1、超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)在介質中傳播時，在不同質界面(mian)上具有反(fan)射的特(te)性，如遇到(dao)缺(que)(que)陷，缺(que)(que)陷的尺寸等(deng)于或大于超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)波(bo)長(chang)(chang)時，則超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)在缺(que)(que)陷上反(fan)射回來(lai)，探(tan)傷儀可將反(fan)射波(bo)顯示(shi)出來(lai)；如缺(que)(que)陷的尺寸甚(shen)至小于波(bo)長(chang)(chang)時，聲(sheng)波(bo)將繞過射線而不能反(fan)射。
2、波(bo)(bo)聲的方向(xiang)性(xing)好，頻率越(yue)(yue)高，方向(xiang)性(xing)越(yue)(yue)好，以(yi)很窄的波(bo)(bo)束向(xiang)介質中輻射，易(yi)于確定缺陷的位(wei)置。
3、超聲波的(de)傳播(bo)能量大，如(ru)頻(pin)率為1MHZ（1兆赫茲(zi)）的(de)超聲波所傳播(bo)的(de)能量，相當于振幅(fu)相同而(er)頻(pin)率為1000HZ（赫茲(zi)）的(de)聲波的(de)100萬倍。
探傷儀檢測(ce)(ce)通常是對被測(ce)(ce)物(wu)體（比如工業材料(liao)、人體）發射(she)超聲，然后利(li)用其反射(she)、多普勒效應、透射(she)等來獲取被測(ce)(ce)物(wu)體內部(bu)的信(xin)息(xi)并經過處(chu)理(li)形成圖像。
探傷儀其中多普勒(le)效應(ying)法是利用超(chao)聲(sheng)在遇到運動的(de)(de)物(wu)(wu)體(ti)時發生(sheng)的(de)(de)多普勒(le)頻移效應(ying)來得出該物(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)運動方向和速(su)度等(deng)特性(xing)；透射法則是通過分析(xi)超(chao)聲(sheng)穿透過被測物(wu)(wu)體(ti)之后的(de)(de)變化而(er)得出物(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)內(nei)部特性(xing)的(de)(de)，其應(ying)用還處于研制階段(duan)；
探傷儀內(nei)部缺(que)陷性質的(de)估判及原因和防止措施(shi)
單(dan)個氣孔(kong)回波(bo)高度(du)(du)低，波(bo)形為單(dan)縫，較穩(wen)定(ding)。從各(ge)個方(fang)向探測(ce)，反射波(bo)大(da)體(ti)(ti)相同(tong)，但(dan)稍一(yi)動探頭就消失，密集氣孔(kong)會出(chu)現(xian)一(yi)簇反射波(bo)，波(bo)高隨(sui)氣孔(kong)大(da)小(xiao)而不同(tong)，當探頭作定(ding)點轉動時(shi)，會出(chu)現(xian)此(ci)起彼落的(de)現(xian)象。產生這(zhe)類缺陷(xian)的(de)原因主要是焊(han)(han)(han)材(cai)未按規定(ding)溫度(du)(du)烘干(gan)，焊(han)(han)(han)條藥皮變質(zhi)脫落、焊(han)(han)(han)芯銹蝕，焊(han)(han)(han)絲清(qing)(qing)理(li)不干(gan)凈(jing)，手(shou)工焊(han)(han)(han)時(shi)電流過大(da)，電弧(hu)過長(chang);埋弧(hu)焊(han)(han)(han)時(shi)電壓(ya)過高或網絡電壓(ya)波(bo)動太(tai)大(da);氣體(ti)(ti)保護(hu)焊(han)(han)(han)時(shi)保護(hu)氣體(ti)(ti)純度(du)(du)低等。如(ru)果焊(han)(han)(han)縫中(zhong)存在著氣孔(kong)，既破壞了焊(han)(han)(han)縫金屬的(de)致密性，又使(shi)得焊(han)(han)(han)縫有(you)效(xiao)截(jie)面積(ji)減少，降低了機械性能(neng)，特(te)別是存鏈(lian)狀(zhuang)氣孔(kong)時(shi)，對彎曲和(he)沖擊韌性會有(you)比(bi)較明顯降低。防(fang)止這(zhe)類缺陷(xian)產生的(de)措施有(you)：不使(shi)用(yong)藥皮開裂、剝(bo)落、變質(zhi)及(ji)焊(han)(han)(han)芯銹蝕的(de)焊(han)(han)(han)條，生銹的(de)焊(han)(han)(han)絲必須除銹后才能(neng)使(shi)用(yong)。所用(yong)焊(han)(han)(han)接(jie)材(cai)料(liao)應按規定(ding)溫度(du)(du)烘干(gan)，坡口及(ji)其兩側清(qing)(qing)理(li)干(gan)凈(jing)，并要選用(yong)合適的(de)焊(han)(han)(han)接(jie)電流、電弧(hu)電壓(ya)和(he)焊(han)(han)(han)接(jie)速(su)度(du)(du)等。
