測(ce)試(shi)(shi)(shi)項目(mu)主要包(bao)括電磁(ci)兼容試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、環境試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、IC卡解鎖試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、指紋解鎖試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)、密(mi)碼邏輯安全性和電路(lu)非(fei)正常(chang)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)。

在(zai)此次(ci)試驗(yan)中，有14款智(zhi)能門(men)鎖(suo)樣品(pin)宣稱采(cai)用活體指(zhi)(zhi)紋檢(jian)測技術，對假指(zhi)(zhi)紋可(ke)以(yi)進(jin)(jin)行防護(hu)，但檢(jian)測人員使用假指(zhi)(zhi)紋進(jin)(jin)行試驗(yan)時(shi)，均被(bei)輕易解鎖(suo)。涉及標稱“固(gu)特(te)”、“金點原子”、“凱迪仕”等(deng)多個品(pin)牌的樣品(pin)。

本次(ci)試驗(yan)的(de)樣(yang)品中，有26款為IC卡(ka)解(jie)鎖(suo)。試驗(yan)結(jie)果顯示(shi)，有24款樣(yang)品的(de)IC卡(ka)可被(bei)破解(jie)、復制。

密(mi)(mi)碼(ma)設置是智能門(men)鎖的主要功能之一(yi)，此次比較試驗從虛(xu)位(wei)密(mi)(mi)碼(ma)長度(du)(du)、密(mi)(mi)碼(ma)有效(xiao)長度(du)(du)、允許輸入錯誤密(mi)(mi)碼(ma)次數和(he)鎖屏(ping)時間四個方面對樣品進行了橫向(xiang)比較。

專(zhuan)家介紹，智能門鎖的(de)密碼設(she)置存在以(yi)下問題(ti)：一(yi)是密碼長度過短，有的(de)只有四位；二是允許輸入錯誤(wu)密碼次數過多，有的(de)高達(da)20次。

專家強調，所有電子產品(pin)都需要考慮在故(gu)障條件下產品(pin)的(de)功能可(ke)靠性，單(dan)一故(gu)障不能造成核心(xin)功能的(de)喪失。

在(zai)此(ci)次試(shi)驗中(zhong)，檢測人員針(zhen)對38款智(zhi)能(neng)門(men)鎖(suo)施加了單(dan)一(yi)故障，有(you)30款智(zhi)能(neng)門(men)鎖(suo)樣品在(zai)單(dan)一(yi)故障條件(jian)下出現解鎖(suo)異常(chang)或上(shang)鎖(suo)異常(chang)的情況，只有(you)8款智(zhi)能(neng)門(men)鎖(suo)樣品在(zai)此(ci)條件(jian)下不(bu)受影響。

當檢(jian)(jian)測人(ren)員(yuan)完成(cheng)所有(you)(you)單項(xiang)檢(jian)(jian)測，對數據進行匯總分析時，發(fa)現了一(yi)(yi)個讓(rang)人(ren)擔憂(you)的(de)事實(shi)：沒(mei)有(you)(you)任(ren)何一(yi)(yi)款智(zhi)能(neng)門鎖通過所有(you)(you)項(xiang)目檢(jian)(jian)測。

檢測(ce)結果顯(xian)示，38款(kuan)(kuan)智(zhi)能門鎖(suo)樣品(pin)均(jun)存(cun)在或(huo)(huo)多或(huo)(huo)少的(de)安(an)全(quan)風險；超一半樣品(pin)存(cun)在三項或(huo)(huo)三項以上(shang)安(an)全(quan)風險；有8款(kuan)(kuan)智(zhi)能門鎖(suo)樣品(pin)存(cun)在四項或(huo)(huo)四項以上(shang)的(de)安(an)全(quan)風險。