電路板檢測方法有哪些

1、針床測試法

這種方法由帶有彈簧的探針連接到電路板上的每一個檢(jian)測(ce)(ce)點。彈(dan)簧使(shi)每個探(tan)針(zhen)具有100-200g的壓力，以保證(zheng)每個檢(jian)測(ce)(ce)點接觸良好(hao)，這樣的探(tan)針(zhen)排列(lie)在(zai)(zai)一起(qi)被稱為"針(zhen)床(chuang)"。在(zai)(zai)檢(jian)測(ce)(ce)軟(ruan)件的控制下，可以對檢(jian)測(ce)(ce)點和(he)檢(jian)測(ce)(ce)信號進(jin)(jin)行(xing)編程。實際上只(zhi)有那些需要測(ce)(ce)試的測(ce)(ce)試點的探(tan)針(zhen)是安裝了的。盡管使(shi)用(yong)針(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)試法可能同時在(zai)(zai)電路板(ban)的兩面(mian)進(jin)(jin)行(xing)檢(jian)測(ce)(ce)，當設計(ji)電路板(ban)時，還是應該使(shi)所(suo)有的檢(jian)測(ce)(ce)點在(zai)(zai)電路板(ban)的焊(han)接面(mian)。針(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)試儀設備昂貴，且(qie)很難維修。針(zhen)頭依(yi)據其具體應用(yong)選不同排列(lie)的探(tan)針(zhen)。

該圖片由注冊用戶"壯志凌云"提供，版權聲明反饋

一(yi)(yi)種(zhong)基本的(de)(de)(de)通用(yong)柵格(ge)處(chu)理器由一(yi)(yi)個鉆(zhan)孔的(de)(de)(de)板(ban)子構成(cheng)，其(qi)上(shang)插(cha)針(zhen)的(de)(de)(de)中(zhong)心間距為100、75或50mil。插(cha)針(zhen)起探(tan)針(zhen)的(de)(de)(de)作用(yong)，并利用(yong)電(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)上(shang)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)連(lian)(lian)接(jie)器或節點進(jin)行直接(jie)的(de)(de)(de)機械連(lian)(lian)接(jie)。如果電(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)上(shang)的(de)(de)(de)焊(han)盤與測(ce)試柵格(ge)相配(pei)，那么按照規范打孔的(de)(de)(de)聚醋(cu)薄(bo)膜就(jiu)會被(bei)放置在(zai)柵格(ge)和電(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)之間，以(yi)便于設計特定(ding)的(de)(de)(de)探(tan)測(ce)。連(lian)(lian)續性檢測(ce)是(shi)通過(guo)訪問(wen)網(wang)格(ge)的(de)(de)(de)末端點（已被(bei)定(ding)義為焊(han)盤的(de)(de)(de)x-y坐標）實現的(de)(de)(de)。既然(ran)電(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)上(shang)的(de)(de)(de)每一(yi)(yi)個網(wang)絡都進(jin)行連(lian)(lian)續性檢測(ce)。這樣，一(yi)(yi)個獨立的(de)(de)(de)檢測(ce)就(jiu)完成(cheng)了。然(ran)而，探(tan)針(zhen)的(de)(de)(de)接(jie)近程度限制了針(zhen)床測(ce)試法的(de)(de)(de)效(xiao)能。

2、電路板的觀測

電(dian)路板(ban)體積小(xiao)，結(jie)構(gou)復雜，因(yin)此對(dui)電(dian)路板(ban)的(de)觀(guan)(guan)察(cha)也必須用到(dao)專業的(de)觀(guan)(guan)測儀(yi)器(qi)。一(yi)般的(de)，我(wo)們(men)采用便(bian)攜式(shi)視頻(pin)顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)來觀(guan)(guan)察(cha)電(dian)路板(ban)的(de)結(jie)構(gou)，通(tong)過(guo)視頻(pin)顯微(wei)(wei)攝像頭，可以(yi)清(qing)晰從顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)看(kan)到(dao)非常直(zhi)觀(guan)(guan)的(de)電(dian)路板(ban)的(de)顯微(wei)(wei)結(jie)構(gou)。通(tong)過(guo)這種方(fang)式(shi)，我(wo)們(men)就比較容易進行電(dian)路板(ban)的(de)設(she)計和(he)檢測了。現(xian)工廠現(xian)場(chang)采用的(de)便(bian)攜式(shi)視頻(pin)顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)，采用的(de)便(bian)攜式(shi)視頻(pin)顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)MSA200、VT101，因(yin)它可實現(xian)“隨時觀(guan)(guan)測、隨時檢測、多人討論”比傳統(tong)的(de)顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)(jing)更加(jia)方(fang)便(bian)！