點狀(zhuang)(zhuang)夾渣回波(bo)(bo)(bo)信(xin)號(hao)與(yu)點狀(zhuang)(zhuang)氣(qi)孔相(xiang)似，條(tiao)狀(zhuang)(zhuang)夾渣回波(bo)(bo)(bo)信(xin)號(hao)多呈鋸齒狀(zhuang)(zhuang)波(bo)(bo)(bo)幅(fu)不(bu)(bu)高(gao)，波(bo)(bo)(bo)形(xing)多呈樹枝狀(zhuang)(zhuang)，主峰(feng)(feng)邊(bian)上有(you)小(xiao)峰(feng)(feng)，探頭平移波(bo)(bo)(bo)幅(fu)有(you)變動(dong)，從各(ge)個方向探測時反射波(bo)(bo)(bo)幅(fu)不(bu)(bu)相(xiang)同。這類缺(que)陷產(chan)生(sheng)的原因有(you)：焊接(jie)(jie)電流過小(xiao)，速度(du)過快，熔渣來(lai)不(bu)(bu)及浮起，被焊邊(bian)緣和(he)各(ge)層(ceng)焊縫清理(li)不(bu)(bu)干(gan)凈，其本金屬和(he)焊接(jie)(jie)材料化學(xue)成分不(bu)(bu)當，含硫、磷(lin)較多等。防止措施有(you)：正(zheng)確(que)選用(yong)焊接(jie)(jie)電流，焊接(jie)(jie)件(jian)的坡口角(jiao)度(du)不(bu)(bu)要太小(xiao)，焊前必(bi)須把坡口清理(li)干(gan)凈，多層(ceng)焊時必(bi)須層(ceng)層(ceng)清除焊渣;并合理(li)選擇運條(tiao)角(jiao)度(du)焊接(jie)(jie)速度(du)等。
反(fan)射率(lv)高，波(bo)(bo)幅(fu)也(ye)較(jiao)高，探頭平移時，波(bo)(bo)形較(jiao)穩定，在焊(han)縫兩側探傷時均能得(de)到大(da)致相同的反(fan)射波(bo)(bo)幅(fu)。這類缺(que)陷(xian)不僅降低(di)了焊(han)接(jie)接(jie)頭的機械性能，而且在未(wei)焊(han)透處的缺(que)口和(he)端(duan)部形成應力集中點，承載后往(wang)(wang)往(wang)(wang)會引(yin)起(qi)裂紋，是一種危險(xian)性缺(que)陷(xian)。其產生(sheng)原因(yin)一般是：坡口純邊間隙太(tai)小，焊(han)接(jie)電(dian)流太(tai)小或(huo)運條速度過(guo)快，坡口角度小，運條角度不對以及電(dian)弧偏吹等(deng)。防止措施有：合理選(xuan)用坡口型式、裝配間隙和(he)采用正(zheng)確的焊(han)接(jie)工(gong)藝等(deng)。
探頭平移時，波形較穩定，兩側(ce)探測時，反射(she)波幅不(bu)同，有時只能從一(yi)側(ce)探到。其產生的原因(yin)：坡(po)口不(bu)干(gan)凈，焊(han)(han)速太(tai)快，電流過小或過大，焊(han)(han)條角(jiao)度不(bu)對，電弧偏吹等。防止(zhi)措(cuo)施：正(zheng)確選用坡(po)口和(he)電流，坡(po)口清理(li)干(gan)凈，正(zheng)確操作防止(zhi)焊(han)(han)偏等。
回波高(gao)度較大，波幅寬(kuan)，會(hui)出(chu)現(xian)多峰(feng)，探(tan)頭平(ping)移時(shi)反射波連續出(chu)現(xian)波幅有變動，探(tan)頭轉時(shi)，波峰(feng)有上下錯(cuo)動現(xian)象(xiang)。裂(lie)(lie)紋(wen)是(shi)(shi)一(yi)種危險性最大的(de)(de)缺陷，它除降(jiang)低(di)焊(han)接接頭的(de)(de)強度外，還(huan)因裂(lie)(lie)紋(wen)的(de)(de)末端呈尖銷(xiao)的(de)(de)缺口，焊(han)件承(cheng)載(zai)后，引(yin)起(qi)應力集中，成為結構(gou)斷裂(lie)(lie)的(de)(de)起(qi)源。裂(lie)(lie)紋(wen)分(fen)為熱裂(lie)(lie)紋(wen)、冷(leng)裂(lie)(lie)紋(wen)和(he)再(zai)熱裂(lie)(lie)紋(wen)三種。熱裂(lie)(lie)紋(wen)產生的(de)(de)原因是(shi)(shi)：焊(han)接時(shi)熔池(chi)的(de)(de)冷(leng)卻速度很(hen)快，造成偏(pian)析(xi)(xi);焊(han)縫(feng)受熱不(bu)均勻產生拉應力。