一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪
覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器,它和涂層測厚儀實際上是一樣的(de),是兩種不同的(de)稱呼而已,如果非要說有什么區(qu)別(bie)的(de)話,那就是覆層測(ce)(ce)厚(hou)儀是新(xin)(xin)研發的(de)新(xin)(xin)產品,與之前(qian)涂(tu)層測(ce)(ce)厚(hou)儀相比(bi)有以下主要優點(dian):
1、測量(liang)速度快:測量(liang)速度比普通涂層測厚儀快6倍(bei)。
2、精(jing)度(du)高:產品(pin)校準后精(jing)度(du)即可(ke)達到(dao)1-2%,比普通的涂層測厚儀精(jing)度(du)更高。
3、穩(wen)(wen)定性:測量值(zhi)的穩(wen)(wen)定性和使用穩(wen)(wen)定性優于涂層(ceng)測厚(hou)儀。
4、功能、數據(ju)、操作(zuo)、顯示(shi)全(quan)部(bu)是中文(wen)。
二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別
涂(tu)層測(ce)厚(hou)儀(yi)和超聲波測(ce)厚(hou)儀(yi)相比,雖然都是測(ce)厚(hou)儀(yi),但在以下(xia)幾個方(fang)面都存在區別:
1、測量范圍不同
作為無損檢測(ce)(ce)(ce)儀器,超聲(sheng)波(bo)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀和(he)涂(tu)層(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀都有(you)卡尺和(he)千分尺等(deng)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)儀器達不到(dao)的(de)(de)優勢,但是(shi)兩者在(zai)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)范圍上還是(shi)有(you)區(qu)別的(de)(de),涂(tu)層(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀主(zhu)要用來表面覆層(ceng),而超聲(sheng)波(bo)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀側(ce)重(zhong)于壁(bi)厚(hou)和(he)板厚(hou)的(de)(de)基材(cai)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。
超聲(sheng)波測(ce)(ce)厚儀(yi)的(de)具體測(ce)(ce)量(liang)(liang)范圍:超聲(sheng)波測(ce)(ce)厚儀(yi)可以測(ce)(ce)量(liang)(liang)金(jin)屬(shu)材質、管(guan)(guan)道、壓力容器、板(ban)材(鋼板(ban)、鋁(lv)板(ban))、塑料(liao)(liao)、鐵(tie)管(guan)(guan)、PVC管(guan)(guan)、玻璃等其(qi)他(ta)特(te)殊材料(liao)(liao)的(de)厚度;也可以測(ce)(ce)量(liang)(liang)工件表面油漆層(ceng)等帶涂層(ceng)的(de)材料(liao)(liao)。
涂(tu)層測厚(hou)儀的(de)具(ju)體測量范圍:主要用(yong)于測量金屬上(shang)的(de)涂(tu)層,防腐層,電鍍層,塑料,油漆,塑膠,陶瓷,琺(fa)瑯等覆(fu)蓋(gai)層的(de)厚(hou)度,也(ye)可以擴展應用(yong)到(dao)對紙張,薄膜,板材等的(de)厚(hou)度進(jin)行間(jian)接測量。
2、測量方法不同
(1)超聲波測厚儀的測量方法
①單點測(ce)量(liang)法:在被(bei)測(ce)體上任一(yi)點,利(li)用探頭進行測(ce)量(liang),顯(xian)示值(zhi)即為厚度值(zhi)。
②兩點測(ce)量(liang)(liang)法:在被測(ce)體(ti)的(de)同一(yi)點用探(tan)頭(tou)進行兩次測(ce)量(liang)(liang),在第(di)二次測(ce)量(liang)(liang)中,探(tan)頭(tou)的(de)分(fen)割(ge)面成 90°,取兩次測(ce)量(liang)(liang)中的(de)較小值(zhi)為厚度值(zhi)。
③多點測量(liang)(liang)法:當測量(liang)(liang)值(zhi)不穩(wen)定(ding)時,以一個測定(ding)點為中(zhong)心,在直徑約(yue)為 30mm 的圓內進行多次測量(liang)(liang),取最(zui)小值(zhi)為厚(hou)度(du)值(zhi)。
④連(lian)續測量(liang)法:用單(dan)點測量(liang)法,沿指定線(xian)路連(lian)續測量(liang),其間隔不小(xiao)于 5mm,取(qu)其中最小(xiao)值(zhi)為(wei)厚度值(zhi)。
(2)涂層測厚儀的測量方法
①磁(ci)(ci)性(xing)(xing)法:主(zhu)要用(yong)于(yu)鐵基涂層(ceng),當(dang)測量(liang)頭與覆(fu)蓋層(ceng)接觸時,測量(liang)頭和(he)磁(ci)(ci)性(xing)(xing)金(jin)屬基體構成一閉合(he)磁(ci)(ci)路,由于(yu)非磁(ci)(ci)性(xing)(xing)覆(fu)蓋層(ceng)的存在(zai),使磁(ci)(ci)路磁(ci)(ci)阻變化,通過測量(liang)其變化可導出覆(fu)蓋層(ceng)的厚度。
②渦流(liu)法:主(zhu)要用于非鐵基涂層,用利用高頻交(jiao)變電(dian)(dian)流(liu)在線(xian)圈(quan)中產生一個(ge)電(dian)(dian)磁場,當(dang)測量頭與(yu)覆(fu)蓋(gai)層接觸時(shi),金(jin)屬基體(ti)上(shang)產生電(dian)(dian)渦流(liu),并對測量頭中的(de)線(xian)圈(quan)產生反饋作用,通過(guo)測量反饋作用的(de)大小(xiao)可(ke)導出覆(fu)蓋(gai)層的(de)厚(hou)度。
3、測量精度不同
超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm;涂層測厚儀的測(ce)量精度是(shi):0-1250um(標配F1/N1探(tan)頭(tou))00-10000um(選配F10/N10探(tan)頭(tou))。