ce)試操(cao)作(zuo)。全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)(tai)通常(chang)還(huan)配備有晶圓(yuan)(yuan)材料(liao)處理(li)搬運單元(MHU)、模式識別(自(zi)(zi)動(dong)對(dui)準)等功能,以(yi)確保晶圓(yuan)(yuan)上的晶粒依次與探(tan)針接(jie)觸并逐(zhu)個測(ce)試。全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)(tai)通常(chang)用于芯片(pian)量(liang)產或有一(yi)些特殊要(yao)求如處理(li)薄晶圓(yuan)(yuan)、封裝(zhuang)基板等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自動(dong)和(he)(he)全自動(dong)探(tan)(tan)針平臺提(ti)(ti)供了(le)更(geng)高(gao)程度的(de)自動(dong)化。它(ta)們(men)可以(yi)根(gen)據預設程序自動(dong)操作探(tan)(tan)針臂和(he)(he)探(tan)(tan)針,將其定位在待測(ce)(ce)物(wu)體(ti)上。用(yong)戶只需(xu)輸入(ru)指令來控(kong)制整個測(ce)(ce)試過程。這些平臺還配備了(le)圖像識(shi)別(bie)技術,能夠(gou)自動(dong)識(shi)別(bie)待測(ce)(ce)物(wu)體(ti)的(de)位置(zhi),提(ti)(ti)高(gao)測(ce)(ce)試的(de)準(zhun)確性和(he)(he)效率。與手(shou)動(dong)探(tan)(tan)針平臺相(xiang)比(bi),半自動(dong)和(he)(he)全自動(dong)探(tan)(tan)針平臺系統更(geng)加(jia)高(gao)效、便(bian)捷(jie),能夠(gou)節省大(da)量的(de)人力和(he)(he)時間成本,并(bing)提(ti)(ti)供更(geng)可靠的(de)測(ce)(ce)試結果(guo)。

但(dan)實際選擇(ze)時(shi),手動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)適(shi)合研(yan)發人(ren)員使用(yong),半自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)適(shi)合初學者使用(yong),而全自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)適(shi)合具有一定(ding)經(jing)驗的(de)(de)測試人(ren)員使用(yong)。不同類型的(de)(de)探(tan)針(zhen)臺(tai)各有優(you)缺點,選擇(ze)何種探(tan)針(zhen)臺(tai)主要取決于測試的(de)(de)需求和個人(ren)的(de)(de)技能水平。

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