主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或(huo)什么也(ye)沒有(you)表示CPU沒通(tong)過

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表(biao)示內存不過(guo)

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表(biao)示(shi)顯(xian)卡(ka)不(bu)過

某些集成顯卡主板23、24、25表示(shi)可(ke)(ke)以(yi)正(zheng)常(chang)(chang)點亮，某些VIA芯片(pian)組顯(xian)示(shi)13則表示(shi)可(ke)(ke)以(yi)點亮，某些品(pin)牌機里的主板顯(xian)示(shi)0B則表示(shi)正(zheng)常(chang)(chang)，某些主板顯(xian)示(shi)4E表示(shi)正(zheng)常(chang)(chang)點亮，某些INTEL芯片(pian)組的主板顯(xian)示(shi)26或(huo)16則表示(shi)可(ke)(ke)以(yi)正(zheng)常(chang)(chang)點亮。C1、C6、C3、01、02這個組合循環跳變大部分是I/0壞(huai)或(huo)刷BIOS。

如顯示(shi)05、ED、41則直接(jie)刷BIOS 00 。已(yi)顯示(shi)系統的(de)配置；即將控制INI19引導裝入。

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1、處(chu)(chu)理器(qi)測(ce)試(shi)1，處(chu)(chu)理器(qi)狀態核實(shi)，如果(guo)測(ce)試(shi)失敗，循環是無限的。 處(chu)(chu)理器(qi)寄存(cun)器(qi)的測(ce)試(shi)即將開(kai)始，不可屏蔽(bi)中斷即將停(ting)用。 CPU寄存(cun)器(qi)測(ce)試(shi)正在進行或者失敗。

2、確定(ding)診斷(duan)的類型（正常或者制(zhi)造）。如果鍵盤緩沖器含有數(shu)據就(jiu)會失效。 停用(yong)不(bu)可(ke)屏(ping)蔽中(zhong)斷(duan)；通過延遲開始。 CMOS寫(xie)入／讀出正在進行或者失靈。

3、清除(chu)8042鍵盤控制器，發出TESTKBRD命令（AAH） 通電(dian)延(yan)遲(chi)已完成(cheng)。 ROM BIOS檢查部件正在進行或失(shi)靈。

4、使(shi)8042鍵盤(pan)(pan)控(kong)制器(qi)復(fu)位(wei)，核實TESTKBRD。 鍵盤(pan)(pan)控(kong)制器(qi)軟(ruan)復(fu)位(wei)／通電測試(shi)。 可編(bian)程間隔計時器(qi)的測試(shi)正(zheng)在進(jin)行或失靈。

5、如(ru)(ru)果(guo)不斷重復制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tai)。 已確(que)定軟復位／通(tong)電；即將啟動ROM。 DMA初如(ru)(ru)準(zhun)備正在進行或者(zhe)失靈。

6、使電路(lu)片(pian)(pian)作初始準備，停(ting)用視頻、奇偶(ou)性、DMA電路(lu)片(pian)(pian)，以及(ji)清除DMA電路(lu)片(pian)(pian)，所有頁(ye)面寄存(cun)器(qi)和(he)CMOS停(ting)機字節。 已(yi)啟動(dong)ROM計算ROM BIOS檢查總和(he)，以及(ji)檢查鍵盤(pan)緩沖器(qi)是否清除。 DMA初始頁(ye)面寄存(cun)器(qi)讀／寫測試正在進行或(huo)失靈。

7、處(chu)理器測(ce)(ce)試2，核實CPU寄存器的(de)工作。 ROM BIOS檢(jian)查總和(he)正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fa)出BAT（基本保證測(ce)(ce)試）命(ming)令。

8、使CMOS計時器作初始準備，正常的更新計時器的循環(huan)。 已向鍵盤發出BAT命令，即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗正在進行或失(shi)靈。

9、EPROM檢查總和且必(bi)須等于零才通過(guo)。 核實(shi)鍵(jian)盤的基本(ben)保證測(ce)試，接著(zhu)核實(shi)鍵(jian)盤命令字節。 第一(yi)個64K RAM測(ce)試正在進行。

0A 使視頻接口作初始(shi)準備。 發(fa)出鍵盤命(ming)令字節(jie)代(dai)碼(ma)，即將寫入命(ming)令字節(jie)數據。 第一個64K RAM芯片或(huo)數據線(xian)失(shi)靈，移位(wei)。

