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手動探針臺和自動的區別在哪里 手動探針臺和自動的哪個好

本文章由注冊用戶 時代工業園 上傳提供 2025-01-17 評論 0
摘要:手動探針臺是一種輔助執行機構,主要用于半導體芯片的電參數測試。測試人員將需要量測的芯片放置在探針臺載物臺上,通過X-Y移動,配合顯微鏡,找到需要探測的位置。然后,通過旋轉探針座上的X-Y-Z三向旋鈕,控制前部探針扎到被測點,使信號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數。那么手動探針臺和自動的區別在哪里以及手動探針臺和自動的哪個好呢?一起來看看吧!

一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動(dong)探(tan)針臺可分(fen)為半自動(dong)探(tan)針臺和(he)全自動(dong)探(tan)針,它們和(he)手動(dong)探(tan)針臺在使用類型、功能、操作(zuo)方式和(he)價格等方面都有所不同。

1、手動探針臺是一種(zhong)手(shou)動控制的探(tan)針臺,通(tong)常用于(yu)沒(mei)有(you)很多待測(ce)器件需(xu)要測(ce)量(liang)或數據需(xu)要收集(ji)的情(qing)況(kuang)下。該類探(tan)針臺的優點是靈活、可變性(xing)高,易于(yu)配置(zhi)環境和(he)轉換測(ce)試環境,并且(qie)不需(xu)要涉及額外培訓(xun)和(he)設(she)置(zhi)時(shi)間的電子設(she)備、PC或軟件。手(shou)動探(tan)針臺系統(tong)只需(xu)要少量(liang)的培訓(xun),因此非常適合研(yan)發(fa)人(ren)員使用。

2、半自(zi)(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)是一種(zhong)半自(zi)(zi)動(dong)控制的(de)探(tan)針臺(tai),可以在沒有很多待測器件需(xu)要(yao)測量或數據需(xu)要(yao)收集的(de)情況下使用(yong)。與(yu)手動(dong)探(tan)針臺(tai)相(xiang)比(bi),半自(zi)(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)的(de)操作相(xiang)對簡單,但需(xu)要(yao)使用(yong)者進行一些簡單的(de)操作,如移動(dong)晶(jing)圓載(zai)物臺(tai)、調整顯微鏡(jing)焦距(ju)等。半自(zi)(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)通常(chang)需(xu)要(yao)進行一些預設置,以便能夠適應不同的(de)測試(shi)環境。

3、全(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)是一(yi)種全(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)控(kong)制(zhi)的(de)(de)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai),可(ke)以(yi)在沒有(you)很多待測器件需(xu)要(yao)測量(liang)或(huo)數(shu)據(ju)需(xu)要(yao)收集的(de)(de)情(qing)況下(xia)使用。相比于半自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai),全(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)具有(you)更高(gao)的(de)(de)精度(du)和效率,可(ke)以(yi)在短(duan)時間內(nei)完成大量(liang)的(de)(de)測試操作。全(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)通(tong)常還(huan)配備有(you)晶(jing)圓材料處(chu)理(li)搬運(yun)單元(MHU)、模式識(shi)別(自(zi)(zi)動(dong)(dong)對準(zhun))等功能,以(yi)確保(bao)晶(jing)圓上的(de)(de)晶(jing)粒依次與探(tan)針(zhen)接觸并(bing)逐個測試。全(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)通(tong)常用于芯片量(liang)產或(huo)有(you)一(yi)些(xie)特殊要(yao)求(qiu)如處(chu)理(li)薄晶(jing)圓、封(feng)裝基(ji)板等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自動(dong)和全自動(dong)探(tan)(tan)針平臺(tai)提供了更高(gao)(gao)(gao)程(cheng)度(du)的(de)自動(dong)化(hua)。它們可(ke)以(yi)根據預設程(cheng)序自動(dong)操作探(tan)(tan)針臂(bei)和探(tan)(tan)針,將其定位(wei)(wei)在待測(ce)物體上。用戶只需輸入指令來(lai)控制(zhi)整個(ge)測(ce)試(shi)(shi)過程(cheng)。這些(xie)平臺(tai)還配備(bei)了圖像(xiang)識別技術,能夠自動(dong)識別待測(ce)物體的(de)位(wei)(wei)置,提高(gao)(gao)(gao)測(ce)試(shi)(shi)的(de)準確性和效率。與手動(dong)探(tan)(tan)針平臺(tai)相比,半自動(dong)和全自動(dong)探(tan)(tan)針平臺(tai)系統更加高(gao)(gao)(gao)效、便捷,能夠節省大量的(de)人力和時(shi)間成本,并提供更可(ke)靠的(de)測(ce)試(shi)(shi)結果(guo)。

但實(shi)際選擇(ze)時,手動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)適合研發(fa)人員(yuan)使(shi)用(yong),半自動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)適合初學者(zhe)使(shi)用(yong),而(er)全自動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)適合具有(you)一定經驗的(de)測試人員(yuan)使(shi)用(yong)。不同類型的(de)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)各有(you)優缺點(dian),選擇(ze)何種探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)主要取決于測試的(de)需求和個人的(de)技能水平。

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