3、雙探針飛針測試法

飛(fei)針測試儀不依(yi)賴于安裝在(zai)夾具(ju)或(huo)支架上(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)插腳(jiao)圖案(an)。基(ji)(ji)于這種(zhong)系統(tong)，兩(liang)個(ge)或(huo)更多的(de)(de)(de)(de)(de)探針安裝在(zai)x-y平面上(shang)可自由(you)移動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)微小磁頭上(shang)，測試點由(you)CADI?Gerber數(shu)據直接控制。雙探針能在(zai)彼(bi)此(ci)相距4mil的(de)(de)(de)(de)(de)范圍內移動(dong)。探針能夠獨立地移動(dong)，并(bing)且沒有(you)真正(zheng)的(de)(de)(de)(de)(de)限定它們(men)彼(bi)此(ci)靠近(jin)的(de)(de)(de)(de)(de)程度。帶有(you)兩(liang)個(ge)可來(lai)回移動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)臂狀(zhuang)物的(de)(de)(de)(de)(de)測試儀是(shi)以電容的(de)(de)(de)(de)(de)測量為(wei)基(ji)(ji)礎的(de)(de)(de)(de)(de)。將電路板緊壓著放(fang)在(zai)一(yi)塊金屬(shu)板上(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)絕緣(yuan)層(ceng)上(shang)，作為(wei)電容器(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)另(ling)一(yi)個(ge)金屬(shu)板。假如在(zai)線路之間有(you)一(yi)條短路，電容將比(bi)在(zai)一(yi)個(ge)確定的(de)(de)(de)(de)(de)點上(shang)大。如果有(you)-條斷(duan)路，電容將變(bian)小。

測試速度是選擇測試儀的一個重要標準。針床測試儀能夠一次精確地測試數千個測試點，而飛針測試儀一次僅僅能測電路板試(shi)(shi)(shi)(shi)兩個(ge)或四個(ge)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)點。另外，針(zhen)床測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)儀進(jin)行(xing)單面測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)時，可能(neng)僅僅花費20-30秒，這要根據板(ban)子的(de)復雜性而定(ding)，而飛針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)儀則(ze)需要Ih或更(geng)多的(de)時間完成(cheng)同(tong)樣的(de)評估(gu)。Shipley（1991）解釋說，即使高產(chan)(chan)量印制電(dian)路(lu)(lu)板(ban)的(de)生(sheng)產(chan)(chan)商認為移(yi)動的(de)飛針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)技(ji)術慢，但是這種(zhong)方法(fa)對于較低產(chan)(chan)量的(de)復雜電(dian)路(lu)(lu)板(ban)的(de)生(sheng)產(chan)(chan)商來說還是不(bu)錯的(de)選(xuan)擇。

