一、電芯k值如何計算

電芯的(de)K值(zhi)是一個重要的(de)性能指標，它反(fan)映了電池的(de)老化速度和容量。具體(ti)來說，K值(zhi)是通過測量電池充滿后(hou)達到(dao)的(de)飽和電量與其實際放電電流(liu)的(de)比值(zhi)計算(suan)得出的(de)，也被(bei)稱為額(e)定充放電倍率。具體(ti)計算(suan)方(fang)式(shi)如(ru)下(xia)：

K=電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池充放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)或(huo)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)上(shang)、下(xia)(xia)限值(zhi)的(de)最大(da)正弦波(bo)幅值(zhi)差與標稱值(zhi)的(de)百分比，即K=（Umax-Umin）%÷UN×100%。其中(zhong)(zhong)，K代表偏差系數；UN為(wei)標準(zhun)規(gui)定(ding)輸(shu)入(ru)/輸(shu)出直流(liu)母線額(e)定(ding)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)（V）；Umax為(wei)在某工況下(xia)(xia)的(de)最高測試點(dian)對應(ying)的(de)充、放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)；Umin為(wei)在某工況下(xia)(xia)的(de)最低測試點(dian)對應(ying)的(de)充、放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)。這些數據需要在實(shi)際(ji)測量中(zhong)(zhong)獲取。

二、影響電芯k值的因素有什么

1、正負極材料、電解液種類、隔膜厚度種類

由(you)于自(zi)放電(dian)很大程度上是發生于材(cai)料之間，因此材(cai)料的性能(neng)對自(zi)放電(dian)有很大的影響。有人曾做實驗得知三元材(cai)料比鈷(gu)酸鋰電(dian)池自(zi)放電(dian)更(geng)高。

2、存儲的時間

存儲時(shi)間變(bian)長，一方(fang)面(mian)是(shi)使壓降的絕對值(zhi)增大(da)，另一方(fang)面(mian)則變(bian)相的減少了(le)“儀器絕對誤差/壓降值(zhi)”，從而使結果更(geng)為準確。但儲存時(shi)間過長也(ye)會使正負極(ji)之(zhi)間容(rong)量的平衡逐漸被打(da)破并深(shen)化，電解液(ye)的分(fen)解也(ye)會累計一些不可逆容(rong)量損失，使自放電變(bian)大(da)。

3、存儲的條件

存儲溫度(du)和濕度(du)的增(zeng)加，會(hui)增(zeng)大自(zi)放電(dian)程度(du)。

4、保護板自耗

與電(dian)芯保(bao)護板自耗電(dian)也(ye)有一定(ding)關系(xi)。

5、測試的初始電壓

初(chu)始電壓（或者說一(yi)次電壓）不同(tong)，所得K值差別明顯。一(yi)般初(chu)始電壓過高(gao)，自放電率越大(da)。

嚴格的說，自放電用容量的衰減來表示，只是沒有合適的設備在不讓電芯放電(dian)(dian)的(de)情況下直接測(ce)出其(qi)剩(sheng)余容(rong)量，而只能是通過(guo)測(ce)量其(qi)電(dian)(dian)壓(ya)來(lai)間接的(de)衡量其(qi)自(zi)放電(dian)(dian)，也就是所(suo)說的(de)K值(zhi)，所(suo)以如(ru)果環境條件的(de)改變(bian)引起測(ce)試電(dian)(dian)壓(ya)的(de)偏差(cha)可能導致K值(zhi)的(de)測(ce)量誤(wu)差(cha)，我(wo)們(men)在實(shi)際測(ce)量時(shi)甚至得到(dao)了K為負值(zhi)的(de)情況，這顯然與自(zi)放電(dian)(dian)本身的(de)意義相矛(mao)盾，因此需要對設備經常進行校(xiao)驗，測(ce)量環境保持一致。