著錄信息
- 專利名稱:一種紅外探測器及其制造方法
- 專利類型:發明
- 申請號:CN200710172268.3
- 公開(公告)號:CN101183690B
- 申請日:20071213
- 公開(公告)日:20121010
- 申請人:上海集成電路研發中心有限公司,浙江大立科技股份有限公司
- 發明人:康曉旭,姜利軍
- 申請人地址:201203 上海市張江高科技園區碧波路177號華虹科技園4樓B區
- 申請人區域代碼:CN310115
- 專利權人:上海集成電路研發中心有限公司,浙江大立科技股份有限公司
- 洛迦諾分類:無
- IPC:H01L31/09,H01L31/0216,H01L31/0224,H01L31/18
- 優先權:無
- 專利代理機構:上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
- 代理人:屈蘅
- 審查員:張馨芳
- 國際申請:無
- 國際公開(公告):無
- 進入國家日期:無
- 分案申請:無
關鍵詞
金屬電極,敏感材料,保護層,探測,探測器,光刻,紅外探測器,沉積金屬,光刻膠,短路,刻蝕,沉積,犧牲,損傷,刻蝕工藝,圖形凹槽,成品率,污染
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