測厚儀可(ke)以用來在線測量軋(ya)(ya)制(zhi)后的(de)(de)板帶材厚度(du)，并以電訊(xun)(xun)號(hao)的(de)(de)形式(shi)輸出(chu)。該電訊(xun)(xun)號(hao)輸給顯示器(qi)和自(zi)(zi)動(dong)厚度(du)控(kong)制(zhi)系統，以實現對板帶厚度(du)的(de)(de)自(zi)(zi)動(dong)厚度(du)控(kong)制(zhi)（AGC）。 目(mu)前常見(jian)的(de)(de)測厚儀有γ射線、β射線、x射線及同位(wei)素射線等四種，其安放位(wei)置均(jun)在板帶軋(ya)(ya)機的(de)(de)出(chu)口(kou)或入(ru)口(kou)側。設計(ji)、安裝測厚儀時(shi)要在可(ke)能的(de)(de)條件下盡量靠近工作輥(gun)，目(mu)的(de)(de)是降(jiang)低板厚的(de)(de)滯后調整時(shi)間。
用于測(ce)(ce)定材(cai)(cai)料(liao)本身厚(hou)度(du)或材(cai)(cai)料(liao)表面覆蓋(gai)(gai)層厚(hou)度(du)的(de)(de)儀器。有(you)些構件(jian)在制造和(he)檢修時必(bi)須測(ce)(ce)量其厚(hou)度(du)，以便了解(jie)材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)厚(hou)薄規格，各點(dian)均(jun)勻度(du)和(he)材(cai)(cai)料(liao)腐(fu)蝕、磨損程度(du)；有(you)時則要測(ce)(ce)定材(cai)(cai)料(liao)表面的(de)(de)覆蓋(gai)(gai)層厚(hou)度(du)，以保證(zheng)產(chan)品質量和(he)生(sheng)產(chan)安全。根據測(ce)(ce)定原(yuan)理的(de)(de)不同(tong)，常用測(ce)(ce)厚(hou)儀有(you)超聲、磁性(xing)、渦流、同(tong)位素(su)等四種(zhong)。
超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)測(ce)(ce)厚(hou)儀超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)各種介質(zhi)(zhi)(zhi)中(zhong)的(de)聲(sheng)(sheng)速是(shi)不同的(de)，但在(zai)同一(yi)介質(zhi)(zhi)(zhi)中(zhong)聲(sheng)(sheng)速是(shi)一(yi)常(chang)數。超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)介質(zhi)(zhi)(zhi)中(zhong)傳播遇到第二種介質(zhi)(zhi)(zhi)時(shi)會被反(fan)射，測(ce)(ce)量超聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)脈沖(chong)從發射至接收的(de)間(jian)隔時(shi)間(jian)，即可將這(zhe)間(jian)隔時(shi)間(jian)換算成(cheng)厚(hou)度(du)。在(zai)電力工業中(zhong)應用(yong)最廣(guang)的(de)就是(shi)這(zhe)類測(ce)(ce)厚(hou)儀。常(chang)用(yong)于測(ce)(ce)定鍋(guo)爐鍋(guo)筒、受熱面管子、管道等的(de)厚(hou)度(du)，也用(yong)于校核工件結(jie)構尺寸等。這(zhe)類測(ce)(ce)厚(hou)儀多(duo)是(shi)攜帶式的(de)，體積(ji)與(yu)小型半導體收音機相近，厚(hou)度(du)值的(de)顯示多(duo)是(shi)數字(zi)式的(de)。對于鋼材，最大測(ce)(ce)定厚(hou)度(du)達2000mm左右(you)，精(jing)度(du)在(zai)±0.01～±0.1mm之間(jian)。
磁(ci)(ci)性測(ce)厚儀(yi)在測(ce)定(ding)各種導(dao)磁(ci)(ci)材料的(de)磁(ci)(ci)阻時，測(ce)定(ding)值會因其表面非導(dao)磁(ci)(ci)覆蓋(gai)(gai)層厚度(du)的(de)不(bu)同而發生變化(hua)(hua)。利用這種變化(hua)(hua)即可測(ce)知覆蓋(gai)(gai)層厚度(du)值。常用于測(ce)定(ding)鐵磁(ci)(ci)金屬表面上的(de)噴(pen)鋁層、塑料層、電鍍層、磷化(hua)(hua)層、油漆(qi)層等的(de)厚度(du)。
渦(wo)流(liu)測厚(hou)(hou)儀當(dang)載有高頻電(dian)流(liu)的(de)探(tan)頭線(xian)圈(quan)(quan)置于(yu)(yu)被測金(jin)屬(shu)(shu)(shu)表(biao)面(mian)時，由于(yu)(yu)高頻磁場的(de)作(zuo)用(yong)而使金(jin)屬(shu)(shu)(shu)體內產(chan)生渦(wo)流(liu)，此渦(wo)流(liu)產(chan)生的(de)磁場又反作(zuo)用(yong)于(yu)(yu)探(tan)頭線(xian)圈(quan)(quan)，使其(qi)阻(zu)抗發生變(bian)化，此變(bian)化量與(yu)探(tan)頭線(xian)圈(quan)(quan)離金(jin)屬(shu)(shu)(shu)表(biao)面(mian)的(de)距離（即覆(fu)(fu)蓋(gai)層(ceng)的(de)厚(hou)(hou)度(du)）有關，因而根據探(tan)頭線(xian)圈(quan)(quan)阻(zu)抗的(de)變(bian)化可(ke)間接測量金(jin)屬(shu)(shu)(shu)表(biao)面(mian)覆(fu)(fu)蓋(gai)層(ceng)的(de)厚(hou)(hou)度(du)。常用(yong)于(yu)(yu)測定鋁材上的(de)氧化膜或鋁、銅表(biao)面(mian)上其(qi)他(ta)絕(jue)緣覆(fu)(fu)蓋(gai)層(ceng)的(de)厚(hou)(hou)度(du)。
