測厚儀(yi)可(ke)以用來(lai)在線(xian)(xian)測量軋(ya)制(zhi)后(hou)(hou)的(de)(de)(de)(de)板(ban)(ban)帶(dai)材(cai)厚度，并(bing)以電(dian)訊(xun)號的(de)(de)(de)(de)形式輸出。該電(dian)訊(xun)號輸給顯示器和自(zi)動(dong)厚度控制(zhi)系統，以實(shi)現(xian)對(dui)板(ban)(ban)帶(dai)厚度的(de)(de)(de)(de)自(zi)動(dong)厚度控制(zhi)（AGC）。 目前常(chang)見的(de)(de)(de)(de)測厚儀(yi)有γ射(she)線(xian)(xian)、β射(she)線(xian)(xian)、x射(she)線(xian)(xian)及同位素射(she)線(xian)(xian)等四種，其安放位置均在板(ban)(ban)帶(dai)軋(ya)機的(de)(de)(de)(de)出口(kou)或入口(kou)側。設計、安裝(zhuang)測厚儀(yi)時要在可(ke)能的(de)(de)(de)(de)條件(jian)下(xia)盡量靠近工(gong)作輥，目的(de)(de)(de)(de)是降低(di)板(ban)(ban)厚的(de)(de)(de)(de)滯后(hou)(hou)調整(zheng)時間(jian)。
用于(yu)測定(ding)材料本身厚(hou)(hou)度或材料表(biao)面(mian)覆(fu)蓋層厚(hou)(hou)度的儀器。有些(xie)構件(jian)在制造和檢修時(shi)必(bi)須測量其厚(hou)(hou)度，以(yi)便了解材料的厚(hou)(hou)薄規格，各點均勻度和材料腐蝕(shi)、磨損程(cheng)度；有時(shi)則要測定(ding)材料表(biao)面(mian)的覆(fu)蓋層厚(hou)(hou)度，以(yi)保(bao)證產品質(zhi)量和生產安全。根(gen)據測定(ding)原理的不同，常用測厚(hou)(hou)儀有超聲、磁性、渦(wo)流、同位素等四種。
超聲波(bo)測厚(hou)儀(yi)超聲波(bo)在(zai)(zai)各種介質中的(de)(de)聲速是不同(tong)的(de)(de)，但(dan)在(zai)(zai)同(tong)一(yi)介質中聲速是一(yi)常數。超聲波(bo)在(zai)(zai)介質中傳(chuan)播遇到第二種介質時會被反(fan)射，測量超聲波(bo)脈(mo)沖(chong)從(cong)發射至接收(shou)的(de)(de)間(jian)(jian)隔時間(jian)(jian)，即可將(jiang)這(zhe)間(jian)(jian)隔時間(jian)(jian)換算(suan)成厚(hou)度(du)。在(zai)(zai)電力工業中應(ying)用(yong)最廣的(de)(de)就是這(zhe)類測厚(hou)儀(yi)。常用(yong)于(yu)(yu)測定鍋爐(lu)鍋筒、受熱面管子、管道等的(de)(de)厚(hou)度(du)，也用(yong)于(yu)(yu)校核工件(jian)結構(gou)尺寸(cun)等。這(zhe)類測厚(hou)儀(yi)多是攜(xie)帶(dai)式(shi)的(de)(de)，體積與(yu)小型(xing)半導(dao)體收(shou)音機相近，厚(hou)度(du)值的(de)(de)顯示多是數字式(shi)的(de)(de)。對(dui)于(yu)(yu)鋼材，最大測定厚(hou)度(du)達2000mm左(zuo)右，精(jing)度(du)在(zai)(zai)±0.01～±0.1mm之(zhi)間(jian)(jian)。
磁性測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀在測(ce)(ce)定各種導磁材料的(de)(de)(de)磁阻(zu)時，測(ce)(ce)定值(zhi)會因(yin)其表(biao)面非導磁覆蓋(gai)層(ceng)厚(hou)(hou)度的(de)(de)(de)不同而(er)發生變化(hua)。利用(yong)(yong)這種變化(hua)即(ji)可測(ce)(ce)知覆蓋(gai)層(ceng)厚(hou)(hou)度值(zhi)。常(chang)用(yong)(yong)于測(ce)(ce)定鐵磁金屬(shu)表(biao)面上的(de)(de)(de)噴(pen)鋁(lv)層(ceng)、塑料層(ceng)、電(dian)鍍層(ceng)、磷(lin)化(hua)層(ceng)、油漆層(ceng)等(deng)的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度。
渦(wo)流測厚儀當載有高(gao)頻電流的(de)探頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)置于(yu)被(bei)測金屬(shu)表面(mian)時，由于(yu)高(gao)頻磁(ci)場的(de)作(zuo)用(yong)而使(shi)金屬(shu)體內產生(sheng)渦(wo)流，此(ci)渦(wo)流產生(sheng)的(de)磁(ci)場又(you)反作(zuo)用(yong)于(yu)探頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)，使(shi)其(qi)阻(zu)抗(kang)發(fa)生(sheng)變(bian)化(hua)，此(ci)變(bian)化(hua)量與(yu)探頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)離金屬(shu)表面(mian)的(de)距(ju)離（即覆蓋層的(de)厚度(du)）有關，因而根(gen)據探頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)阻(zu)抗(kang)的(de)變(bian)化(hua)可間(jian)接測量金屬(shu)表面(mian)覆蓋層的(de)厚度(du)。常用(yong)于(yu)測定鋁材上的(de)氧化(hua)膜或鋁、銅表面(mian)上其(qi)他絕緣覆蓋層的(de)厚度(du)。
