一、光時域反射儀測試誤差的原因有哪些

光時域反射儀是一種精(jing)密儀器，但測試過程中，或(huo)(huo)多(duo)或(huo)(huo)少(shao)會存在一些(xie)誤(wu)差，一般導致測試誤(wu)差的原因主(zhu)要有：

1、OTDR光時域反射儀存在的固有偏差

由OTDR的(de)(de)測(ce)試原理可知，它是(shi)按(an)一(yi)定(ding)的(de)(de)周(zhou)期向被測(ce)光纖發送光脈沖，再按(an)一(yi)定(ding)的(de)(de)速(su)率(lv)將來自光纖的(de)(de)背向散射信號抽(chou)樣、量化、編碼后，存儲并顯(xian)示出來。OTDR光時(shi)域反射儀本身由于(yu)抽(chou)樣間隔而存在誤差，這種固(gu)有偏差主要反映在距離分(fen)(fen)辯率(lv)上。OTDR的(de)(de)距離分(fen)(fen)辯率(lv)正(zheng)比于(yu)抽(chou)樣頻(pin)率(lv)。

2、測試儀表操作不當產生的誤差

在光(guang)纜(lan)故障定位(wei)測試時，OTDR光(guang)時域反(fan)射(she)儀(yi)使用的(de)(de)正確性與障礙測試的(de)(de)準(zhun)(zhun)確性直(zhi)接相(xiang)關，儀(yi)表(biao)參數設(she)定和準(zhun)(zhun)確性、儀(yi)表(biao)量程范圍的(de)(de)選擇(ze)不(bu)當(dang)或光(guang)標設(she)置(zhi)不(bu)準(zhun)(zhun)等都將導(dao)致(zhi)測試結果的(de)(de)誤差。

（1）設定儀表的折射率偏差產生的誤差

不(bu)同類(lei)型和(he)廠家的(de)(de)(de)光纖(xian)的(de)(de)(de)折(zhe)射(she)率(lv)是(shi)不(bu)同的(de)(de)(de)。使用OTDR測試(shi)光纖(xian)長度時，必須先進(jin)行儀表參數設(she)(she)定，折(zhe)射(she)率(lv)的(de)(de)(de)設(she)(she)定就是(shi)其(qi)中(zhong)之一(yi)。當幾段光纜的(de)(de)(de)折(zhe)射(she)率(lv)不(bu)同時可采用分段設(she)(she)置的(de)(de)(de)方法，以減少因折(zhe)射(she)率(lv)設(she)(she)置誤(wu)差而造成的(de)(de)(de)測試(shi)誤(wu)差。

（2）量程范圍選擇不當

OTDR光(guang)時(shi)域反射儀(yi)測試距(ju)離分辯率(lv)(lv)為1米時(shi)，它是(shi)指圖形放大到(dao)水(shui)平(ping)刻度為25米/格(ge)時(shi)才能實現。儀(yi)表設計是(shi)以(yi)光(guang)標(biao)每移(yi)(yi)(yi)動25步(bu)為1滿(man)格(ge)。在這種情(qing)況下，光(guang)標(biao)每移(yi)(yi)(yi)動一(yi)步(bu)，即(ji)表示(shi)移(yi)(yi)(yi)動1米的(de)距(ju)離，所以(yi)讀出(chu)分辯率(lv)(lv)為1米。如果水(shui)平(ping)刻度選擇2公里(li)/每格(ge)，則(ze)光(guang)標(biao)每移(yi)(yi)(yi)動一(yi)步(bu)，距(ju)離就會(hui)偏移(yi)(yi)(yi)80米。由此可見，測試時(shi)選擇的(de)量(liang)程范(fan)圍越(yue)大，測試結果的(de)偏差就越(yue)大。

（3）脈沖寬度選擇不當

在(zai)脈沖幅度相(xiang)同的條件下，脈沖寬(kuan)度越大，脈沖能(neng)量(liang)就(jiu)越大，此時(shi)OTDR的動(dong)態(tai)范(fan)圍也(ye)越大，相(xiang)應盲區(qu)也(ye)就(jiu)大。

（4）平均化處理時間選擇不當

OTDR測試曲線是將每次輸出脈沖后的反射信號(hao)采(cai)樣，并把多次采(cai)樣做平(ping)均處理以消除一些隨(sui)機事件，平(ping)均化時間(jian)(jian)越(yue)長，噪聲(sheng)電平(ping)越(yue)接近最(zui)小值，動態范(fan)圍就越(yue)大。平(ping)均化時間(jian)(jian)越(yue)長，測試精度(du)(du)越(yue)高(gao)，但(dan)達到一定程(cheng)度(du)(du)時精度(du)(du)不再提高(gao)。為了提高(gao)測試速度(du)(du)，縮短整體(ti)測試時間(jian)(jian)，一般測試時間(jian)(jian)可(ke)在0.5~3分鐘內(nei)選擇。