同(tong)位素測厚(hou)儀利用(yong)(yong)物質厚(hou)度不同(tong)對輻射(she)的(de)吸(xi)收與散(san)射(she)不同(tong)的(de)原(yuan)理(li)，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片(pian)、合金(jin)片(pian)等(deng)金(jin)屬材料及橡(xiang)膠片(pian)，塑料膜，紙(zhi)張等(deng)的(de)厚(hou)度。常用(yong)(yong)的(de)同(tong)位素射(she)線有γ射(she)線、β射(she)線等(deng)。
測(ce)(ce)厚儀的測(ce)(ce)試方法主要有(you)：磁性(xing)測(ce)(ce)厚法，放射測(ce)(ce)厚法，電解測(ce)(ce)厚法，渦流測(ce)(ce)厚法，超聲波測(ce)(ce)厚法。
測量注意事項：
⒈在(zai)進行(xing)測試的(de)時候要注意標準片集體的(de)金屬磁性和表面(mian)粗(cu)糙度(du)應(ying)當與(yu)試件相似(si)。
⒉測量時側頭與試(shi)樣表面保持垂直。
⒊測量(liang)時(shi)要注意基體(ti)(ti)金(jin)屬(shu)的臨界厚(hou)度，如果大于這個厚(hou)度測量(liang)就不受基體(ti)(ti)金(jin)屬(shu)厚(hou)度的影響。
⒋測量(liang)時要注意試(shi)件的(de)曲率對測量(liang)的(de)影響(xiang)。因此在彎曲的(de)試(shi)件表面上測量(liang)時不可靠的(de)。
⒌測(ce)量前要注(zhu)意周圍其(qi)他的電(dian)器設(she)備會不會產生磁場(chang)，如果(guo)會將會干擾磁性測(ce)厚法。
⒍測量時要注意不(bu)要在內轉角處(chu)和靠近試(shi)件邊緣處(chu)測量，因為(wei)一般的測厚儀試(shi)件表面形狀(zhuang)的忽然(ran)變化很(hen)敏感。
⒎在測(ce)量時要(yao)保持壓力的(de)恒定，否則會(hui)影響(xiang)測(ce)量的(de)讀數。
⒏在進行(xing)(xing)測試的(de)時候要注意儀器測頭和被測試件(jian)的(de)要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行(xing)(xing)對側(ce)頭清除附著物質。
1、激光測(ce)(ce)厚儀是(shi)利用激光的(de)反射原理(li)，根(gen)據光切法測(ce)(ce)量和觀(guan)察機(ji)械制(zhi)造中零(ling)件加工(gong)(gong)表面的(de)微觀(guan)幾何形狀來(lai)測(ce)(ce)量產品的(de)厚度，是(shi)一種非接觸(chu)式的(de)動態測(ce)(ce)量儀器。它(ta)可直接輸(shu)(shu)出數字信號與工(gong)(gong)業計算(suan)機(ji)相連接，并迅速處(chu)理(li)數據并輸(shu)(shu)出偏差(cha)值到(dao)各種工(gong)(gong)業設備。
2、X射線測厚(hou)(hou)儀(yi)利用X射線穿透被(bei)測材料(liao)時，X射線的(de)強(qiang)度(du)的(de)變化與材料(liao)的(de)厚(hou)(hou)度(du)相(xiang)關的(de)特性，滄州歐(ou)譜從而(er)測定材料(liao)的(de)厚(hou)(hou)度(du)，是一種非接觸(chu)式的(de)動(dong)態計(ji)量儀(yi)器。它以PLC和(he)工業計(ji)算機為核心，采集(ji)計(ji)算數據并輸出目標偏差值(zhi)給(gei)軋機厚(hou)(hou)度(du)控制系統，達(da)到要求的(de)軋制厚(hou)(hou)度(du)。主要應(ying)用行(xing)業：有色金(jin)屬(shu)的(de)板帶(dai)箔加(jia)工、冶金(jin)行(xing)業的(de)板帶(dai)加(jia)工。
3、紙張測厚儀：適用于4mm以下(xia)的各種薄(bo)膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄(bo)膜測(ce)厚(hou)儀(yi)：用于測(ce)定薄(bo)膜、薄(bo)片等材料的厚(hou)度(du)，測(ce)量范圍寬、測(ce)量精度(du)高，具有數據輸出、任(ren)意位(wei)置置零、公英制轉(zhuan)換(huan)、自(zi)動斷電等特(te)點(dian)。
5、涂(tu)(tu)層測(ce)厚儀(yi)：用于(yu)測(ce)量鐵及非鐵金屬基(ji)體(ti)上涂(tu)(tu)層的厚度。
6、超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波測厚儀：超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波測厚儀是根據超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)反(fan)射(she)原(yuan)理來進行厚度測量的(de)(de)，當探(tan)頭發射(she)的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)通過被測物體到(dao)達材(cai)(cai)料(liao)分界面時，脈(mo)沖(chong)(chong)(chong)被反(fan)射(she)回(hui)探(tan)頭，通過精確(que)(que)測量超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波在材(cai)(cai)料(liao)中傳播(bo)的(de)(de)時間來確(que)(que)定被測材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)厚度。凡能(neng)使超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波以(yi)一恒定速(su)度在其內部傳播(bo)的(de)(de)各種材(cai)(cai)料(liao)均可采用(yong)此原(yuan)理測量。