0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控制器(qi)命(ming)令字節，即將發出引腳(jiao)23和(he)24的封鎖(suo)／解鎖(suo)命(ming)令。 第一個64K RAM奇／偶邏輯(ji)失靈(ling)。

0C 測試8254通道1。 鍵盤控(kong)制器引腳23、24已封鎖／解(jie)鎖；已發出NOP命令。 第(di)一個64K RAN的(de)地址線故障。

0D：

1）檢查CPU速(su)度是否與系統時(shi)鐘相匹配。

2）檢查控制芯(xin)片已編程值是否符合初設(she)置。

3）視(shi)頻(pin)通(tong)道測(ce)試(shi)，如果(guo)失敗，則鳴喇叭(ba)。 已處理NOP命令；接著測(ce)試(shi)CMOS停開寄(ji)存器。 第一(yi)個64K RAM的奇偶性(xing)失靈。

0E 測試CMOS停(ting)(ting)機字節。 CMOS停(ting)(ting)開寄(ji)存器讀／寫測試；將計算CMOS檢查總和(he)。 初(chu)始(shi)化(hua)輸入／輸出端口地址。

0F 測試(shi)擴展的CMOS。 已計算(suan)CMOS檢查總和寫入(ru)診(zhen)斷字節；CMOS開(kai)始(shi)初始(shi)準備。

10、測試DMA通道0。 CMOS已作初始(shi)準備，CMOS狀態寄存器即將(jiang)為日期和時間作初始(shi)準備。 第(di)一(yi)個64K RAM第(di)0位故障。

11、測試(shi)DMA通道1。 CMOS狀態寄(ji)存(cun)器(qi)已作初始準備，即將停(ting)用(yong)DMA和中斷控制器(qi)。 第(di)一個64DK RAM第(di)1位故障(zhang)。

12、測試DMA頁面寄存(cun)器(qi)。 停用DMA控制器(qi)1以及(ji)中斷控制器(qi)1和2；即將視(shi)頻顯示器(qi)并使(shi)端口B作初(chu)始(shi)準備(bei)。 第(di)一個(ge)64DK RAM第(di)2位(wei)故障。

13、測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用，端口B已作(zuo)初(chu)始準備(bei)；即將開始電路(lu)片(pian)初(chu)始化／存儲器自(zi)動檢測。 第一個64DK RAM第3位故障。

14、測(ce)(ce)試(shi)存儲(chu)器更新觸發電路。 電路片初始化／存儲(chu)器處自(zi)動檢測(ce)(ce)結束；8254計時器測(ce)(ce)試(shi)即(ji)將開始。 第(di)一個64DK RAM第(di)4位故障(zhang)。

15、測試開頭64K的系統(tong)存(cun)儲器。 第(di)2通道計時(shi)器測試了(le)一(yi)半；8254第(di)2通道計時(shi)器即將(jiang)完成(cheng)測試。 第(di)一(yi)個(ge)64DK RAM第(di)5位故障。

16、建(jian)立8259所用的中(zhong)斷矢量表。 第2通道計(ji)時器測試(shi)結束；8254第1通道計(ji)時器即(ji)將完(wan)成(cheng)測試(shi)。 第一個64DK RAM第6位故障(zhang)。

17、調(diao)準視頻(pin)輸入(ru)／輸出工作，若裝有視頻(pin)BIOS則啟用。 第(di)1通(tong)道計(ji)(ji)時器測試結(jie)束(shu)；8254第(di)0通(tong)道計(ji)(ji)時器即將完成測試。 第(di)一個64DK RAM第(di)7位(wei)故障。

18、測(ce)試視頻(pin)存(cun)儲(chu)器(qi)，如果安裝(zhuang)選用的視頻(pin)BIOS通(tong)過，由可繞過。 第(di)0通(tong)道計時(shi)器(qi)測(ce)試結束；即將開(kai)始更新存(cun)儲(chu)器(qi)。 第(di)一個64DK RAM第(di)8位故障。

19、測試第1通(tong)道的中斷控制器（8259）屏蔽(bi)位(wei)。 已開始更新(xin)存儲器，接著將完成存儲器的更新(xin)。 第一個64DK RAM第9位(wei)故(gu)障(zhang)。