（5）光標位置放置不當

光(guang)纖(xian)活動(dong)連(lian)接(jie)器(qi)、機械接(jie)頭(tou)和光(guang)纖(xian)中的(de)斷裂(lie)都會(hui)引起損耗和反(fan)射(she)，光(guang)纖(xian)末端(duan)(duan)(duan)的(de)破裂(lie)端(duan)(duan)(duan)面(mian)由于(yu)末端(duan)(duan)(duan)端(duan)(duan)(duan)面(mian)的(de)不(bu)(bu)規則性會(hui)產(chan)生各種菲涅爾(er)(er)反(fan)射(she)峰或者不(bu)(bu)產(chan)生菲涅爾(er)(er)反(fan)射(she)。如(ru)果光(guang)標設置不(bu)(bu)夠準確，也會(hui)產(chan)生一定誤差。

二、如何減少OTDR測試誤差

為了減(jian)少(shao)測試誤(wu)差，在使用OTDR光時域反射儀的時候(hou)，可(ke)以采取以下幾個方法：

1、設定儀表的折射率偏差

不(bu)同(tong)類型(xing)和(he)廠家的(de)光(guang)纖的(de)折射(she)率(lv)(lv)是不(bu)同(tong)的(de)，使用OTDR測試光(guang)纖長度時(shi)，必須先進行(xing)儀表參數設(she)(she)(she)定，折射(she)率(lv)(lv)的(de)設(she)(she)(she)定就是其中(zhong)之(zhi)一。當幾段(duan)光(guang)纜的(de)折射(she)率(lv)(lv)不(bu)同(tong)時(shi)可采用分段(duan)設(she)(she)(she)置的(de)方(fang)法(fa)，以減少因折射(she)率(lv)(lv)設(she)(she)(she)置誤(wu)差而造成的(de)測試誤(wu)差。

2、選擇正確的量程范圍

OTDR測試(shi)距離分辯率(lv)(lv)為1米時，它是指(zhi)圖(tu)形放大到水平(ping)刻(ke)度為25米/格(ge)時才能實現。儀表設計是以光標每(mei)移動(dong)25步為1滿格(ge)，在這種情況(kuang)下(xia)，光標每(mei)移動(dong)一步，即表示移動(dong)1米的距離，所以讀出分辯率(lv)(lv)為1米；如果水平(ping)刻(ke)度選擇2公里/每(mei)格(ge)，則光標每(mei)移動(dong)一步，距離就(jiu)會(hui)偏移80米。

3、保持測試參數的一致性

在光纖線路的測試中，應盡量保持使用同一塊光時域反射儀進(jin)(jin)行(xing)某條線路的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試，各(ge)次測(ce)(ce)試時主要參(can)數(shu)值的(de)(de)(de)設置(zhi)也(ye)應保(bao)持一致，這樣可(ke)以減(jian)少測(ce)(ce)試誤差，便(bian)于(yu)和上(shang)次的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試結果比較。即(ji)使使用不(bu)同型號的(de)(de)(de)儀表進(jin)(jin)行(xing)測(ce)(ce)試，只要其動態范圍能達到要求，折射率、波長、脈寬、距離、均化時間等(deng)參(can)數(shu)的(de)(de)(de)設置(zhi)亦和上(shang)一次的(de)(de)(de)相同，這樣測(ce)(ce)試數(shu)據一般(ban)不(bu)會有大(da)的(de)(de)(de)差別。

4、選擇合適的測試方式

通(tong)過OTDR來對(dui)(dui)光(guang)纖線(xian)(xian)(xian)路(lu)進(jin)行(xing)測試，就會考慮(lv)到實時(shi)、自動(dong)與(yu)手動(dong)三(san)種相(xiang)應的(de)處理方式(shi)。在進(jin)行(xing)實時(shi)處理中，要求(qiu)對(dui)(dui)于刷新曲線(xian)(xian)(xian)進(jin)行(xing)不斷地掃描(miao)，但是因為曲線(xian)(xian)(xian)反復(fu)跳動(dong)和(he)變化的(de)緣(yuan)故，因此使用頻率相(xiang)對(dui)(dui)偏少。自動(dong)方式(shi)多用于對(dui)(dui)整條線(xian)(xian)(xian)路(lu)狀況的(de)概(gai)覽，僅需完(wan)成折射(she)率及波長等基(ji)本參(can)數的(de)設置即可，儀表在測試中能自動(dong)完(wan)成剩余參(can)數的(de)設定。