一、ntc熱敏電阻怎么測量好壞

ntc被稱(cheng)為負(fu)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)系數熱敏電阻(zu)，是(shi)由(you)Mn-Co-Ni的(de)氧化物充分混合后燒結(jie)而成(cheng)的(de)陶瓷材料制(zhi)備而來，它在實現(xian)小(xiao)型化的(de)同(tong)時(shi)(shi)，還具有電阻(zu)值-溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)特性波動小(xiao)、對(dui)各(ge)種溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)變化響應快的(de)特點，可被用來做(zuo)高靈敏度(du)、高精度(du)的(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)傳感(gan)器(qi)，在電子(zi)電路當(dang)中也經常被用作實時(shi)(shi)的(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)監(jian)控及(ji)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)補償(chang)等。

可以從以下幾個方面測量ntc熱敏電阻的好壞。

1、將萬用表置于合適的歐姆擋（根據標稱電阻值確定擋位(wei)）。

2、用兩只(zhi)表(biao)筆分別接觸熱敏電阻的兩個引腳(jiao)測出實際阻值。

3、標稱(cheng)阻(zu)值相比較，如果(guo)二者相差，過大(da)，則說明(ming)所測熱敏電阻(zu)性(xing)能(neng)不(bu)良或已損壞。

4、用(yong)手捏住熱(re)敏電阻(zu)(zu)測電阻(zu)(zu)值，觀察萬用(yong)表(biao)數數，此時會看到顯示的(de)數據隨溫度的(de)升高而變化（ntc表(biao)示減小，PTC表(biao)示增大(da)），表(biao)明(ming)電阻(zu)(zu)值在(zai)逐漸變化

5、當阻值改變到一定數值時，顯(xian)示數據會逐漸穩定。

6、測量時若(ruo)環境溫度接(jie)近(jin)體(ti)溫，則可(ke)使用電烙鐵靠近(jin)或緊(jin)貼熱敏電阻進行加熱。

二、ntc熱敏電阻壞了什么現象

1、ntc熱敏電阻短路

在ntc電路(lu)中(zhong)，當(dang)(dang)環路(lu)電流(liu)(liu)高(gao)于(yu)值(zhi)，或(huo)額定(ding)功率(lv)長時(shi)間高(gao)于(yu)大阻(zu)時(shi)，會使熱敏(min)電阻(zu)的(de)溫度高(gao)于(yu)設定(ding)的(de)值(zhi)。所以(yi)在電流(liu)(liu)啟動時(shi)，熱敏(min)電阻(zu)會表現出相當(dang)(dang)低的(de)電阻(zu)，然后熱敏(min)電阻(zu)將被燒毀，導致短(duan)路(lu)或(huo)開路(lu)。

2、ntc熱敏電阻開裂

當電流開始運(yun)作時(shi)，可能(neng)導致瞬間大的(de)能(neng)量(liang)加(jia)載到(dao)熱(re)敏電阻(zu)中，如果產(chan)品生產(chan)的(de)時(shi)候存在(zai)瑕疵，那么(me)ntc可能(neng)無(wu)法承受然(ran)后損(sun)壞(huai)，一般情況，ntc會表現出(chu)更高的(de)阻(zu)值或者直接開裂。

3、ntc熱敏電阻阻值偏移

ntc熱(re)敏電(dian)阻是對熱(re)靈敏的半導體元件(jian)。如果IR回流(liu)和返(fan)工超過一定的溫度和時間，熱(re)敏電(dian)阻也容易損壞，導致阻值偏(pian)移。這個故障下ntc的阻值可能(neng)變大或(huo)變小。