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基本介紹

HD Tune Pro硬(ying)盤(pan)檢(jian)測工具(ju)是一(yi)款小巧易用的硬(ying)盤(pan)工具(ju)軟(ruan)件，其主要(yao)(yao)功能(neng)有(you)硬(ying)盤(pan)傳輸(shu)速(su)率檢(jian)測，健康狀態檢(jian)測，溫度檢(jian)測及磁盤(pan)表(biao)面掃(sao)描等(deng)。另外，還能(neng)檢(jian)測出硬(ying)盤(pan)的固件版本(ben)、序(xu)列號、容量、緩(huan)存(cun)大小以及當前的Ultra DMA模式(shi)等(deng)。雖然這些功能(neng)其它軟(ruan)件也(ye)有(you)，但難(nan)能(neng)可貴的是此軟(ruan)件把(ba)所有(you)這些功能(neng)積于一(yi)身(shen)，而且(qie)非常小巧，速(su)度又快，更重(zhong)要(yao)(yao)的是它是免(mian)費軟(ruan)件，可自由使用。

產品設計

HD Tune是一(yi)款(kuan)小巧易(yi)用(yong)的硬(ying)盤(pan)工具(ju)軟(ruan)件(jian)(jian)(jian)，其(qi)主要功能(neng)有(you)硬(ying)盤(pan)傳(chuan)輸速(su)率檢(jian)(jian)測(ce)，健康狀態檢(jian)(jian)測(ce)，溫度(du)檢(jian)(jian)測(ce)及磁盤(pan)表面(mian)掃描存取(qu)時間(jian)、CPU占用(yong)率。另外，還能(neng)檢(jian)(jian)測(ce)出硬(ying)盤(pan)的固件(jian)(jian)(jian)版本、序(xu)列號(hao)、容量、緩存大小以及當前的Ultra DMA模(mo)式(shi)等。雖然這(zhe)些(xie)(xie)功能(neng)其(qi)它軟(ruan)件(jian)(jian)(jian)也有(you)，但難能(neng)可(ke)貴的是此軟(ruan)件(jian)(jian)(jian)把所有(you)這(zhe)些(xie)(xie)功能(neng)集于一(yi)身，而且(qie)非常小巧，速(su)度(du)又(you)快，更重要的是它是免費軟(ruan)件(jian)(jian)(jian)，可(ke)以自(zi)由使用(yong)。

特色功能

S.M.A.R.T.包含很多個(ge)屬(shu)性，每個(ge)屬(shu)性值(zhi)(zhi)只有(you)兩(liang)種(zhong)含義，超過閾(yu)(yu)值(zhi)(zhi)和沒有(you)超過閾(yu)(yu)值(zhi)(zhi)。一旦有(you)屬(shu)性值(zhi)(zhi)超過了閾(yu)(yu)值(zhi)(zhi)，表明“硬(ying)盤快不行(xing)了”。每個(ge)硬(ying)盤的S.M.A.R.T.信息中(zhong)都注明了這些屬(shu)性的閾(yu)(yu)值(zhi)(zhi)，不同廠家(jia)的閾(yu)(yu)值(zhi)(zhi)是不同的，不同的屬(shu)性值(zhi)(zhi)對(dui)于(yu)閾(yu)(yu)值(zhi)(zhi)對(dui)比關系(xi)有(you)兩(liang)種(zhong)情況：應(ying)大于(yu)閾(yu)(yu)值(zhi)(zhi)和小于(yu)閾(yu)(yu)值(zhi)(zhi)。

(01)讀取(qu)錯誤率Read Error Rate(應小于閾值)

硬(ying)件(jian)讀(du)取(qu)錯(cuo)誤率，在從(cong)磁盤(pan)表面讀(du)取(qu)數據發生錯(cuo)誤時記錄。任(ren)何大于0的數據表明在磁盤(pan)表面或者(zhe)讀(du)寫柱頭發生過問題。這(zhe)項的最(zui)差值很低的話(hua)，則提示硬(ying)盤(pan)多半有壞道(dao)。某(mou)些(xie)二手硬(ying)盤(pan)檢測這(zhe)個數值不正(zheng)常的話(hua)，有可能是被修復或屏蔽過壞道(dao)。

(02)重新(xin)映射扇區計數(shu)Reallocated Sectors Count(應小于閾值)

重新(xin)映(ying)(ying)(ying)射扇區的(de)計數(shu)值。硬盤發現一個(ge)讀、寫(xie)或校(xiao)驗錯誤時，會將這個(ge)扇區重新(xin)映(ying)(ying)(ying)射并將數(shu)據(ju)轉(zhuan)移到一個(ge)特殊(shu)的(de)保留的(de)空閑區域(yu)，這些區域(yu)就稱為重新(xin)映(ying)(ying)(ying)射扇區。也就是(shi)說，硬盤是(shi)無法通(tong)過檢測來發現“壞塊”的(de)，所有(you)的(de)壞塊都被隱藏到了(le)重新(xin)映(ying)(ying)(ying)射的(de)扇區里面(mian)了(le)，當然這樣讀寫(xie)速度會有(you)影響變慢(man)。