1A 測試第(di)2通道(dao)的中斷控制器(qi)（8259）屏蔽位(wei)。 正在觸(chu)發存儲器(qi)更新線路(lu)，即將檢查15微秒通／斷時間。 第(di)一個64DK RAM第(di)10位(wei)故障。

1B 測試CMOS電(dian)池電(dian)平。 完(wan)成存儲(chu)器更新(xin)時間30微秒(miao)測試；即將開始基(ji)本的64K存儲(chu)器測試。 第一個(ge)64DK RAM第11位(wei)故(gu)障。

1C 測試CMOS檢查(cha)總和(he)。 第一個64DK RAM第12位故障。

1D 調定(ding)CMOS配(pei)置 。 第一個(ge)64DK RAM第13位故障。

1E 測定(ding)系統存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。第一個64DK RAM第14位故(gu)障。

1F 測試64K存儲器(qi)至最高640K。第(di)一個64DK RAM第(di)15位(wei)故(gu)障。

20、測量(liang)固定的(de)8259中斷(duan)位。 開始基本(ben)的(de)64K存(cun)儲器測試；即(ji)將測試地址線。 從(cong)屬DMA寄存(cun)器測試正在(zai)進行或失靈(ling)。

21、維持不可(ke)屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性(xing)或(huo)輸入／輸出(chu)通道的檢查(cha)）。 通過地址線測試；即將(jiang)觸發奇偶性(xing)。 主DMA寄存器測試正在進行或(huo)失靈。

22、測(ce)試8259的中斷功(gong)能。 結束觸發奇偶(ou)性；將開始串行數據讀／寫測(ce)試。 主中斷屏蔽寄存器測(ce)試正在進(jin)行或失靈。

23、測試(shi)保(bao)護方(fang)式8086虛擬方(fang)式和8086頁面(mian)方(fang)式。 基本的(de)(de)64K串行數據讀／寫(xie)測試(shi)正常；即將開始中斷(duan)矢(shi)量初始化之前(qian)的(de)(de)任何(he)調節。 從(cong)屬中斷(duan)屏蔽存器測試(shi)正在進行或(huo)失靈。

24、測定(ding)1MB以上的擴展存(cun)(cun)儲器(qi)。 矢量初始化之(zhi)前的任何調節完成，即將開(kai)始中斷矢量的初始準(zhun)備。 設置ES段地(di)址(zhi)寄(ji)存(cun)(cun)器(qi)注冊表到(dao)內存(cun)(cun)高端。

25、測試除頭一個(ge)64K之后的(de)所有(you)存儲器。 完成(cheng)中(zhong)(zhong)斷矢量(liang)初(chu)始準備(bei)；將(jiang)為旋轉式斷續開始讀出8042的(de)輸入／輸出端口(kou)。 裝(zhuang)入中(zhong)(zhong)斷矢量(liang)正在進行或失靈。

26、測試保(bao)護方式的例(li)外情況。 讀出8042的輸入(ru)／輸出端口；即將為旋(xuan)轉(zhuan)式斷(duan)續(xu)開始使全局數據作初始準備。 開啟A20地址線；使之參入(ru)尋址。

27、確定(ding)超高速緩沖(chong)存(cun)儲(chu)器的控制(zhi)或屏蔽RAM。 全1數據初(chu)始(shi)準備結束；接著將進(jin)(jin)行中斷矢量(liang)之(zhi)后(hou)的任(ren)何初(chu)始(shi)準備。 鍵盤控制(zhi)器測試正在進(jin)(jin)行或失(shi)靈。

28、確(que)定超高(gao)速緩沖存儲(chu)器(qi)的(de)控(kong)制或(huo)者特別的(de)8042鍵盤控(kong)制器(qi)。 完(wan)成(cheng)中斷矢量之后的(de)初始準備；即將(jiang)調定單(dan)色(se)方式。 CMOS電(dian)源故障(zhang)／檢查總和計算(suan)正在進行。

29、已調定單色(se)方(fang)式(shi)，即將調定彩色(se)方(fang)式(shi)。 CMOS配置有效(xiao)性的(de)檢查正在進(jin)行。

2A 使(shi)鍵(jian)盤控制(zhi)器作初(chu)始準備。 已調(diao)定彩色方(fang)式，即將(jiang)進行ROM測試前的(de)觸發奇偶性(xing)。 置(zhi)空(kong)64K基本(ben)內(nei)存。