防止措施：限(xian)制母材(cai)和(he)焊(han)接材(cai)料中易偏(pian)析(xi)(xi)元素(su)和(he)有害(hai)雜(za)質(zhi)的(de)(de)含量(liang)，主(zhu)要限(xian)制硫含量(liang)，提(ti)高(gao)錳含量(liang);提(ti)高(gao)焊(han)條或焊(han)劑的(de)(de)堿度，以降(jiang)低(di)雜(za)質(zhi)含量(liang)，改善偏(pian)析(xi)(xi)程度;改進(jin)焊(han)接結構(gou)形式(shi)，采用(yong)合理的(de)(de)焊(han)接順序，提(ti)高(gao)焊(han)縫(feng)收縮時(shi)的(de)(de)自由度。
探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)檢(jian)(jian)測(ce)這(zhe)里主要介紹(shao)的(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)應用最多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)通(tong)過反(fan)(fan)射(she)(she)(she)法(fa)(fa)來(lai)獲取物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)內(nei)(nei)(nei)部(bu)特性信(xin)(xin)(xin)(xin)息(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)。反(fan)(fan)射(she)(she)(she)法(fa)(fa)是(shi)基于(yu)(yu)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)在通(tong)過不(bu)同聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)阻抗組織(zhi)界面時(shi)會(hui)發生(sheng)較強(qiang)(qiang)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)原(yuan)理(li)(li)工(gong)作(zuo)的(de)(de)(de)(de)(de)，正如(ru)我們所知道，聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在從一種介質傳(chuan)播到(dao)另外一種介質的(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候在兩者(zhe)(zhe)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)界面處(chu)(chu)(chu)會(hui)發生(sheng)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)，而(er)(er)(er)且(qie)介質之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)差別(bie)越(yue)大反(fan)(fan)射(she)(she)(she)就(jiu)會(hui)越(yue)大，所以(yi)(yi)我們可(ke)(ke)以(yi)(yi)對(dui)一個物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)發射(she)(she)(she)出(chu)(chu)(chu)穿透力(li)強(qiang)(qiang)、能夠直線傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)然后對(dui)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)進行接(jie)(jie)收(shou)(shou)并(bing)根(gen)(gen)據這(zhe)些反(fan)(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)先后、幅度等(deng)(deng)(deng)情(qing)況就(jiu)可(ke)(ke)以(yi)(yi)判斷出(chu)(chu)(chu)這(zhe)個組織(zhi)中(zhong)(zhong)(zhong)含有(you)的(de)(de)(de)(de)(de)各種介質的(de)(de)(de)(de)(de)大小、分布情(qing)況以(yi)(yi)及(ji)各種介質之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)比差別(bie)程(cheng)(cheng)度等(deng)(deng)(deng)信(xin)(xin)(xin)(xin)息(xi)（其(qi)中(zhong)(zhong)(zhong)