一、光時域反射儀測試誤差的原因有哪些

光時域(yu)反射儀是一(yi)種精(jing)密儀器，但測(ce)試(shi)過程(cheng)中，或(huo)多或(huo)少(shao)會存在(zai)一(yi)些誤(wu)差(cha)，一(yi)般導致測(ce)試(shi)誤(wu)差(cha)的原因主要有(you)：

1、OTDR光時域反射儀存在的固有偏差

由OTDR的(de)測試原理可知(zhi)，它是按(an)一定(ding)的(de)周(zhou)期向被測光(guang)(guang)纖(xian)發(fa)送光(guang)(guang)脈沖，再按(an)一定(ding)的(de)速率(lv)將來(lai)自光(guang)(guang)纖(xian)的(de)背向散(san)射(she)信號抽(chou)樣(yang)、量化(hua)、編碼后(hou)，存(cun)儲并(bing)顯示(shi)出來(lai)。OTDR光(guang)(guang)時域反(fan)射(she)儀本身由于(yu)(yu)抽(chou)樣(yang)間隔而存(cun)在誤差，這種固有偏差主要反(fan)映在距(ju)離分(fen)辯率(lv)上。OTDR的(de)距(ju)離分(fen)辯率(lv)正比于(yu)(yu)抽(chou)樣(yang)頻率(lv)。

2、測試儀表操作不當產生的誤差

在(zai)光纜故障定(ding)位測(ce)試時(shi)，OTDR光時(shi)域反(fan)射儀使(shi)用的(de)正確(que)性與障礙測(ce)試的(de)準確(que)性直接相(xiang)關，儀表參數設定(ding)和準確(que)性、儀表量程范圍(wei)的(de)選擇不當或光標(biao)設置不準等都(dou)將導(dao)致測(ce)試結果的(de)誤差。

（1）設定儀表的折射率偏差產生的誤差

不(bu)同(tong)類型和廠家的(de)(de)(de)光(guang)纖(xian)的(de)(de)(de)折射(she)率(lv)(lv)是不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)。使用OTDR測試(shi)光(guang)纖(xian)長度時(shi)，必(bi)須先進行儀(yi)表參(can)數設(she)定，折射(she)率(lv)(lv)的(de)(de)(de)設(she)定就是其中之一(yi)。當幾段光(guang)纜的(de)(de)(de)折射(she)率(lv)(lv)不(bu)同(tong)時(shi)可采(cai)用分段設(she)置的(de)(de)(de)方(fang)法，以減少因折射(she)率(lv)(lv)設(she)置誤差(cha)而(er)造成的(de)(de)(de)測試(shi)誤差(cha)。

（2）量程范圍選擇不當

OTDR光(guang)(guang)時域(yu)反射(she)儀測(ce)試(shi)距離(li)分辯率為1米(mi)(mi)(mi)時，它是指圖形放大到(dao)水平(ping)刻度為25米(mi)(mi)(mi)/格時才能實現(xian)。儀表(biao)設計是以光(guang)(guang)標(biao)(biao)每(mei)移(yi)(yi)動(dong)25步(bu)(bu)為1滿(man)格。在這種情況下，光(guang)(guang)標(biao)(biao)每(mei)移(yi)(yi)動(dong)一步(bu)(bu)，即(ji)表(biao)示移(yi)(yi)動(dong)1米(mi)(mi)(mi)的(de)距離(li)，所以讀出分辯率為1米(mi)(mi)(mi)。如果(guo)水平(ping)刻度選擇(ze)2公(gong)里(li)/每(mei)格，則光(guang)(guang)標(biao)(biao)每(mei)移(yi)(yi)動(dong)一步(bu)(bu)，距離(li)就會偏移(yi)(yi)80米(mi)(mi)(mi)。由此可見，測(ce)試(shi)時選擇(ze)的(de)量程范(fan)圍越大，測(ce)試(shi)結果(guo)的(de)偏差就越大。

（3）脈沖寬度選擇不當

在脈(mo)沖(chong)幅度相同的(de)條件下，脈(mo)沖(chong)寬(kuan)度越(yue)大，脈(mo)沖(chong)能量就(jiu)(jiu)越(yue)大，此時(shi)OTDR的(de)動態范(fan)圍也(ye)越(yue)大，相應盲(mang)區也(ye)就(jiu)(jiu)大。

