一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實(shi)際(ji)上是(shi)一樣(yang)的，是(shi)兩種不同的稱呼(hu)而已，如果非(fei)要說有什(shen)么區(qu)別的話，那就是(shi)覆層測(ce)厚儀是(shi)新(xin)研發的新(xin)產品(pin)，與之前涂層測(ce)厚儀相比(bi)有以(yi)下主要優點(dian)：

1、測量速度快(kuai)：測量速度比(bi)普(pu)通(tong)涂(tu)層(ceng)測厚(hou)儀快(kuai)6倍。

2、精(jing)度(du)高：產品(pin)校準后精(jing)度(du)即可達(da)到1-2%，比普(pu)通的涂層(ceng)測厚儀精(jing)度(du)更高。

3、穩定性(xing)：測(ce)量值的(de)穩定性(xing)和使用穩定性(xing)優于涂層(ceng)測(ce)厚儀。

4、功能、數據(ju)、操作、顯示全(quan)部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚(hou)(hou)儀(yi)和超聲波測厚(hou)(hou)儀(yi)相比，雖然都是測厚(hou)(hou)儀(yi)，但在(zai)以(yi)下幾個方面都存(cun)在(zai)區別：

1、測量范圍不同

作為無損(sun)檢(jian)測(ce)儀器，超聲(sheng)波測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀和涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀都有卡尺和千分尺等(deng)測(ce)量(liang)儀器達不到(dao)的優勢，但(dan)是兩者在(zai)測(ce)量(liang)范圍上(shang)還是有區(qu)別的，涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀主要(yao)用來表(biao)面覆(fu)層(ceng)，而超聲(sheng)波測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀側重于壁厚(hou)(hou)(hou)和板厚(hou)(hou)(hou)的基材測(ce)量(liang)。

超聲(sheng)波測厚(hou)儀(yi)的具體(ti)測量(liang)(liang)范(fan)圍：超聲(sheng)波測厚(hou)儀(yi)可(ke)以(yi)測量(liang)(liang)金屬材(cai)(cai)質、管(guan)(guan)道、壓力容器、板(ban)(ban)材(cai)(cai)（鋼板(ban)(ban)、鋁板(ban)(ban)）、塑(su)料、鐵(tie)管(guan)(guan)、PVC管(guan)(guan)、玻璃等其他特殊(shu)材(cai)(cai)料的厚(hou)度；也(ye)可(ke)以(yi)測量(liang)(liang)工件表面油漆(qi)層等帶涂層的材(cai)(cai)料。

涂層測(ce)(ce)(ce)厚儀的具(ju)體測(ce)(ce)(ce)量范(fan)圍(wei)：主要用于測(ce)(ce)(ce)量金屬上(shang)的涂層，防腐層，電鍍(du)層，塑料，油(you)漆(qi)，塑膠，陶瓷，琺瑯(lang)等覆蓋層的厚度，也可以擴展應(ying)用到對紙張(zhang)，薄膜(mo)，板材等的厚度進行(xing)間接測(ce)(ce)(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點(dian)測(ce)量(liang)(liang)法：在(zai)被測(ce)體上(shang)任一點(dian)，利用探頭進行測(ce)量(liang)(liang)，顯示值即為厚度值。

②兩點測(ce)量(liang)(liang)法：在被測(ce)體(ti)的(de)同一點用探頭(tou)進行兩次測(ce)量(liang)(liang)，在第二次測(ce)量(liang)(liang)中，探頭(tou)的(de)分割面(mian)成 90°，取兩次測(ce)量(liang)(liang)中的(de)較小值為厚度值。

③多點(dian)測(ce)(ce)量法：當測(ce)(ce)量值不穩定時，以一個測(ce)(ce)定點(dian)為中心(xin)，在直(zhi)徑約為 30mm 的(de)圓內進行(xing)多次測(ce)(ce)量，取最(zui)小(xiao)值為厚度值。

④連續測量法：用(yong)單(dan)點(dian)測量法，沿指定(ding)線(xian)路連續測量，其間隔不小于 5mm，取其中最小值(zhi)為厚(hou)度值(zhi)。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)(ci)性(xing)法：主要用于(yu)鐵基涂層，當測(ce)量頭(tou)與覆蓋(gai)層接觸時，測(ce)量頭(tou)和磁(ci)(ci)性(xing)金屬基體構成一(yi)閉合磁(ci)(ci)路，由(you)于(yu)非磁(ci)(ci)性(xing)覆蓋(gai)層的(de)存在，使磁(ci)(ci)路磁(ci)(ci)阻變化，通過測(ce)量其變化可導出覆蓋(gai)層的(de)厚度。

②渦流(liu)(liu)法(fa)：主(zhu)要用于非鐵(tie)基(ji)涂層，用利(li)用高頻交變(bian)電流(liu)(liu)在線圈中產生一(yi)個電磁場，當測(ce)量頭與(yu)覆蓋層接觸時，金屬基(ji)體(ti)上產生電渦流(liu)(liu)，并對測(ce)量頭中的(de)線圈產生反饋作(zuo)(zuo)用，通過測(ce)量反饋作(zuo)(zuo)用的(de)大小可導出覆蓋層的(de)厚度(du)。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量精度是：0-1250um（標(biao)配F1/N1探(tan)頭）00-10000um（選配F10/N10探(tan)頭）。