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)先后可(ke)(ke)以(yi)(yi)反(fan)(fan)映出(chu)(chu)(chu)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)界面離(li)探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)表面的(de)(de)(de)(de)(de)距離(li)，幅度則可(ke)(ke)以(yi)(yi)反(fan)(fan)映出(chu)(chu)(chu)介質的(de)(de)(de)(de)(de)大小、對(dui)比差別(bie)程(cheng)(cheng)度等(deng)(deng)(deng)特性），探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)從而(er)(er)(er)判斷出(chu)(chu)(chu)該被測(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)是(shi)否(fou)有(you)異(yi)常。在這(zhe)個過程(cheng)(cheng)中(zhong)(zhong)(zhong)就(jiu)涉及(ji)到(dao)很多(duo)方(fang)面的(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)(nei)(nei)容，包括(kuo)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)生(sheng)、接(jie)(jie)收(shou)(shou)、信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)轉換和(he)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)等(deng)(deng)(deng)。其(qi)中(zhong)(zhong)(zhong)產(chan)生(sheng)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)是(shi)通(tong)過電(dian)路產(chan)生(sheng)激勵電(dian)信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)傳(chuan)給具有(you)壓(ya)電(dian)效(xiao)應的(de)(de)(de)(de)(de)晶體(ti)(ti)(ti)（比如(ru)石英、硫酸鋰(li)等(deng)(deng)(deng)），使其(qi)振動(dong)(dong)(dong)(dong)從而(er)(er)(er)產(chan)生(sheng)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)；而(er)(er)(er)接(jie)(jie)收(shou)(shou)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候，這(zhe)個壓(ya)電(dian)晶體(ti)(ti)(ti)又會(hui)受(shou)到(dao)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)壓(ya)力(li)而(er)(er)(er)產(chan)生(sheng)電(dian)信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)并(bing)傳(chuan)送給信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)電(dian)路進行一系列的(de)(de)(de)(de)(de)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)，探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)最后形(xing)(xing)(xing)成圖像(xiang)供人們觀(guan)察判斷。這(zhe)里根(gen)(gen)據圖像(xiang)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)方(fang)法(fa)(fa)（也就(jiu)是(shi)將得(de)到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)轉換成什么形(xing)(xing)(xing)式(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)圖像(xiang)）的(de)(de)(de)(de)(de)種類又可(ke)(ke)以(yi)(yi)分為A型(xing)顯(xian)示、M型(xing)顯(xian)示、B型(xing)顯(xian)示、C型(xing)顯(xian)示、F型(xing)顯(xian)示等(deng)(deng)(deng)。