（4）平均化處理時間選擇不當

OTDR測(ce)(ce)試曲線是將每次輸出脈(mo)沖(chong)后的反(fan)射信號采(cai)樣，并把多次采(cai)樣做平均(jun)處理(li)以消(xiao)除一(yi)些隨機事件，平均(jun)化時(shi)(shi)間越(yue)(yue)(yue)長，噪聲電平越(yue)(yue)(yue)接近最小值，動態范圍就越(yue)(yue)(yue)大。平均(jun)化時(shi)(shi)間越(yue)(yue)(yue)長，測(ce)(ce)試精度越(yue)(yue)(yue)高(gao)(gao)，但(dan)達到一(yi)定程度時(shi)(shi)精度不再提高(gao)(gao)。為了提高(gao)(gao)測(ce)(ce)試速度，縮(suo)短(duan)整體(ti)測(ce)(ce)試時(shi)(shi)間，一(yi)般測(ce)(ce)試時(shi)(shi)間可在0.5~3分鐘(zhong)內選(xuan)擇。

（5）光標位置放置不當

光(guang)纖活(huo)動連(lian)接器、機械(xie)接頭和光(guang)纖中的斷裂都會(hui)(hui)引(yin)起損耗和反射，光(guang)纖末端(duan)的破裂端(duan)面由于末端(duan)端(duan)面的不規則性會(hui)(hui)產生(sheng)各種菲(fei)涅(nie)爾反射峰或者不產生(sheng)菲(fei)涅(nie)爾反射。如果(guo)光(guang)標設置不夠準確(que)，也(ye)會(hui)(hui)產生(sheng)一定誤差。

二、如何減少OTDR測試誤差

為了(le)減少測(ce)試誤差，在使用(yong)OTDR光(guang)時域反射儀(yi)的時候，可以采(cai)取以下幾個方(fang)法：

1、設定儀表的折射率偏差

不同類(lei)型和(he)廠家(jia)的光(guang)纖(xian)的折射率是不同的，使用OTDR測(ce)試光(guang)纖(xian)長度時(shi)，必須先進行儀表參數設定(ding)，折射率的設定(ding)就是其(qi)中之(zhi)一。當幾(ji)段(duan)光(guang)纜的折射率不同時(shi)可采用分段(duan)設置(zhi)的方法，以(yi)減少因折射率設置(zhi)誤差(cha)而造成的測(ce)試誤差(cha)。

2、選擇正確的量程范圍

OTDR測試距(ju)離(li)分辯率為1米(mi)時(shi)，它是指(zhi)圖形放大到水(shui)(shui)平刻度(du)為25米(mi)/格(ge)時(shi)才(cai)能實現。儀表設計是以(yi)(yi)光(guang)標(biao)每移(yi)(yi)(yi)(yi)動(dong)25步(bu)為1滿格(ge)，在這種情況下，光(guang)標(biao)每移(yi)(yi)(yi)(yi)動(dong)一步(bu)，即表示移(yi)(yi)(yi)(yi)動(dong)1米(mi)的距(ju)離(li)，所以(yi)(yi)讀出分辯率為1米(mi)；如果水(shui)(shui)平刻度(du)選擇(ze)2公里/每格(ge)，則光(guang)標(biao)每移(yi)(yi)(yi)(yi)動(dong)一步(bu)，距(ju)離(li)就會偏移(yi)(yi)(yi)(yi)80米(mi)。

3、保持測試參數的一致性

在光纖線路的測試中，應盡量保持使用同一塊光時域反射儀進(jin)(jin)行某條線路(lu)的(de)測(ce)(ce)試(shi)，各次測(ce)(ce)試(shi)時主要參數(shu)值(zhi)的(de)設置(zhi)也應保持一(yi)(yi)致，這(zhe)樣(yang)可以(yi)減少測(ce)(ce)試(shi)誤差，便于(yu)和上次的(de)測(ce)(ce)試(shi)結果比(bi)較。即(ji)使(shi)使(shi)用不(bu)(bu)同型號的(de)儀表進(jin)(jin)行測(ce)(ce)試(shi)，只要其動態范(fan)圍能達(da)到要求，折射率、波(bo)長、脈寬(kuan)、距離、均化時間等參數(shu)的(de)設置(zhi)亦和上一(yi)(yi)次的(de)相同，這(zhe)樣(yang)測(ce)(ce)試(shi)數(shu)據一(yi)(yi)般(ban)不(bu)(bu)會有大的(de)差別。

4、選擇合適的測試方式

通過(guo)OTDR來對光纖(xian)線路進(jin)行(xing)測試，就會考慮(lv)到實(shi)時、自動與手動三種相(xiang)應的(de)處理方式(shi)。在進(jin)行(xing)實(shi)時處理中，要(yao)求對于(yu)刷(shua)新曲線進(jin)行(xing)不斷(duan)地掃描(miao)，但是因(yin)為曲線反復跳動和變化的(de)緣故，因(yin)此使用頻率(lv)相(xiang)對偏少。自動方式(shi)多用于(yu)對整條線路狀況的(de)概覽，僅需完(wan)(wan)成折射率(lv)及波長等(deng)基本參數的(de)設置(zhi)即可，儀表在測試中能自動完(wan)(wan)成剩余參數的(de)設定(ding)。