2B 使磁碟驅動器和控(kong)制器作初(chu)始準備。 觸發奇偶性結束(shu)；即(ji)將控(kong)制任選的視頻ROM檢查前所(suo)需(xu)的任何調節。 屏幕存(cun)儲器測(ce)試(shi)正在進行或失靈。

2C 檢查串行(xing)端口，并使之(zhi)作初(chu)始準備(bei)。 完成視(shi)(shi)頻(pin)ROM控(kong)制之(zhi)前的處理；即將查看任選的視(shi)(shi)頻(pin)ROM并加以控(kong)制。 屏幕初(chu)始準備(bei)正在(zai)進行(xing)或失靈。

2D 檢測并(bing)行端口，并(bing)使(shi)之(zhi)作初(chu)始準備。 已完成任(ren)選的視頻ROM控制，即將進行視頻ROM回(hui)復控制之(zhi)后任(ren)何其他處理(li)的控制。 屏幕回(hui)掃測試正在進行或失靈。

2E 使硬磁(ci)盤(pan)驅動器(qi)和控制器(qi)作初(chu)始(shi)準備。 從視(shi)頻(pin)(pin)ROM控制之后的處理復原；如果沒(mei)有發現EGA／VGA就(jiu)要進行顯示器(qi)存儲器(qi)讀／寫測試。 檢測視(shi)頻(pin)(pin)ROM正在進行。

2F 檢測數學協處理器(qi)，并使(shi)之作初(chu)始(shi)準備。 沒發(fa)現EGA／VGA；即(ji)將開始(shi)顯示器(qi)存儲器(qi)讀(du)／寫測試(shi)。

30、建立基本內存和(he)擴(kuo)展內存。 通(tong)過顯(xian)示(shi)器存儲器讀／寫測試；即將(jiang)進行掃描檢查。 認為(wei)屏幕是(shi)可(ke)以工作的。

31、檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準備(bei)。 顯(xian)示器(qi)存(cun)儲器(qi)讀／寫(xie)測試或掃描檢查(cha)失(shi)敗，即將進行另一種顯(xian)示器(qi)存(cun)儲器(qi)讀／寫(xie)測試。 單色監視器(qi)是可以工作的。

32、對主板上COM／LTP／FDD／聲音設備等(deng)I／O芯片編程使(shi)之適合(he)設置值(zhi)。 通過(guo)另一(yi)種顯示(shi)(shi)器(qi)存儲器(qi)讀(du)／寫(xie)測試；卻(que)將(jiang)進行另一(yi)種顯示(shi)(shi)器(qi)掃描檢查。 彩色監視器(qi)（40列）是可以工作的。

33、視頻顯示(shi)器檢查結束；將開(kai)始利用調節開(kai)關(guan)和實際插(cha)卡(ka)檢驗顯示(shi)器的關(guan)型。 彩色監視器（80列）是可以工作的。

34、已檢驗顯示器(qi)適配器(qi)；接著將調定顯示方式。 計時(shi)器(qi)滴答聲中斷測(ce)試(shi)正在進(jin)行(xing)或失靈(ling)。

35、完成調(diao)定顯(xian)示方(fang)式；即將檢查(cha)BIOS ROM的(de)數據區。 停機(ji)測試正(zheng)在進行或失靈。

36、已檢查BIOS ROM數(shu)據區(qu)；即將調定通電(dian)信息的(de)游標。 門(men)電(dian)路(lu)中A－20失靈。

37、識別(bie)通電信息的游(you)標調定(ding)已完成；即將(jiang)顯(xian)示通電信息。 保護(hu)方(fang)式(shi)中的意外中斷。

38、完成顯(xian)示通電(dian)信息；即(ji)將讀出新的(de)游標位置(zhi)。 RAM測試正(zheng)在(zai)進行(xing)或者地址故障＞FFFFH。

39、已讀出保存游標位置，即(ji)將顯示引用信息串。

3A 引用信(xin)息串顯示(shi)結(jie)束；即(ji)將顯示(shi)發現《ESC》信(xin)息。 間隔計(ji)時器通(tong)道(dao)2測試或失靈。

3B 用(yong)OPTI電路片（只(zhi)是486）使(shi)輔助超高速緩沖存儲器作初始準(zhun)備。 已(yi)顯示發現(xian)＜ESC＞信息(xi)；虛擬方(fang)式，存儲器測(ce)試(shi)即(ji)將(jiang)開始。 按日(ri)計(ji)算的日(ri)歷時鐘(zhong)測(ce)試(shi)正在進行(xing)或失靈。