其(qi)中(zhong)(zhong)(zhong)A型(xing)顯(xian)示是(shi)將接(jie)(jie)收(shou)(shou)到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)成波(bo)形(xing)(xing)(xing)圖像(xiang)，根(gen)(gen)據波(bo)形(xing)(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)(xing)(xing)狀可(ke)(ke)以(yi)(yi)看出(chu)(chu)(chu)被測(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)里面是(shi)否(fou)有(you)異(yi)常和(he)缺陷在那(nei)里、有(you)多(duo)大等(deng)(deng)(deng)，探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)主要用于(yu)(yu)工(gong)業檢(jian)(jian)測(ce)；M型(xing)顯(xian)示是(shi)將一條(tiao)經過輝(hui)度處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)信(xin)(xin)(xin)(xin)息(xi)按時(shi)間(jian)順序(xu)展(zhan)開(kai)形(xing)(xing)(xing)成一維(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)"空間(jian)多(duo)點運動(dong)(dong)(dong)(dong)時(shi)序(xu)圖"，適(shi)于(yu)(yu)觀(guan)察內(nei)(nei)(nei)部(bu)處(chu)(chu)(chu)于(yu)(yu)運動(dong)(dong)(dong)(dong)狀態的(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)，探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)如(ru)運動(dong)(dong)(dong)(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)臟(zang)器、動(dong)(dong)(dong)(dong)脈血管(guan)等(deng)(deng)(deng)；B型(xing)顯(xian)示是(shi)將并(bing)排(pai)很多(duo)條(tiao)經過輝(hui)度處(chu)(chu)(chu)理(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)信(xin)(xin)(xin)(xin)息(xi)組合成的(de)(de)(de)(de)(de)二維(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)(fan)映出(chu)(chu)(chu)被測(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)內(nei)(nei)(nei)部(bu)斷層切(qie)面的(de)(de)(de)(de)(de)"解剖圖像(xiang)"（醫院里使用的(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)(chao)就(jiu)是(shi)用這(zhe)種原(yuan)理(li)(li)做出(chu)(chu)(chu)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)），探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)適(shi)于(yu)(yu)觀(guan)察內(nei)(nei)(nei)部(bu)處(chu)(chu)(chu)于(yu)(yu)靜態的(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)；而(er)(er)(er)C型(xing)顯(xian)示、F型(xing)顯(xian)示用得(de)比較少。探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)檢(jian)(jian)測(ce)不(bu)但(dan)可(ke)(ke)以(yi)(yi)做到(dao)非(fei)常準確，而(er)(er)(er)且(qie)相對(dui)其(qi)他檢(jian)(jian)測(ce)方(fang)法(fa)(fa)來(lai)說更為方(fang)便、快捷，也不(bu)會(hui)對(dui)檢(jian)(jian)測(ce)對(dui)象和(he)操作(zuo)者(zhe)(zhe)產(chan)生(sheng)危害，所以(yi)(yi)受(shou)到(dao)了人們越(yue)來(lai)越(yue)普遍(bian)的(de)(de)(de)(de)(de)歡迎，有(you)著非(fei)常廣闊的(de)(de)(de)(de)(de)發展(zhan)前(qian)景。
