1、地電波檢測

在(zai)高壓開(kai)關(guan)(guan)柜(ju)絕緣(yuan)層(ceng)中發生局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)時會產生電(dian)磁波(bo)，而開(kai)關(guan)(guan)柜(ju)的(de)(de)金(jin)屬外(wai)殼(ke)會將這(zhe)種電(dian)磁波(bo)屏蔽掉一大(da)部(bu)分，不過仍有(you)小(xiao)部(bu)分會通(tong)過金(jin)屬殼(ke)體的(de)(de)接縫或者氣體絕緣(yuan)開(kai)關(guan)(guan)襯墊傳播出(chu)去(qu)，而且(qie)還會產生一個(ge)(ge)地電(dian)波(bo)通(tong)過設(she)備金(jin)屬殼(ke)體外(wai)表面傳向(xiang)地下。地電(dian)波(bo)的(de)(de)范(fan)圍通(tong)常在(zai)幾(ji)毫(hao)伏直至幾(ji)伏中間，而且(qie)上升(sheng)時間內有(you)幾(ji)個(ge)(ge)納秒。可以將探頭設(she)置于工作(zuo)狀態中的(de)(de)開(kai)關(guan)(guan)柜(ju)的(de)(de)外(wai)表面，對局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)活動進行(xing)檢測。

2、超聲波檢測

其(qi)實超聲(sheng)波檢測屬于機械(xie)振動波的(de)(de)一種(zhong)(zhong)，基于能(neng)(neng)量的(de)(de)角度(du)(du)而言，局部放電的(de)(de)過程即為(wei)能(neng)(neng)量瞬(shun)時爆發(fa)的(de)(de)過程，電能(neng)(neng)通過聲(sheng)能(neng)(neng)、光能(neng)(neng)、熱(re)能(neng)(neng)以(yi)(yi)及電磁能(neng)(neng)的(de)(de)形(xing)式釋(shi)放出去，電氣(qi)擊穿(chuan)發(fa)生在空氣(qi)間隙，瞬(shun)間就可以(yi)(yi)完(wan)成(cheng)放電，此(ci)時電能(neng)(neng)也會(hui)在一瞬(shun)間轉化為(wei)熱(re)能(neng)(neng)，放電中心(xin)的(de)(de)氣(qi)體受到(dao)熱(re)能(neng)(neng)的(de)(de)作用會(hui)發(fa)生膨脹，通過聲(sheng)波向外傳(chuan)播，傳(chuan)播區域(yu)內氣(qi)體被加熱(re)后形(xing)成(cheng)一個(ge)等(deng)溫區，其(qi)溫度(du)(du)超出環境(jing)溫度(du)(du)；等(deng)到(dao)這些氣(qi)體冷(leng)卻(que)后開(kai)始收(shou)縮，則會(hui)產生后續波，后續波的(de)(de)頻(pin)率(lv)以(yi)(yi)及強(qiang)度(du)(du)均比較低，包含各種(zhong)(zhong)頻(pin)率(lv)分(fen)量，有很(hen)寬的(de)(de)頻(pin)帶，超聲(sheng)波的(de)(de)頻(pin)率(lv)大于20kHz。因為(wei)局部放電的(de)(de)區域(yu)相對較小，所以(yi)(yi)局放聲(sheng)源即為(wei)點聲(sheng)源。

3、超高頻檢測法

時(shi)間(jian)變化過(guo)程(cheng)中(zhong)，局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)所產生(sheng)的(de)電(dian)(dian)磁振動會(hui)(hui)產生(sheng)電(dian)(dian)磁波(bo)，在(zai)固氣(qi)與氣(qi)體(ti)介質中(zhong)，局(ju)部放(fang)電(dian)(dian)脈沖會(hui)(hui)發生(sheng)非常豐富(fu)的(de)電(dian)(dian)磁波(bo)超高頻分量。在(zai)實際應(ying)用(yong)過(guo)程(cheng)中(zhong)，局(ju)放(fang)信號的(de)檢測可(ke)以(yi)利用(yong)兩個探(tan)頭(tou)(tou)來(lai)進行(xing)，將探(tan)頭(tou)(tou)檢測到信號的(de)時(shi)間(jian)順序(xu)作為判(pan)(pan)斷依據，放(fang)電(dian)(dian)源的(de)距離較近(jin)，就會(hui)(hui)被先檢測到；探(tan)頭(tou)(tou)位(wei)置(zhi)不(bu)斷變化，可(ke)以(yi)將放(fang)電(dian)(dian)源的(de)大致(zhi)位(wei)置(zhi)逐步判(pan)(pan)斷出(chu)來(lai)。或(huo)者通過(guo)多(duo)個探(tan)頭(tou)(tou)，將探(tan)頭(tou)(tou)檢測局(ju)放(fang)信號的(de)時(shi)間(jian)差列方(fang)程(cheng)組，可(ke)以(yi)求出(chu)放(fang)電(dian)(dian)源的(de)三維(wei)空間(jian)坐標(biao)，最終確定放(fang)電(dian)(dian)源。該方(fang)法的(de)靈敏度相(xiang)對較高，且(qie)具(ju)備較強(qiang)的(de)抗干擾(rao)能力。