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- 專利名稱:一種確認半成品電池片抗PID性能的測試方法
- 專利類型:發明
- 申請號:CN201410215742.6
- 公開(公告)號:CN103956974B
- 申請日:20140521
- 公開(公告)日:20151209
- 申請人:常州天合光能有限公司
- 發明人:肖婭,陳紅,高傳樓,彭義富
- 申請人地址:213022 江蘇省常州市新北區電子產業園天合路2號
- 申請人區域代碼:CN320411
- 專利權人:常州天合光能有限公司
- 洛迦諾分類:無
- IPC:H02S50/10
- 優先權:無
- 專利代理機構:常州市科誼專利代理事務所 32225
- 代理人:孫彬
- 審查員:張玉麒
- 國際申請:無
- 國際公開(公告):無
- 進入國家日期:無
- 分案申請:無
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