探傷儀(yi)的(de)(de)(de)應(ying)用有(you)很廣(guang)泛，比如用超聲(sheng)(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)反射(she)來(lai)測(ce)(ce)(ce)量距離，利用大功率(lv)超聲(sheng)(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)振動來(lai)清(qing)除附著在(zai)鍋(guo)爐上(shang)面的(de)(de)(de)水垢，利用高能超聲(sheng)(sheng)(sheng)做成"超聲(sheng)(sheng)(sheng)刀"來(lai)消滅、擊碎人(ren)體內的(de)(de)(de)癌變(bian)、結石等(deng)(deng)，探傷儀(yi)而利用超聲(sheng)(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)反射(she)等(deng)(deng)效應(ying)和(he)穿透力強、能夠直線傳(chuan)播等(deng)(deng)的(de)(de)(de)特(te)性(xing)來(lai)進行檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)也(ye)是(shi)其中一個很大的(de)(de)(de)應(ying)用領域。探傷儀(yi)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)應(ying)用主要包(bao)括在(zai)工業上(shang)對各種(zhong)材料的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)和(he)在(zai)醫療(liao)上(shang)對人(ren)體的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)診斷，通(tong)過它人(ren)們(men)(men)可(ke)以(yi)探測(ce)(ce)(ce)出金(jin)屬(shu)等(deng)(deng)工業材料中有(you)沒有(you)氣泡(pao)、傷痕、裂縫等(deng)(deng)缺陷，可(ke)以(yi)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)出人(ren)們(men)(men)身(shen)體的(de)(de)(de)軟組織、血流(liu)等(deng)(deng)是(shi)否正(zheng)常(chang)。
粉(fen)探傷(shang)(shang)儀適用于零(ling)件表面(mian)的(de)探傷(shang)(shang)，主要適用于濕(shi)磁粉(fen)法檢(jian)測曲軸(zhou)、凸輪軸(zhou)、花鍵軸(zhou)等各種中(zhong)小型零(ling)件的(de)表面(mian)及近(jin)表面(mian)因鑄造、淬火、加工、疲勞等原因引起(qi)的(de)裂紋及細微缺陷，是單件檢(jian)測，小批抽檢(jian)，大批量(liang)檢(jian)測的(de)首選機(ji)型。
輕小，可以到(dao)現場探(tan)傷(shang)(shang)乃至高空(kong)進行探(tan)傷(shang)(shang)作業。包括(kuo)對大型零部件進行局(ju)部磁化探(tan)傷(shang)(shang)。特別適(shi)(shi)用于平焊縫、角(jiao)焊縫、壓(ya)力容器、管道及(ji)形狀復雜零部件的探(tan)傷(shang)(shang)。對不(bu)允許高電(dian)壓(ya)進入設備內探(tan)傷(shang)(shang)的場合更為適(shi)(shi)合。
磁(ci)粉探(tan)傷(shang)(shang)儀只能對大型工件分段探(tan)傷(shang)(shang)，不能一次(ci)性檢測出(chu)全(quan)方位的(de)裂(lie)紋，所以其探(tan)傷(shang)(shang)效率較低。
該設備操作簡便，工(gong)作效率高，采用(yong)工(gong)業PLC控制，既(ji)可(ke)(ke)手動(dong)單步操作，亦可(ke)(ke)自動(dong)循環工(gong)作，周(zhou)、縱向電流(liu)分別(bie)可(ke)(ke)調，具有斷電相位控制功能。可(ke)(ke)分別(bie)進行周(zhou)向、縱向、復合磁(ci)化。工(gong)件可(ke)(ke)以(yi)轉動(dong)，檢測時機(ji)器可(ke)(ke)按工(gong)藝要求(qiu)設定的程序自動(dong)完成除上下料及(ji)觀(guan)察外（如夾(jia)緊、噴液、磁(ci)化、退磁(ci)、轉動(dong)等(deng)等(deng)）的自動(dong)化工(gong)作。
