一、晶閘管怎么測量好壞

晶閘管是一種大功率半導體開關器件，其主要功能是實現對電流的精確控制，其導通和關斷過程中的電壓降較小，因此廣泛應用于電力電子領域。使用晶閘管時，可以通過以下幾種方法來測量判斷晶閘管的好壞：

1、觀察外觀

首先，可以通過觀察晶(jing)閘管的外觀來判斷其是否損(sun)壞。正(zheng)常情況下，晶(jing)閘管的表面(mian)應無明顯劃痕、裂紋等現(xian)象。如果發現(xian)晶(jing)閘管表面(mian)有破損(sun)、燒焦(jiao)等現(xian)象，則說(shuo)明晶(jing)閘管可能已經損(sun)壞。

2、檢查引腳

其次，可以(yi)檢查(cha)晶(jing)(jing)閘管的引腳是否(fou)有松(song)動、斷(duan)裂等(deng)現象(xiang)。正常情況下，晶(jing)(jing)閘管的引腳應牢固地連接在電路(lu)板(ban)上(shang)，且(qie)無(wu)銹蝕現象(xiang)。如(ru)果發現引腳有松(song)動、斷(duan)裂等(deng)現象(xiang)，則(ze)說明晶(jing)(jing)閘管可能已經損壞。

3、測量電阻

為了更準確地判斷(duan)晶(jing)閘管(guan)的(de)好壞，可以使用萬(wan)(wan)用表(biao)(biao)對(dui)其(qi)進行(xing)電阻(zu)測量。將萬(wan)(wan)用表(biao)(biao)的(de)紅表(biao)(biao)筆連(lian)接到晶(jing)閘管(guan)的(de)柵極(ji)（A+），黑表(biao)(biao)筆連(lian)接到晶(jing)閘管(guan)的(de)發射極(ji)（K），此時萬(wan)(wan)用表(biao)(biao)應顯(xian)示一個較低的(de)電阻(zu)值（通常在幾(ji)百歐姆至幾(ji)千歐姆之(zhi)間）。如果萬(wan)(wan)用表(biao)(biao)顯(xian)示的(de)電阻(zu)值為無窮(qiong)大或很高，則(ze)說明晶(jing)閘管(guan)可能(neng)已經損(sun)壞；如果萬(wan)(wan)用表(biao)(biao)顯(xian)示的(de)電阻(zu)值較低，則(ze)說明晶(jing)閘管(guan)正常工(gong)作。

4、測試導通和關斷能力

為了進(jin)一(yi)(yi)步判斷(duan)晶(jing)(jing)閘(zha)(zha)(zha)管(guan)的(de)好壞(huai)，可(ke)以進(jin)行導通(tong)和關斷(duan)能力的(de)測試。將晶(jing)(jing)閘(zha)(zha)(zha)管(guan)連接到一(yi)(yi)個(ge)適當的(de)負載（如(ru)燈泡、電機等），然后輸(shu)入一(yi)(yi)個(ge)正向電流(liu)信(xin)號。如(ru)果晶(jing)(jing)閘(zha)(zha)(zha)管(guan)能夠正常(chang)導通(tong)并承受負載的(de)電流(liu)，且關斷(duan)時能夠迅(xun)速(su)切(qie)斷(duan)電流(liu)，則(ze)說明晶(jing)(jing)閘(zha)(zha)(zha)管(guan)正常(chang)工作(zuo)；如(ru)果晶(jing)(jing)閘(zha)(zha)(zha)管(guan)無法導通(tong)或(huo)導通(tong)后無法正常(chang)關斷(duan)，則(ze)說明晶(jing)(jing)閘(zha)(zha)(zha)管(guan)可(ke)能已(yi)經(jing)損(sun)壞(huai)。

5、檢查驅動電路

除了直接檢查晶(jing)閘管(guan)本身，還需要檢查其(qi)驅動(dong)電路是否正常工作(zuo)(zuo)。如(ru)果驅動(dong)電路出(chu)現故障(zhang)，可能會(hui)導致晶(jing)閘管(guan)無法(fa)正常工作(zuo)(zuo)。可以使用示波器(qi)或其(qi)他測試儀器(qi)檢查驅動(dong)電路的信號(hao)波形，以判(pan)斷(duan)其(qi)是否正常。

二、晶閘管測量好壞注意事項

1、在(zai)判(pan)斷晶閘管(guan)好壞時，應確保操作環境(jing)干燥、通風良好，避(bi)免在(zai)潮濕、高溫、高濕等惡(e)劣(lie)環境(jing)下進(jin)行測試。