同(tong)(tong)位(wei)素測厚儀利用(yong)物質厚度不同(tong)(tong)對輻射(she)的(de)吸(xi)收與散(san)射(she)不同(tong)(tong)的(de)原理，可以測定薄(bo)鋼(gang)板、薄(bo)銅板、薄(bo)鋁板、硅鋼(gang)片、合金(jin)片等金(jin)屬材料及橡膠片，塑料膜(mo)，紙張等的(de)厚度。常用(yong)的(de)同(tong)(tong)位(wei)素射(she)線(xian)有γ射(she)線(xian)、β射(she)線(xian)等。
測(ce)厚(hou)(hou)儀的(de)測(ce)試方法主(zhu)要有：磁性測(ce)厚(hou)(hou)法，放射測(ce)厚(hou)(hou)法，電解測(ce)厚(hou)(hou)法，渦流測(ce)厚(hou)(hou)法，超聲波測(ce)厚(hou)(hou)法。
測量注意事項：
⒈在(zai)進行(xing)測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表(biao)面粗糙度應當與試件(jian)相似。
⒉測量時側頭與試樣表面(mian)保持垂直。
⒊測量(liang)時要注(zhu)意基體金(jin)屬(shu)的臨界(jie)厚度(du)，如(ru)果大于這個厚度(du)測量(liang)就不受基體金(jin)屬(shu)厚度(du)的影響。
⒋測(ce)量時要注意試(shi)件的(de)曲率(lv)對測(ce)量的(de)影響。因此在彎曲的(de)試(shi)件表面上(shang)測(ce)量時不可靠的(de)。
⒌測量前(qian)要注(zhu)意周圍其他的電(dian)器設備會(hui)不會(hui)產(chan)生磁場(chang)，如果會(hui)將會(hui)干擾磁性測厚法(fa)。
⒍測量時要注意不要在內(nei)轉角處(chu)和(he)靠近試件邊緣處(chu)測量，因為一(yi)般的測厚儀試件表面形狀的忽然變(bian)化很敏感。
⒎在(zai)測量(liang)時要(yao)保持壓力的(de)恒(heng)定(ding)，否則會影響測量(liang)的(de)讀數。
⒏在進行測(ce)試的時候要(yao)注意儀(yi)器測(ce)頭和(he)被測(ce)試件的要(yao)直接接觸，因此超聲波測(ce)厚儀(yi)在進行對側頭清除附(fu)著(zhu)物質(zhi)。
1、激(ji)光測(ce)厚儀是利用激(ji)光的(de)反射(she)原理(li)，根(gen)據光切(qie)法測(ce)量和(he)觀(guan)(guan)察機(ji)械制造中零件加工表面的(de)微觀(guan)(guan)幾何形狀(zhuang)來測(ce)量產品的(de)厚度(du)，是一(yi)種(zhong)非接觸式的(de)動態(tai)測(ce)量儀器。它(ta)可直接輸(shu)出數(shu)字信號與工業計算機(ji)相(xiang)連接，并(bing)迅速(su)處理(li)數(shu)據并(bing)輸(shu)出偏差值(zhi)到各種(zhong)工業設備。
2、X射線(xian)(xian)測(ce)厚(hou)(hou)儀利用(yong)X射線(xian)(xian)穿透被測(ce)材料時，X射線(xian)(xian)的(de)(de)強度的(de)(de)變化與(yu)材料的(de)(de)厚(hou)(hou)度相關(guan)的(de)(de)特(te)性(xing)，滄州歐譜(pu)從而測(ce)定材料的(de)(de)厚(hou)(hou)度，是一種(zhong)非接觸式的(de)(de)動態計(ji)量(liang)儀器。它以PLC和工業計(ji)算機為核心，采集計(ji)算數據并輸出目(mu)標偏差值給軋機厚(hou)(hou)度控制(zhi)系統，達到(dao)要求的(de)(de)軋制(zhi)厚(hou)(hou)度。主要應用(yong)行(xing)業：有(you)色(se)金屬的(de)(de)板(ban)帶箔加工、冶金行(xing)業的(de)(de)板(ban)帶加工。
3、紙(zhi)張測厚儀：適(shi)用(yong)于(yu)4mm以下(xia)的(de)各種薄(bo)膜、紙(zhi)張、紙(zhi)板以及其他片狀材料厚度的(de)測量。
4、薄(bo)膜測(ce)(ce)厚儀(yi)：用于測(ce)(ce)定(ding)薄(bo)膜、薄(bo)片等材(cai)料(liao)的厚度，測(ce)(ce)量(liang)范圍寬、測(ce)(ce)量(liang)精度高，具有數據輸(shu)出(chu)、任意位置置零(ling)、公英制(zhi)轉換、自動斷電等特點。
5、涂(tu)層測厚儀(yi)：用于(yu)測量鐵及非鐵金(jin)屬基體上涂(tu)層的(de)厚度(du)。
6、超(chao)聲波(bo)測(ce)(ce)厚儀(yi)：超(chao)聲波(bo)測(ce)(ce)厚儀(yi)是根據超(chao)聲波(bo)脈沖(chong)反射(she)(she)原理(li)來進行厚度測(ce)(ce)量的(de)，當探頭(tou)(tou)發(fa)射(she)(she)的(de)超(chao)聲波(bo)脈沖(chong)通過(guo)被測(ce)(ce)物體(ti)到達材料(liao)分界面(mian)時，脈沖(chong)被反射(she)(she)回探頭(tou)(tou)，通過(guo)精確測(ce)(ce)量超(chao)聲波(bo)在(zai)材料(liao)中傳播(bo)的(de)時間來確定被測(ce)(ce)材料(liao)的(de)厚度。凡能使超(chao)聲波(bo)以一恒定速度在(zai)其內部傳播(bo)的(de)各種(zhong)材料(liao)均可采用此原理(li)測(ce)(ce)量。