1、周向磁化(hua)電(dian)流(liu)：AC0－4000A連續(xu)可調駛帶斷電(dian)相位控制；
2、縱向磁化電流：DC0－20000AT連續可調(diao)帶斷電相位控制；
3、退(tui)磁(ci)磁(ci)勢：AC20000－0AT連續(xu)可調自動衰減；
4、退磁(ci)效(xiao)果：≤0.2mT；
5、夾緊(jin)方式：氣動或(huo)電動夾緊(jin)；
6、電(dian)極(ji)間距：0－1000mm由(you)夾具確定；
7、夾緊行程：0－50mm；
8、夾頭轉(zhuan)速：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高分辨率(lv)TFTLCD，獨特的(de)遮陽設計，符合(he)人體(ti)工程學。
采用高端ARM處理器，系統響應(ying)速度(du)快，實時(shi)性好(hao)。
采用(yong)性能先進的前置放大器，大大減小檢測盲區(qu)。
簡潔易用的人機(ji)交(jiao)互(hu)，儀器操控性(xing)強(qiang)。
高達4GB海(hai)量存儲，能夠進(jin)行(xing)長時(shi)間的探傷波(bo)形動態(tai)記錄，存儲大量波(bo)形信(xin)息。
具有豐富的通(tong)信接口，強大(da)的數據(ju)備(bei)份(fen)和數據(ju)轉(zhuan)儲能力。
防(fang)水等級IP64。
鍵盤背光功能。
探頭(tou)接口采用瑞士原裝進(jin)口的LEMO接頭(tou)，美觀大方，耐用性好。
增加Ethernet網(wang)口，可接(jie)入(ru)以太網(wang)。
增加(jia)了大(da)量的操作提示信息，人(ren)機(ji)交互界面更加(jia)友好。
用戶可(ke)根據自己喜好(hao)來選擇(ze)不同的屏幕顏(yan)色(se)。
內置AWS、API5UE等多種(zhong)標準。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探測范圍：(0~9999)mm
工作頻率：(0.25~20)MHz
各頻段等效輸(shu)入噪聲：<15%
發射脈(mo)沖(chong)(chong)：負脈(mo)沖(chong)(chong)s
能量(liang)可選(xuan)擇(ze)，適(shi)用探頭范圍廣。
脈(mo)沖寬度在(zai)(0.1~0.5)μs范圍內連續(xu)調節，以匹配不同頻率的探頭。
脈沖(chong)幅度：低（300伏(fu)(fu)）、中（500伏(fu)(fu)）、高（700伏(fu)(fu)）分級選擇，適(shi)用探頭范圍廣。
脈沖寬度：在（0.1~0.5）μs范圍內連續調節，以匹配不同(tong)頻(pin)率的探頭(tou)。
超聲波(bo)探傷儀探頭阻尼(ni)：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可(ke)選(xuan)，滿足靈(ling)敏度(du)及分辨率的不同工(gong)作。
動態范圍：≥36dB
數字抑制：(0~80)%，不影(ying)響線性與增益(yi)。
垂(chui)直線性誤(wu)差：≤2.6%。
水平線性誤差：≤0.1%。
分辨(bian)力：>38dB。
靈敏度(du)余(yu)量：60dB。
電噪(zao)聲電平：≤10%。
濾波頻帶：（0.25~20）MHz，根據探頭頻率全自動匹配，無需(xu)手動設置。
探傷通(tong)道(dao)：200組探傷工作通(tong)道(dao)。
探頭接口：LEMO接口，ERA.1S。
探頭類(lei)型：直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭。
報(bao)(bao)警：蜂鳴(ming)器報(bao)(bao)警，鍵盤背光燈(deng)報(bao)(bao)警。
電源：直流(liu)（DC）9V；鋰電池連(lian)續工作6~8小(xiao)時以上。
外型尺(chi)寸：220×156×58(mm)結構待定。
環境(jing)溫度：(-10~50)℃。
相對濕度：(20~95)%RH。
注：以(yi)上指標(biao)是在(zai)探頭頻率(lv)為(wei)(wei)2.5MHz、檢波(bo)方式為(wei)(wei)全波(bo)的(de)情(qing)況(kuang)下所測得的(de)。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬件實時采(cai)樣：10位(wei)AD轉換(huan)器(qi)，采(cai)樣速度125MHz，波形高(gao)度保真。
檢波(bo)方式(shi)：正半(ban)波(bo)、負(fu)半(ban)波(bo)、全(quan)波(bo)、射頻檢波(bo)。
閘(zha)(zha)門讀數：單(dan)閘(zha)(zha)門和雙(shuang)閘(zha)(zha)門讀數方式可選；閘(zha)(zha)門內(nei)峰值讀數、邊緣檢測可選。
