評價內存條的性能指標一共有(you)四個：
(1) 存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)容(rong)量(liang)：即(ji)一(yi)(yi)(yi)根內(nei)存(cun)(cun)條可(ke)以(yi)容(rong)納(na)的(de)(de)(de)二(er)進制信息(xi)量(liang)，如常用的(de)(de)(de)168線內(nei)存(cun)(cun)條的(de)(de)(de)存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)容(rong)量(liang)一(yi)(yi)(yi)般多為(wei)32兆、64兆和(he)128兆。而(er)DDRII3普遍(bian)為(wei)1GB到8GB。 (2) 存(cun)(cun)取(qu)(qu)速度（存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)期）：即(ji)兩次獨立的(de)(de)(de)存(cun)(cun)取(qu)(qu)操作之間(jian)(jian)所需的(de)(de)(de)最短時(shi)(shi)間(jian)(jian)，又稱為(wei)存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)期，半導體存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器的(de)(de)(de)存(cun)(cun)取(qu)(qu)周(zhou)期一(yi)(yi)(yi)般為(wei)60納(na)秒至100納(na)秒。 (3) 存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器的(de)(de)(de)可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)：存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器的(de)(de)(de)可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)用平均故障(zhang)間(jian)(jian)隔時(shi)(shi)間(jian)(jian)來衡(heng)量(liang)，可(ke)以(yi)理解為(wei)兩次故障(zhang)之間(jian)(jian)的(de)(de)(de)平均時(shi)(shi)間(jian)(jian)間(jian)(jian)隔。 (4)性(xing)(xing)能(neng)價格(ge)(ge)比：性(xing)(xing)能(neng)主要包括存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器容(rong)量(liang)、存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)期和(he)可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)三項內(nei)容(rong)，性(xing)(xing)能(neng)價格(ge)(ge)比是一(yi)(yi)(yi)個綜合(he)性(xing)(xing)指標(biao)，對于不同的(de)(de)(de)存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器有(you)不同的(de)(de)(de)要求(qiu)。