(03)通(tong)電時間計數 Power-On Hours Count，POH(越(yue)小越(yue)好，通(tong)常(chang)無(wu)閾值)

通電(dian)狀(zhuang)態(tai)下的(de)小(xiao)(xiao)時計數。這個(ge)值(zhi)表示了硬盤(pan)通電(dian)狀(zhuang)態(tai)下總計的(de)小(xiao)(xiao)時計數，不過不同(tong)廠家這個(ge)值(zhi)的(de)單(dan)位有所不同(tong)，也(ye)有以分鐘、秒鐘為(wei)單(dan)位的(de)。新(xin)買回(hui)的(de)硬盤(pan)應該小(xiao)(xiao)于(yu)10小(xiao)(xiao)時吧。

(0A)馬達重試計(ji)數(shu)Spin Retry Count(應小于閾值)

馬達嘗試(shi)啟動(dong)的(de)(de)重試(shi)計(ji)數(shu)(shu)。這個屬性存儲了馬達為了達到(dao)標準轉速(su)而(er)進行(xing)的(de)(de)啟動(dong)嘗試(shi)的(de)(de)總(zong)計(ji)數(shu)(shu)，即(ji)第一次啟動(dong)并不能(neng)成功達到(dao)標準轉速(su)。數(shu)(shu)值(zhi)高(gao)可能(neng)電路或是硬(ying)盤的(de)(de)保留(liu)區有問(wen)(wen)題，說明(ming)硬(ying)盤的(de)(de)機械系統出現了問(wen)(wen)題。

(0C)通(tong)電周期(qi)計(ji)數Power Cycle Count(越小越好，通(tong)常無閾值)

這個屬性(xing)表明(ming)了整個硬盤通(tong)電/去電周期(qi)的次數，即開關次數。

(C2)Temperature(越小越好(hao)，通常無閾值)

當前內(nei)部溫(wen)度。一般不應(ying)超過45攝氏度。

(C4)重(zhong)新(xin)映射事件計(ji)數Reallocetion Event Count(應小于(yu)閾值)

重新(xin)映射操作的計數(shu)值。這(zhe)個屬性值表明(ming)了將(jiang)重新(xin)映射扇區(qu)的數(shu)據轉(zhuan)(zhuan)移(yi)到空閑(xian)區(qu)域的嘗試總次(ci)數(shu)。成功的轉(zhuan)(zhuan)移(yi)和不成功的轉(zhuan)(zhuan)移(yi)都會被計數(shu)。

(C5)當前待映(ying)射扇區(qu)計數Current Pending Sector Count(應小于(yu)閾值)

“不(bu)(bu)穩(wen)定(ding)的”扇區數(shu)量(liang)，即等(deng)待(dai)被映射的扇區數(shu)量(liang)。如果不(bu)(bu)穩(wen)定(ding)的扇區隨后被讀寫(xie)成功，這個(ge)值(zhi)會(hui)(hui)(hui)降低，扇區也不(bu)(bu)會(hui)(hui)(hui)重(zhong)(zhong)新映射。扇區讀取錯(cuo)誤不(bu)(bu)會(hui)(hui)(hui)造成重(zhong)(zhong)新映射，扇區只(zhi)會(hui)(hui)(hui)在寫(xie)入失敗時(shi)發生重(zhong)(zhong)新映射。這個(ge)值(zhi)有(you)時(shi)候會(hui)(hui)(hui)有(you)問題(ti)，因為帶緩存寫(xie)入不(bu)(bu)會(hui)(hui)(hui)重(zhong)(zhong)新映射扇區，只(zhi)有(you)直接讀寫(xie)才會(hui)(hui)(hui)真正(zheng)寫(xie)入磁盤。假(jia)如這個(ge)數(shu)值(zhi)異常，則可能(neng)預(yu)示硬盤快(kuai)掛了。。。。

(C6)無法校正扇區計數Uncorrectable Sector Count(應(ying)小于閾值)

讀寫扇(shan)區時發生的(de)無法校正的(de)錯誤(wu)總計數。這個值上升表明硬(ying)盤表明有缺(que)損或者機械(xie)系統有問(wen)題(ti)。

(C7)直接(jie)內存訪問校(xiao)驗錯誤計(ji)數(shu)UltraDMA CRC Error Count(應小于閾值)

通(tong)過(guo)接(jie)(jie)口循(xun)環冗余校驗(Interface Cyclic Redundancy Check，ICRC)發現的(de)通(tong)過(guo)接(jie)(jie)口電(dian)纜進行(xing)數據傳輸的(de)錯誤(wu)。