一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是(shi)一種測量鍍層等(deng)(deng)金(jin)屬薄膜的(de)厚度的(de)儀器，主要用于測量鋼(gang)、鐵等(deng)(deng)鐵磁質金(jin)屬基體上的(de)非鐵磁性涂層、鍍層，其具有以下特點：

1、精度(du)高：鍍層測厚(hou)儀的測量(liang)精度(du)通常(chang)在±0.1μm范圍(wei)內，可以(yi)滿足大多數表面鍍層或(huo)涂(tu)層的測量(liang)需(xu)求。

2、快速測量：鍍(du)層測厚儀(yi)可以在短時間內快速測量大(da)范圍的表面，提高(gao)生產(chan)效(xiao)率。

3、無損(sun)檢(jian)測：鍍(du)層測厚儀(yi)不會對被測物(wu)體表面造(zao)成損(sun)傷，可以用于生產過(guo)程中(zhong)的(de)質量控制(zhi)和檢(jian)測。

4、操作簡單：鍍層測厚儀操作簡單，易(yi)于(yu)(yu)掌握(wo)，適合于(yu)(yu)不(bu)同(tong)領域的用戶(hu)使(shi)用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層(ceng)測(ce)厚儀一般由三部分組成(cheng)：

1、傳感器(qi)：傳感器(qi)部分負責與物(wu)體表面接觸，并采(cai)集鍍(du)層或涂層的電阻值(zhi)、電導率或磁(ci)場強度等參(can)數(shu)。

2、測量(liang)電(dian)路：測量(liang)電(dian)路部分(fen)將(jiang)傳(chuan)感器采(cai)集的信(xin)號進行處理，計算出鍍層(ceng)或涂層(ceng)的厚度(du)。

3、顯(xian)示(shi)單元：計算出的(de)厚度將顯(xian)示(shi)在顯(xian)示(shi)單元上(shang)。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測厚(hou)儀用于測量鍍層厚(hou)度(du)，主要有三(san)種原理(li)：

1、磁吸型

永久磁(ci)鐵（測(ce)頭）與(yu)導(dao)磁(ci)鋼材之(zhi)間的(de)(de)(de)吸力大(da)小與(yu)處(chu)于(yu)這兩(liang)者之(zhi)間的(de)(de)(de)距離(li)成一(yi)定比例關系，這個(ge)距離(li)就是覆(fu)層的(de)(de)(de)厚(hou)度。利用這一(yi)原理制成測(ce)厚(hou)儀，只要(yao)覆(fu)層與(yu)基材的(de)(de)(de)導(dao)磁(ci)率之(zhi)差(cha)足夠大(da)，就可進行測(ce)量(liang)。

這(zhe)種測(ce)厚(hou)儀(yi)基本結構由磁鋼，接力(li)(li)簧(huang)，標尺及自停(ting)機構組(zu)成。磁鋼與(yu)被(bei)測(ce)物吸合(he)后，將測(ce)量簧(huang)在其后逐漸拉(la)長，拉(la)力(li)(li)逐漸增(zeng)大。當拉(la)力(li)(li)剛好大于吸力(li)(li)，磁鋼脫(tuo)離(li)的一瞬間記錄下拉(la)力(li)(li)的大小即(ji)可獲得覆層(ceng)厚(hou)度(du)。

2、磁感應型

采用(yong)磁(ci)(ci)感(gan)應原理時(shi)，利用(yong)從測頭經過非(fei)鐵(tie)磁(ci)(ci)覆層(ceng)而流入鐵(tie)磁(ci)(ci)基體(ti)的(de)磁(ci)(ci)通的(de)大小(xiao)，來(lai)(lai)測定覆層(ceng)厚度。也(ye)可以(yi)測定與之對應的(de)磁(ci)(ci)阻的(de)大小(xiao)，來(lai)(lai)表示其(qi)覆層(ceng)厚度。覆層(ceng)越(yue)厚，則磁(ci)(ci)阻越(yue)大，磁(ci)(ci)通越(yue)小(xiao)。

利用(yong)磁感應(ying)原理的(de)測厚儀，原則上可(ke)以有(you)導(dao)磁基(ji)體(ti)上的(de)非導(dao)磁覆層厚度，一般要求(qiu)基(ji)材(cai)導(dao)磁率(lv)在(zai)500以上，如(ru)果覆層材(cai)料也有(you)磁性，則要求(qiu)與基(ji)材(cai)的(de)導(dao)磁率(lv)之差足夠大（如(ru)鋼上鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻交(jiao)流(liu)信號(hao)在測頭(tou)線(xian)圈(quan)中產生(sheng)電(dian)(dian)(dian)磁場，測頭(tou)靠近(jin)導(dao)體時，就在其中形(xing)成(cheng)渦流(liu)。測頭(tou)離(li)導(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)(ji)體愈(yu)(yu)近(jin)，則渦流(liu)愈(yu)(yu)大(da)，反射阻抗也愈(yu)(yu)大(da)。這個反饋作用量(liang)表征了測頭(tou)與導(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)(ji)體之間距離(li)的大(da)小，也就是(shi)導(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)(ji)體上非導(dao)電(dian)(dian)(dian)覆層厚(hou)度的大(da)小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對(dui)所有(you)(you)導(dao)電(dian)體上的(de)非導(dao)電(dian)體覆層均可測(ce)量，如航天航空器表(biao)面、車(che)輛、家電(dian)、鋁合金門窗及其(qi)它鋁制品表(biao)面的(de)漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有(you)(you)一定的(de)導(dao)電(dian)性，通(tong)過校(xiao)準同樣也可測(ce)量，但要求(qiu)兩者的(de)導(dao)電(dian)率之(zhi)比至少相差(cha)3-5倍（如銅上鍍(du)鉻）。