2、在進(jin)行導通和關斷能(neng)力的測(ce)試時，應注意避免過(guo)大的電(dian)流直接作用于晶閘管(guan)，以(yi)免造成器件損壞。

3、如(ru)果懷疑晶閘(zha)管的(de)性能下降(jiang)是由于溫(wen)(wen)度(du)過(guo)高導(dao)致的(de)，可以嘗試降(jiang)低(di)工(gong)作環境(jing)的(de)溫(wen)(wen)度(du)，或(huo)者使(shi)用(yong)散(san)熱器(qi)等(deng)輔助散(san)熱設備來(lai)降(jiang)低(di)晶閘(zha)管的(de)工(gong)作溫(wen)(wen)度(du)。

4、在更(geng)換晶閘管時(shi)(shi)，應(ying)注意選擇與原器件參數相近的新品，以確保電(dian)路(lu)的正常(chang)工作。同時(shi)(shi)，更(geng)換晶閘管時(shi)(shi)應(ying)注意防止靜電(dian)對器件造成損壞。

三、如何使用萬用表判斷晶閘管的好壞

晶閘管的(de)好壞(huai)判(pan)(pan)斷有多種(zhong)方法(fa)，其(qi)中用萬用表(biao)測量(liang)判(pan)(pan)斷是比(bi)較(jiao)常見的(de)，使用萬用表(biao)來判(pan)(pan)斷晶閘管好壞(huai)的(de)步(bu)驟如下(xia)：

1、檢查萬用表設置是否正確

將萬用(yong)表置于(yu)電(dian)阻測(ce)量(liang)(liang)位置上，并確保范圍合適，電(dian)阻測(ce)量(liang)(liang)范圍應選最(zui)小(xiao)。例如，在數字萬用(yong)表上，可選擇200歐(ou)姆范圍。

2、查看測試屏幕

屏(ping)幕應顯示(shi)“OL”，表明(ming)還(huan)沒(mei)有(you)測量到電(dian)路。

3、測試晶閘管

將晶閘(zha)(zha)管放(fang)置在(zai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)夾鉗中(zhong)，一端(duan)連接(jie)陰極(ji)，另(ling)一端(duan)連接(jie)陽(yang)極(ji)，在(zai)該(gai)過程中(zhong)，陽(yang)極(ji)必須(xu)先與晶閘(zha)(zha)管的(de)門極(ji)相(xiang)連。將萬用表的(de)夾鉗連接(jie)到晶閘(zha)(zha)管的(de)柵極(ji)上。檢查測(ce)(ce)試(shi)(shi)屏(ping)幕(mu)。如果(guo)屏(ping)幕(mu)顯示(shi)“OL”，說明晶閘(zha)(zha)管正常，如果(guo)屏(ping)幕(mu)在(zai)數值范圍內，那么就需要后(hou)續的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)。

4、測試晶閘管的導通電阻

將晶閘(zha)管放置在測(ce)試(shi)夾鉗中，測(ce)試(shi)夾鉗連(lian)(lian)接陽極和陰(yin)極，夾鉗連(lian)(lian)接到門極上。這時，測(ce)試(shi)屏幕應顯示一(yi)個很小的數值。如果測(ce)試(shi)屏幕還是空白，說(shuo)明晶閘(zha)管已經損壞(huai)了。

5、測試晶閘管反向電阻

將晶閘(zha)管(guan)放置(zhi)在測(ce)試夾(jia)鉗(qian)中，將門極和陽極連接(jie)在一起，然(ran)后將夾(jia)鉗(qian)連接(jie)到陰極上。測(ce)試屏幕(mu)應顯示一個大(da)于OL的(de)數值(zhi)。如果測(ce)試屏幕(mu)還是空(kong)白，說明(ming)晶閘(zha)管(guan)已經損壞了。

6、測試晶閘管的正向電壓

將(jiang)(jiang)晶閘管(guan)放置在測(ce)試(shi)夾(jia)鉗(qian)中，將(jiang)(jiang)夾(jia)鉗(qian)連接(jie)(jie)到(dao)晶閘管(guan)的陰極和柵極上，然后將(jiang)(jiang)陽極連接(jie)(jie)到(dao)電源上，這時測(ce)試(shi)屏幕應顯(xian)示一(yi)個很小的數值。如果測(ce)試(shi)屏幕還是空白(bai)，說明晶閘管(guan)已(yi)經(jing)損壞了。