對(dui)于(yu)(yu)(yu)裸(luo)板測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)來說，有專用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)器(qi)。一(yi)種(zhong)(zhong)成本(ben)更為優化的(de)(de)方法是(shi)使用(yong)(yong)(yong)一(yi)個(ge)通(tong)用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)儀(yi)(yi)器(qi)，盡(jin)管這類(lei)儀(yi)(yi)器(qi)最(zui)初比專用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)儀(yi)(yi)器(qi)更昂貴，但它最(zui)初的(de)(de)高(gao)費用(yong)(yong)(yong)將(jiang)(jiang)(jiang)被(bei)個(ge)別配置成本(ben)的(de)(de)減少(shao)抵消(xiao)。對(dui)于(yu)(yu)(yu)通(tong)用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)柵(zha)(zha)(zha)格(ge)(ge)，帶引(yin)腳元器(qi)件的(de)(de)板子和(he)表面貼裝設備的(de)(de)標準(zhun)柵(zha)(zha)(zha)格(ge)(ge)是(shi)2.5mm。此時測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)焊盤應該大(da)于(yu)(yu)(yu)或等于(yu)(yu)(yu)1.3mm。對(dui)于(yu)(yu)(yu)Imm的(de)(de)柵(zha)(zha)(zha)格(ge)(ge)，測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)焊盤設計(ji)得要大(da)于(yu)(yu)(yu)0.7mm。假如柵(zha)(zha)(zha)格(ge)(ge)較小，則(ze)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)針小而(er)脆(cui)，并且容易(yi)損壞。因此，最(zui)好(hao)選用(yong)(yong)(yong)大(da)于(yu)(yu)(yu)2.5mm的(de)(de)柵(zha)(zha)(zha)格(ge)(ge)。將(jiang)(jiang)(jiang)通(tong)用(yong)(yong)(yong)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)（標準(zhun)的(de)(de)柵(zha)(zha)(zha)格(ge)(ge)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)）和(he)飛針測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)聯合使用(yong)(yong)(yong)，可使高(gao)密(mi)度(du)電路板的(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)即(ji)精確又(you)經濟。他(ta)建議(yi)的(de)(de)另外一(yi)種(zhong)(zhong)方法是(shi)使用(yong)(yong)(yong)導電橡(xiang)膠測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)，這種(zhong)(zhong)技術可以用(yong)(yong)(yong)來檢測(ce)(ce)(ce)(ce)偏(pian)離(li)柵(zha)(zha)(zha)格(ge)(ge)的(de)(de)點。然而(er)，采用(yong)(yong)(yong)熱風(feng)整(zheng)平處理(li)的(de)(de)焊盤高(gao)度(du)不同，將(jiang)(jiang)(jiang)有礙測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)點的(de)(de)連接(jie)。

電路板怎么快速檢測出故障

1、看元件的狀態

拿到一塊(kuai)出(chu)故障的(de)電路(lu)板，首先觀察(cha)電路(lu)板有沒有明顯的(de)元件損壞，如電解電容燒(shao)毀和(he)鼓脹、電阻燒(shao)壞以及(ji)功率(lv)器件的(de)燒(shao)損等。

2、看電路板的焊接

如(ru)印(yin)制電路(lu)板有(you)(you)沒有(you)(you)變形翹曲；有(you)(you)沒有(you)(you)焊(han)點(dian)脫(tuo)落、明顯虛焊(han)；電路(lu)板覆銅皮有(you)(you)沒有(you)(you)翹起、燒(shao)糊變黑。

3、觀察元件的插件

如集成電路、二極管、電路板電源變壓器等方向(xiang)有(you)沒插錯。

4、電阻電容電感的簡單測試

使用萬(wan)用表對量程(cheng)內的電(dian)(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感(gan)等可懷疑元件進行簡單的測試，測試有否電(dian)(dian)阻(zu)(zu)阻(zu)(zu)值變(bian)大(da)、電(dian)(dian)容短路(lu)、開路(lu)和(he)容值變(bian)化、電(dian)(dian)感(gan)短路(lu)和(he)開路(lu)等現(xian)象。

5、上電測試

經過上(shang)述簡單觀(guan)察和(he)測試后，無法排(pai)除故障(zhang)，可(ke)進行上(shang)電(dian)測試。首先測試電(dian)路板供電(dian)是(shi)(shi)否正(zheng)常(chang)。如電(dian)路板的交流電(dian)源是(shi)(shi)否異(yi)常(chang)、穩壓器(qi)輸出(chu)是(shi)(shi)否異(yi)常(chang)、開關(guan)電(dian)源輸出(chu)和(he)波形是(shi)(shi)否異(yi)常(chang)等

6、刷程序

對于有單片(pian)機、DSP、CPLD等可編程元(yuan)件，可考慮重新刷一遍程序(xu)，排除程序(xu)運行異常(chang)造(zao)成的電路故(gu)障。

7、按照功能模塊維修

如果按照以上步驟仍不能維修好電路板，就(jiu)需要根據(ju)電路故障，確定可(ke)能(neng)出問題(ti)的(de)電路模塊，根據(ju)設計圖(tu)紙進(jin)行進(jin)一步維修了(le)。