一、電芯k值如何計算

電芯的(de)(de)K值是(shi)一個重要的(de)(de)性(xing)能指標，它反(fan)映了電(dian)(dian)池(chi)的(de)(de)老化速(su)度和容量。具體來說，K值是(shi)通過(guo)測量電(dian)(dian)池(chi)充(chong)滿后達到(dao)的(de)(de)飽和電(dian)(dian)量與其實(shi)際(ji)放電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)比(bi)值計算(suan)得(de)出的(de)(de)，也被稱為(wei)額定充(chong)放電(dian)(dian)倍率。具體計算(suan)方式如下(xia)：

K=電池充放(fang)電電壓或(huo)電流(liu)上、下限值(zhi)(zhi)的(de)(de)最(zui)大正弦波幅(fu)值(zhi)(zhi)差(cha)(cha)與(yu)標稱值(zhi)(zhi)的(de)(de)百分比，即(ji)K=（Umax-Umin）%÷UN×100%。其中(zhong)，K代表偏差(cha)(cha)系數；UN為標準規定(ding)(ding)輸入/輸出(chu)直(zhi)流(liu)母線額定(ding)(ding)電壓（V）；Umax為在(zai)某(mou)工(gong)況下的(de)(de)最(zui)高測(ce)試點對應的(de)(de)充、放(fang)電壓；Umin為在(zai)某(mou)工(gong)況下的(de)(de)最(zui)低測(ce)試點對應的(de)(de)充、放(fang)電壓。這(zhe)些數據(ju)需要在(zai)實際測(ce)量中(zhong)獲(huo)取。

二、影響電芯k值的因素有什么

1、正負極材料、電解液種類、隔膜厚度種類

由(you)于自(zi)放(fang)電(dian)很(hen)大程度上(shang)是(shi)發生(sheng)于材料(liao)之(zhi)間，因(yin)此材料(liao)的性能對自(zi)放(fang)電(dian)有很(hen)大的影(ying)響。有人曾做實(shi)驗得知三元(yuan)材料(liao)比鈷(gu)酸鋰(li)電(dian)池(chi)自(zi)放(fang)電(dian)更高。

2、存儲的時間

存儲時間變長，一(yi)方(fang)面(mian)是使壓(ya)降的絕(jue)對值增大，另(ling)一(yi)方(fang)面(mian)則變相的減少(shao)了“儀(yi)器絕(jue)對誤差(cha)/壓(ya)降值”，從而(er)使結果更為準確。但儲存時間過長也會(hui)使正負極(ji)之間容(rong)量的平衡(heng)逐(zhu)漸(jian)被打破并深(shen)化，電解液的分解也會(hui)累計一(yi)些不可逆(ni)容(rong)量損失，使自放電變大。

3、存儲的條件

存儲溫度(du)和濕度(du)的增加，會增大自放電程度(du)。

4、保護板自耗

與(yu)電芯保護板自(zi)耗(hao)電也(ye)有一定關系。

5、測試的初始電壓

初(chu)始(shi)電(dian)壓(ya)（或者說一次電(dian)壓(ya)）不同(tong)，所(suo)得K值差(cha)別明顯。一般初(chu)始(shi)電(dian)壓(ya)過高，自放(fang)電(dian)率越(yue)大。

嚴格的說，自放電用容量的衰減來表示，只是沒有合適的設備在不讓電芯放電(dian)的(de)情況下直接測(ce)(ce)(ce)(ce)出其剩(sheng)余(yu)容(rong)量(liang)，而只(zhi)能是(shi)通過測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)其電(dian)壓來間接的(de)衡量(liang)其自(zi)放電(dian)，也就是(shi)所說(shuo)的(de)K值，所以如果環境條件的(de)改變引起測(ce)(ce)(ce)(ce)試電(dian)壓的(de)偏差(cha)可能導(dao)致(zhi)K值的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)誤差(cha)，我們在實際測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)甚至得到了K為負值的(de)情況，這顯然與自(zi)放電(dian)本身的(de)意義相矛盾，因此需要對設備經常(chang)進行(xing)校(xiao)驗(yan)，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)環境保持一(yi)致(zhi)。