3C 建立允許(xu)進(jin)入CMOS設置的標志。 。 串(chuan)行端(duan)口(kou)測試正在進(jin)行或(huo)失(shi)靈。

3D 初始化鍵(jian)盤／PS2鼠標／PNP設(she)備(bei)及總內存節點。并行端口測(ce)(ce)試正在進行或(huo)失靈。3E 嘗試打(da)開L2高速緩存。數(shu)學協(xie)處(chu)理器測(ce)(ce)試正在進行或(huo)失靈。

40、已開始準備虛(xu)擬方式(shi)的測試；即將從視頻存儲(chu)器來檢驗。 調整CPU速度，使(shi)之與外圍時鐘精確(que)匹配(pei)。

41、中(zhong)斷已打開(kai)，將初始化數據(ju)以(yi)便于0：0檢測(ce)內存(cun)變換（中(zhong)斷控制器或內存(cun)不良） 從視(shi)頻(pin)存(cun)儲器檢驗之后(hou)復原；即(ji)將準備描述符表。 系統(tong)插件板選擇失靈。

42、顯示窗(chuang)口進入SETUP。 描述(shu)符表已(yi)準備(bei)好(hao)；即將進行虛(xu)擬方式(shi)作存儲(chu)器測試。 擴展(zhan)CMOS RAM故障。

43、若(ruo)是(shi)即(ji)(ji)插即(ji)(ji)用BIOS，則(ze)串口(kou)、并口(kou)初始化。 進入(ru)虛擬方(fang)式；即(ji)(ji)將(jiang)為診斷方(fang)式實現中斷。

44、已(yi)實現中斷（如已(yi)接(jie)通(tong)診斷開關；即將使數據作初始準(zhun)備以檢查存儲器在(zai)0：0返轉。） BIOS中斷進行(xing)初始化。

45、初始化數(shu)學(xue)協處理器(qi)。 數(shu)據已作初始準(zhun)備；即將檢查存儲(chu)器(qi)在0：0返轉以及找出系(xi)統(tong)存儲(chu)器(qi)的規(gui)模。

46、測試(shi)存(cun)(cun)儲(chu)器已返回；存(cun)(cun)儲(chu)器大小計算(suan)完畢，即將寫(xie)入頁面來測試(shi)存(cun)(cun)儲(chu)器。 檢查只讀存(cun)(cun)儲(chu)器ROM版本。

47、即將在擴展(zhan)的存(cun)儲器試(shi)寫(xie)頁面(mian)；即將基本640K存(cun)儲器寫(xie)入頁面(mian)。

48、已將基本存儲器寫入頁面；即將確定(ding)1MB以上的(de)存儲器。 視(shi)頻檢查，CMOS重新配(pei)置。

49、找出1BM以下的(de)存(cun)儲(chu)器并檢(jian)驗；即將確定1MB以上的(de)存(cun)儲(chu)器。 。

4A 找(zhao)出1MB以(yi)上的(de)存(cun)儲器并檢(jian)驗；即將檢(jian)查BIOS ROM數據區。進(jin)行視頻的(de)初始化。

4B BIOS ROM數據區(qu)的檢(jian)驗結束，即將檢(jian)查＜ESC＞和為(wei)軟復位清除1MB以上的存(cun)儲器(qi)。

4C 清除(chu)1MB以(yi)上(shang)的(de)存儲器(qi)（軟復位）即將清除(chu)1MB以(yi)上(shang)的(de)存儲器(qi)。 屏蔽(bi)視(shi)頻BIOS ROM。

4D 已清除1MB以(yi)上的存儲器（軟復位）；將保存存儲器的大小。

4E 若檢測(ce)(ce)到(dao)有錯(cuo)誤；在顯(xian)示器(qi)上(shang)顯(xian)示錯(cuo)誤信息，并等待(dai)客戶按＜F1＞鍵繼續。 開(kai)始存儲器(qi)的(de)測(ce)(ce)試：（無軟(ruan)復位(wei)）；即將顯(xian)示第一個64K存儲器(qi)的(de)測(ce)(ce)試。 顯(xian)示版權信息。

