一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實(shi)際上是(shi)一樣的(de)(de)(de)，是(shi)兩種不同的(de)(de)(de)稱(cheng)呼而已(yi)，如果(guo)非要說有什么(me)區別的(de)(de)(de)話(hua)，那就是(shi)覆層(ceng)測厚儀是(shi)新研發的(de)(de)(de)新產(chan)品，與之前涂層(ceng)測厚儀相(xiang)比有以下(xia)主要優點：

1、測(ce)量速度快：測(ce)量速度比普通涂層測(ce)厚儀(yi)快6倍。

2、精(jing)度高：產(chan)品(pin)校準后精(jing)度即可達(da)到(dao)1-2%，比(bi)普通的涂層(ceng)測(ce)厚儀精(jing)度更高。

3、穩(wen)定性(xing)：測量(liang)值的穩(wen)定性(xing)和使用穩(wen)定性(xing)優于涂層測厚儀。

4、功能(neng)、數(shu)據(ju)、操作、顯示全部是(shi)中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚(hou)儀和超聲波測厚(hou)儀相比，雖然(ran)都是測厚(hou)儀，但(dan)在以下幾(ji)個方面都存在區(qu)別(bie)：

1、測量范圍不同

作為(wei)無損檢測(ce)儀(yi)器，超聲(sheng)波(bo)測(ce)厚(hou)儀(yi)和(he)涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)都有(you)卡尺和(he)千分尺等(deng)測(ce)量(liang)儀(yi)器達不到的優勢，但是兩者在測(ce)量(liang)范圍上還是有(you)區別(bie)的，涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)主要用來表面覆層(ceng)，而(er)超聲(sheng)波(bo)測(ce)厚(hou)儀(yi)側重于壁厚(hou)和(he)板(ban)厚(hou)的基材測(ce)量(liang)。

超(chao)聲(sheng)波測(ce)厚(hou)(hou)儀的具(ju)體測(ce)量范圍：超(chao)聲(sheng)波測(ce)厚(hou)(hou)儀可(ke)以(yi)(yi)測(ce)量金(jin)屬材(cai)質(zhi)、管(guan)道、壓(ya)力容(rong)器(qi)、板(ban)材(cai)（鋼(gang)板(ban)、鋁板(ban)）、塑料(liao)、鐵管(guan)、PVC管(guan)、玻璃等(deng)其他特殊材(cai)料(liao)的厚(hou)(hou)度；也可(ke)以(yi)(yi)測(ce)量工件表面油漆層等(deng)帶涂層的材(cai)料(liao)。

涂(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀的具體測(ce)量范圍：主要用于測(ce)量金屬上的涂(tu)層(ceng)(ceng)，防腐層(ceng)(ceng)，電(dian)鍍層(ceng)(ceng)，塑料，油漆，塑膠，陶瓷(ci)，琺瑯等覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)的厚度(du)，也(ye)可以擴展應用到對紙張(zhang)，薄膜，板材等的厚度(du)進行間(jian)接測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單(dan)點測量法：在(zai)被測體(ti)上任一(yi)點，利(li)用探頭進行測量，顯示值即為厚度(du)值。

②兩點(dian)(dian)測(ce)量(liang)(liang)(liang)法：在被測(ce)體的(de)同一(yi)點(dian)(dian)用探(tan)頭(tou)進行(xing)兩次(ci)測(ce)量(liang)(liang)(liang)，在第(di)二次(ci)測(ce)量(liang)(liang)(liang)中(zhong)，探(tan)頭(tou)的(de)分割面成 90°，取兩次(ci)測(ce)量(liang)(liang)(liang)中(zhong)的(de)較(jiao)小(xiao)值為厚度值。

③多(duo)點測(ce)量法：當測(ce)量值不穩定(ding)時，以一(yi)個測(ce)定(ding)點為(wei)中心，在直徑(jing)約為(wei) 30mm 的圓(yuan)內進行(xing)多(duo)次測(ce)量，取最(zui)小值為(wei)厚度(du)值。

④連續測量法(fa)：用單(dan)點(dian)測量法(fa)，沿指定(ding)線路連續測量，其間(jian)隔(ge)不小(xiao)于 5mm，取其中最(zui)小(xiao)值(zhi)為(wei)厚度值(zhi)。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)(ci)(ci)性(xing)法：主要用于(yu)鐵基涂(tu)層(ceng)，當(dang)測量(liang)頭與覆(fu)蓋(gai)層(ceng)接觸時，測量(liang)頭和磁(ci)(ci)(ci)性(xing)金屬基體構(gou)成一閉合磁(ci)(ci)(ci)路，由(you)于(yu)非磁(ci)(ci)(ci)性(xing)覆(fu)蓋(gai)層(ceng)的存在，使磁(ci)(ci)(ci)路磁(ci)(ci)(ci)阻變化，通過測量(liang)其變化可導(dao)出覆(fu)蓋(gai)層(ceng)的厚度。

②渦流(liu)(liu)法(fa)：主要用(yong)于非鐵基(ji)涂層，用(yong)利用(yong)高頻交變電流(liu)(liu)在線(xian)圈(quan)中產生(sheng)一(yi)個電磁場，當測(ce)量頭與(yu)覆蓋(gai)層接(jie)觸時，金(jin)屬基(ji)體上產生(sheng)電渦流(liu)(liu)，并對測(ce)量頭中的線(xian)圈(quan)產生(sheng)反饋作(zuo)用(yong)，通過測(ce)量反饋作(zuo)用(yong)的大小可(ke)導出覆蓋(gai)層的厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量(liang)精度是：0-1250um（標配F1/N1探頭）00-10000um（選配F10/N10探頭）。