一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測(ce)量(liang)鍍層等金屬薄膜的厚度的儀(yi)器，主要用于測(ce)量(liang)鋼、鐵(tie)(tie)等鐵(tie)(tie)磁(ci)質金屬基體上的非鐵(tie)(tie)磁(ci)性涂層、鍍層，其具(ju)有以(yi)下(xia)特點：

1、精度高：鍍(du)層測厚儀的(de)測量精度通(tong)常在±0.1μm范(fan)圍內(nei)，可(ke)以滿足大多數表面鍍(du)層或涂(tu)層的(de)測量需(xu)求(qiu)。

2、快速測(ce)量：鍍層測(ce)厚儀可(ke)以在短時間內(nei)快速測(ce)量大范圍的表面，提高生產效率。

3、無(wu)損(sun)檢測(ce)：鍍(du)層測(ce)厚儀不會對被測(ce)物體表(biao)面(mian)造成損(sun)傷(shang)，可以(yi)用于生產(chan)過程中的質量控制和(he)檢測(ce)。

4、操(cao)作簡(jian)單：鍍層測(ce)厚儀操(cao)作簡(jian)單，易于(yu)掌握(wo)，適合(he)于(yu)不同領域的(de)用戶使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層(ceng)測厚儀一般(ban)由三部分組成：

1、傳(chuan)感器：傳(chuan)感器部分負責(ze)與物體表面接觸，并采集鍍層(ceng)或涂層(ceng)的電阻值、電導率或磁(ci)場強度等參數(shu)。

2、測量電路(lu)：測量電路(lu)部分將傳感器(qi)采(cai)集(ji)的信號(hao)進(jin)行處理，計算(suan)出鍍層(ceng)或(huo)涂層(ceng)的厚度。

3、顯示(shi)(shi)(shi)單元：計算出的厚度(du)將顯示(shi)(shi)(shi)在顯示(shi)(shi)(shi)單元上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測厚儀用于測量鍍層厚度，主要(yao)有三種(zhong)原理(li)：

1、磁吸型

永久磁(ci)鐵（測頭）與導(dao)磁(ci)鋼材之間的(de)(de)吸力(li)大小與處于這兩者之間的(de)(de)距離成一(yi)定(ding)比例關系，這個距離就(jiu)是覆(fu)層的(de)(de)厚度(du)。利用這一(yi)原理制成測厚儀(yi)，只要(yao)覆(fu)層與基材的(de)(de)導(dao)磁(ci)率(lv)之差足夠大，就(jiu)可進行(xing)測量。

這種測(ce)厚(hou)儀(yi)基本結構(gou)由磁(ci)鋼，接力(li)(li)簧，標尺及自停(ting)機構(gou)組成。磁(ci)鋼與被測(ce)物吸合后(hou)，將測(ce)量簧在(zai)其(qi)后(hou)逐漸(jian)拉長，拉力(li)(li)逐漸(jian)增大(da)。當拉力(li)(li)剛好大(da)于吸力(li)(li)，磁(ci)鋼脫離的(de)一(yi)瞬(shun)間記錄下拉力(li)(li)的(de)大(da)小即可獲得覆(fu)層厚(hou)度。

2、磁感應型

采用磁(ci)(ci)感應(ying)原理時，利用從測頭經過非鐵磁(ci)(ci)覆(fu)層而流入鐵磁(ci)(ci)基體(ti)的磁(ci)(ci)通的大小(xiao)，來測定覆(fu)層厚度。也可(ke)以測定與之對(dui)應(ying)的磁(ci)(ci)阻的大小(xiao)，來表(biao)示其覆(fu)層厚度。覆(fu)層越(yue)厚，則磁(ci)(ci)阻越(yue)大，磁(ci)(ci)通越(yue)小(xiao)。

利(li)用磁感應(ying)原(yuan)理的測厚儀，原(yuan)則上(shang)可以有(you)導(dao)磁基體(ti)上(shang)的非導(dao)磁覆層厚度，一般要(yao)求基材導(dao)磁率(lv)在500以上(shang)，如果覆層材料也有(you)磁性，則要(yao)求與(yu)基材的導(dao)磁率(lv)之差足(zu)夠大(da)（如鋼上(shang)鍍鎳）。

3、電渦流型

高(gao)頻(pin)交(jiao)流信號在測頭(tou)線圈中產生電(dian)磁場，測頭(tou)靠近導(dao)體(ti)(ti)時，就在其中形成渦(wo)流。測頭(tou)離導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)愈近，則渦(wo)流愈大，反射(she)阻抗也愈大。這(zhe)個反饋作用量(liang)表征了測頭(tou)與導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)之間距離的大小，也就是(shi)導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)上非(fei)導(dao)電(dian)覆層厚度的大小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有(you)導(dao)電體上的非(fei)導(dao)電體覆(fu)層(ceng)均(jun)可(ke)測量，如(ru)航(hang)天航(hang)空器(qi)表(biao)(biao)面(mian)、車輛、家電、鋁合金(jin)門窗及(ji)其它鋁制品表(biao)(biao)面(mian)的漆，塑(su)料涂層(ceng)及(ji)陽極氧化(hua)膜(mo)。覆(fu)層(ceng)材(cai)料有(you)一定的導(dao)電性，通過校(xiao)準同樣也可(ke)測量，但(dan)要求兩者(zhe)的導(dao)電率之比至少相差(cha)3-5倍（如(ru)銅上鍍鉻）。