4F 讀寫軟、硬盤數據，進行(xing)DOS引導。 開(kai)始顯示存儲(chu)器的大小(xiao)，正在測(ce)試存儲(chu)器將使之更新(xin)；將進行(xing)串行(xing)和隨機的存儲(chu)器測(ce)試。

50、將當前BIOS監(jian)時區(qu)內的CMOS值(zhi)存到CMOS中。 完成1MB以下的存儲器(qi)測試(shi)；即將高(gao)速存儲器(qi)的大小以便(bian)再定位和掩蔽。 將CPU類型和速度送(song)到屏幕(mu)。

51、測試1MB以(yi)上的存儲器。

52、所(suo)有(you)ISA只讀存儲器ROM進(jin)行(xing)初始化(hua)，最(zui)終給PCI分配IRQ號(hao)等初始化(hua)工作(zuo)。 已完成1MB以上的(de)存儲器測(ce)(ce)試(shi)；即將準備回(hui)到實址方式(shi)。 進(jin)入(ru)鍵盤檢測(ce)(ce)。

53、如(ru)果不是即插即用BIOS，則初始化串口、并口和設置時種(zhong)值。 保存(cun)(cun)CPU寄存(cun)(cun)器(qi)(qi)和存(cun)(cun)儲器(qi)(qi)的大小(xiao)，將進入實址方式。

54、成功地開啟實址方式；即將(jiang)復原準(zhun)備停機時保存的寄存器。 掃描“打擊鍵”。

55、寄存器已復原，將停(ting)用門電路A－20的地(di)址(zhi)線(xian)。

56、成功地停(ting)用A－20的地址線；即將(jiang)檢查BIOS ROM數據區。 鍵盤測試結束。

57、BIOS ROM數(shu)據區(qu)檢(jian)查了一半；繼續進行。

58、BIOS ROM的數據區(qu)檢查結束；將清除發現＜ESC＞信息(xi)。 非(fei)設置中斷測試。

59、已清(qing)除(chu)＜ESC＞信息(xi)；信息(xi)已顯示；即(ji)將開始DMA和中斷(duan)控制器的(de)測試。

5A 顯示按“F2”鍵(jian)進行設(she)置。

5B 測試基本內存地址(zhi)。

5C 測試640K基本(ben)內存。

60、設置硬盤引導扇區病毒保護功能。 通過(guo)DMA頁面(mian)寄(ji)存器的測(ce)試；即(ji)將檢驗視頻存儲器。 測(ce)試擴(kuo)展內存。

61、顯示系(xi)統(tong)配置表(biao)。 視頻(pin)存(cun)(cun)儲器檢驗(yan)結束；即將進(jin)行DMA＃1基本寄存(cun)(cun)器的測(ce)試。

62、開始用中斷19H進行系統引導。 通過(guo)DMA＃1基本(ben)寄存(cun)(cun)器的測(ce)(ce)試；即將進行DMA＃2寄存(cun)(cun)器的測(ce)(ce)試。 測(ce)(ce)試擴展內存(cun)(cun)地址線。

63、通過DMA＃2基本寄存器的測(ce)試；即(ji)將檢查BIOS ROM數據區。

64、BIOS ROM數據區檢(jian)查(cha)了一半，繼續進行(xing)。

65、BIOS ROM數據(ju)區(qu)檢(jian)查結束；將把(ba)DMA裝置(zhi)1和(he)2編程。

66、DMA裝(zhuang)置(zhi)1和2編程結(jie)束；即(ji)將使用59號中(zhong)斷控制器作初始準備。 Cache注冊表進行(xing)優化配置(zhi)。

67、8259初始準備(bei)已結(jie)束；即將開始鍵盤(pan)測試。

68、使外部(bu)Cache和(he)CPU內(nei)部(bu)Cache都(dou)工(gong)作(zuo)。

6A 測試并顯示(shi)外部Cache值。

6C 顯示被屏蔽內容。

6E 顯示附屬配置信息(xi)。

69、檢測到的錯誤代碼送到屏幕(mu)顯(xian)示。

70、檢(jian)測(ce)配置有(you)否錯誤。

71、測試實時時鐘。

72、掃查鍵(jian)盤錯誤。

7A 鎖鍵盤。

7C 設(she)置硬件(jian)中(zhong)斷矢量。

7E 測試(shi)有否(fou)安(an)裝數學處理器。