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手動探針臺和自動的區別在哪里 手動探針臺和自動的哪個好

本文章由注冊用戶 時代工業園 上傳提供 2025-01-17 評論 0
摘要:手動探針臺是一種輔助執行機構,主要用于半導體芯片的電參數測試。測試人員將需要量測的芯片放置在探針臺載物臺上,通過X-Y移動,配合顯微鏡,找到需要探測的位置。然后,通過旋轉探針座上的X-Y-Z三向旋鈕,控制前部探針扎到被測點,使信號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數。那么手動探針臺和自動的區別在哪里以及手動探針臺和自動的哪個好呢?一起來看看吧!

一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)可(ke)分為半自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)和(he)(he)全自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen),它們和(he)(he)手動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)在(zai)使用類(lei)型、功能、操作方式和(he)(he)價格等方面都(dou)有所不同。

1、手動探針臺是(shi)一種手(shou)動控制的(de)探(tan)針(zhen)臺,通常用于沒有(you)很(hen)多待(dai)測器件(jian)需(xu)要測量(liang)(liang)或數(shu)據需(xu)要收集的(de)情況下。該(gai)類探(tan)針(zhen)臺的(de)優點是(shi)靈(ling)活、可變(bian)性高,易于配置環境和轉換測試環境,并(bing)且不(bu)需(xu)要涉及額外(wai)培訓(xun)和設(she)置時(shi)間(jian)的(de)電子設(she)備(bei)、PC或軟(ruan)件(jian)。手(shou)動探(tan)針(zhen)臺系(xi)統(tong)只(zhi)需(xu)要少量(liang)(liang)的(de)培訓(xun),因此非常適合研發人(ren)員使用。

2、半(ban)自動探針(zhen)臺(tai)(tai)是一種(zhong)半(ban)自動控制的探針(zhen)臺(tai)(tai),可以(yi)在沒(mei)有(you)很多待測(ce)器件需要(yao)(yao)測(ce)量或數據需要(yao)(yao)收集的情況(kuang)下使用。與手動探針(zhen)臺(tai)(tai)相比(bi),半(ban)自動探針(zhen)臺(tai)(tai)的操(cao)作相對(dui)簡(jian)單,但需要(yao)(yao)使用者(zhe)進(jin)行一些簡(jian)單的操(cao)作,如移動晶圓載(zai)物(wu)臺(tai)(tai)、調整(zheng)顯微鏡焦(jiao)距等。半(ban)自動探針(zhen)臺(tai)(tai)通常需要(yao)(yao)進(jin)行一些預設(she)置(zhi),以(yi)便(bian)能夠適應不同(tong)的測(ce)試環境。

3、全自動探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)是一(yi)種全自動控(kong)制的(de)探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai),可(ke)以(yi)在沒有(you)很多待(dai)測器(qi)件需要(yao)測量或數(shu)據需要(yao)收集的(de)情況下使用。相比于(yu)(yu)半自動探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai),全自動探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)具有(you)更(geng)高的(de)精(jing)度和效(xiao)率,可(ke)以(yi)在短時間(jian)內完(wan)成大量的(de)測試操作。全自動探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)通常還配備有(you)晶(jing)圓(yuan)(yuan)材(cai)料處(chu)理(li)搬運(yun)單元(MHU)、模式識(shi)別(bie)(自動對準)等(deng)功能,以(yi)確(que)保晶(jing)圓(yuan)(yuan)上的(de)晶(jing)粒依次與探(tan)(tan)針接觸并逐個測試。全自動探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)通常用于(yu)(yu)芯片量產或有(you)一(yi)些特殊(shu)要(yao)求如處(chu)理(li)薄(bo)晶(jing)圓(yuan)(yuan)、封裝基板等(deng)。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半(ban)自(zi)動(dong)(dong)和全(quan)自(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)平臺(tai)(tai)提供了(le)(le)更(geng)高(gao)程度的(de)自(zi)動(dong)(dong)化。它們(men)可以根據(ju)預設程序自(zi)動(dong)(dong)操作探針(zhen)臂(bei)和探針(zhen),將其定(ding)位在待(dai)測物體上。用戶只需輸(shu)入指令來控制(zhi)整個測試過程。這些平臺(tai)(tai)還配備了(le)(le)圖(tu)像識(shi)別(bie)技術(shu),能(neng)夠自(zi)動(dong)(dong)識(shi)別(bie)待(dai)測物體的(de)位置,提高(gao)測試的(de)準(zhun)確性和效率。與手動(dong)(dong)探針(zhen)平臺(tai)(tai)相比,半(ban)自(zi)動(dong)(dong)和全(quan)自(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)平臺(tai)(tai)系統(tong)更(geng)加高(gao)效、便捷,能(neng)夠節省大量的(de)人力和時間成本,并提供更(geng)可靠的(de)測試結果。

但(dan)實(shi)際選擇(ze)(ze)時,手動探(tan)針(zhen)臺(tai)適(shi)合(he)研發人員(yuan)使用(yong),半自動探(tan)針(zhen)臺(tai)適(shi)合(he)初學(xue)者使用(yong),而全自動探(tan)針(zhen)臺(tai)適(shi)合(he)具(ju)有(you)一定經驗(yan)的測(ce)試人員(yuan)使用(yong)。不同類型(xing)的探(tan)針(zhen)臺(tai)各有(you)優(you)缺點,選擇(ze)(ze)何種探(tan)針(zhen)臺(tai)主要(yao)取(qu)決于測(ce)試的需求和個人的技能水平。

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