一、ntc熱敏電阻怎么測量好壞

ntc被(bei)(bei)(bei)稱為負溫度(du)(du)(du)系(xi)數熱(re)敏電(dian)(dian)阻，是由Mn-Co-Ni的(de)氧化(hua)物充分(fen)混合后燒結而成的(de)陶(tao)瓷材(cai)料制備而來，它在實(shi)(shi)現小型化(hua)的(de)同(tong)時，還具有電(dian)(dian)阻值-溫度(du)(du)(du)特(te)性波(bo)動小、對(dui)各種溫度(du)(du)(du)變化(hua)響應(ying)快(kuai)的(de)特(te)點，可被(bei)(bei)(bei)用(yong)來做高靈敏度(du)(du)(du)、高精度(du)(du)(du)的(de)溫度(du)(du)(du)傳感器，在電(dian)(dian)子電(dian)(dian)路當中也經(jing)常被(bei)(bei)(bei)用(yong)作實(shi)(shi)時的(de)溫度(du)(du)(du)監控及溫度(du)(du)(du)補償等。

可以從以下幾個方面測量ntc熱敏電阻的好壞。

1、將萬用表置于(yu)合適(shi)的歐姆擋（根據(ju)標稱電阻(zu)值確定擋位）。

2、用(yong)兩(liang)只表筆分別接觸熱(re)敏(min)電阻(zu)的兩(liang)個(ge)引腳測出實際(ji)阻(zu)值。

3、標稱(cheng)阻(zu)值相(xiang)比(bi)較(jiao)，如(ru)果二者相(xiang)差，過大，則說明所測熱敏電阻(zu)性能(neng)不良或已損壞(huai)。

4、用手捏住熱敏電(dian)(dian)阻測電(dian)(dian)阻值，觀察萬(wan)用表數(shu)數(shu)，此時會(hui)看(kan)到顯示的(de)數(shu)據隨溫(wen)度(du)的(de)升高而變化(hua)（ntc表示減小，PTC表示增大(da)），表明電(dian)(dian)阻值在逐(zhu)漸變化(hua)

5、當阻值改變到(dao)一定數值時，顯示(shi)數據會逐漸穩(wen)定。

6、測量時若環境溫度接近體溫，則(ze)可使用(yong)電(dian)烙鐵靠近或(huo)緊貼熱敏(min)電(dian)阻進行加熱。

二、ntc熱敏電阻壞了什么現象

1、ntc熱敏電阻短路

在(zai)ntc電(dian)(dian)路(lu)中，當(dang)環路(lu)電(dian)(dian)流(liu)高于值，或額定功率長時間高于大阻時，會使熱(re)敏(min)電(dian)(dian)阻的(de)(de)溫度高于設定的(de)(de)值。所以在(zai)電(dian)(dian)流(liu)啟(qi)動時，熱(re)敏(min)電(dian)(dian)阻會表現(xian)出(chu)相當(dang)低的(de)(de)電(dian)(dian)阻，然后熱(re)敏(min)電(dian)(dian)阻將(jiang)被燒毀，導致短路(lu)或開路(lu)。

2、ntc熱敏電阻開裂

當電流開(kai)始運作時，可能導致瞬(shun)間(jian)大(da)的(de)能量加載到熱敏電阻(zu)中，如果產品(pin)生(sheng)產的(de)時候存在瑕疵，那么ntc可能無法承受(shou)然(ran)后損壞，一(yi)般情況，ntc會(hui)表(biao)現出更高的(de)阻(zu)值或者(zhe)直接開(kai)裂。

3、ntc熱敏電阻阻值偏移

ntc熱(re)敏電阻是對熱(re)靈敏的半導體元件。如果IR回流和返工超過一定的溫度和時間，熱(re)敏電阻也容易損壞，導致阻值偏移。這(zhe)個故障下ntc的阻值可能(neng)變大(da)或變小(xiao)。