增(zeng)益(yi)：0-110dB，最小增(zeng)益(yi)調(diao)節(jie)(jie)量0.1dB，獨(du)特的全(quan)自動增(zeng)益(yi)調(diao)節(jie)(jie)及掃查增(zeng)益(yi)功(gong)能。
超聲波探傷儀探傷功能
波峰記憶(yi)：實時檢索(suo)缺陷最高波，記錄缺陷最大值。
Φ值計算(suan)：直探頭鍛件探傷找準(zhun)缺陷最高波(bo)后(hou)自動計算(suan)、顯示缺陷當量尺(chi)寸。
缺陷(xian)定位：實(shi)時顯示缺陷(xian)水平(ping)、深度（垂(chui)直）、聲程位置(zhi)。
缺陷定量：缺陷當量dB值實時(shi)顯示；
缺陷定(ding)性：通過回波包絡波形，方便人工經驗判斷(duan)；
探(tan)頭頻率檢測：通過抓(zhua)取回(hui)波(bo)，準確檢測出探(tan)頭的(de)中心頻率，500mm范圍內任意波(bo)幅回(hui)波(bo)，一鍵輕松完(wan)成檢測；
曲面修正(zheng)：修正(zheng)斜探頭(tou)圓管檢(jian)測(ce)時的深度(du)和水平距離；
超聲波探傷儀修正模式：內弧(hu)/外弧(hu)；
DAC/AVG：曲(qu)線(xian)(xian)自(zi)動(dong)(dong)生成(cheng)，取(qu)樣點(dian)不受限制，并(bing)可進行補償與修正。曲(qu)線(xian)(xian)隨(sui)增(zeng)益自(zi)動(dong)(dong)浮動(dong)(dong)、隨(sui)聲程自(zi)動(dong)(dong)擴展、隨(sui)延時自(zi)動(dong)(dong)移動(dong)(dong)。能顯示任意孔徑(jing)的(de)AVG曲(qu)線(xian)(xian)。
裂紋測高：利用端(duan)點(dian)衍射波自動測量、計算裂紋高度。
B型(xing)掃(sao)描：采用定(ding)時掃(sao)描方式形成B型(xing)圖像。
門(men)內展寬：放大回波細節，便于回波分(fen)析。
動態記錄(lu)(lu)：檢測實時動態記錄(lu)(lu)、存(cun)儲(chu)、回放波形，每段記錄(lu)(lu)可達8分鐘。
波(bo)形凍結(jie)(jie)：凍結(jie)(jie)屏(ping)幕(mu)上(shang)顯示的波(bo)形，便于缺陷分析。
焊(han)縫圖示(shi)(shi)：顯示(shi)(shi)焊(han)縫坡口形式和聲束走向(xiang)，直觀顯示(shi)(shi)缺陷位(wei)置。
內置標準：可自由設置各行業探傷工藝(yi)標準。
回波(bo)(bo)編碼：輸入工件厚(hou)度，儀(yi)器(qi)根據一次(ci)波(bo)(bo)、二次(ci)波(bo)(bo)及多(duo)次(ci)波(bo)(bo)的區域能生成(cheng)不同的背景色彩。
工作方式：直探(tan)(tan)頭(tou)、斜探(tan)(tan)頭(tou)、雙(shuang)晶探(tan)(tan)頭(tou)、穿(chuan)透探(tan)(tan)傷。
閘門(men)報(bao)警：門(men)位(wei)、門(men)寬、門(men)高任意可(ke)(ke)調(diao)；B閘門(men)可(ke)(ke)選擇(ze)設置(zhi)進波(bo)報(bao)警或失波(bo)報(bao)警；數(shu)(shu)據存儲(chu)：200組探(tan)傷參(can)數(shu)(shu)通道，可(ke)(ke)預先(xian)調(diao)校好(hao)各類探(tan)頭和儀器的組合參(can)數(shu)(shu)，自由設置(zhi)各行業探(tan)傷標準(zhun)；可(ke)(ke)存儲(chu)10000幅探(tan)傷回波(bo)信號及(ji)參(can)數(shu)(shu)，實現(xian)存儲(chu)、讀(du)出(chu)及(ji)通過(guo)USB接(jie)口傳輸。
實(shi)時(shi)時(shi)鐘：實(shi)時(shi)探傷日(ri)期(qi)、時(shi)間的跟蹤記(ji)錄(lu)(lu)，并(bing)記(ji)錄(lu)(lu)存儲。
通(tong)訊接口：USB主機接口和從(cong)機接口，既能與(yu)PC機通(tong)信，又能方便地訪問U盤。藍(lan)牙(ya)無(wu)線通(tong)信模(mo)塊。
電(dian)池模塊：高容(rong)量鋰電(dian)池模塊，在(zai)線(xian)充(chong)(chong)電(dian)和脫機充(chong)(chong)電(dian)兩種(zhong)充(chong)(chong)電(dian)方式，方便探傷(shang)。
醫用超聲波探傷儀
超聲波(bo)探傷儀(yi)(yi)工作(zuo)原理(li)與聲納有一定的(de)(de)(de)相(xiang)似性(xing)，即將超聲波(bo)發射到人(ren)體(ti)內，當它(ta)在體(ti)內遇到界面時會發生(sheng)反射及(ji)折射，并且在人(ren)體(ti)組(zu)織中(zhong)可能(neng)被吸(xi)收而衰減。因(yin)為(wei)人(ren)體(ti)各種組(zu)織的(de)(de)(de)形態與結(jie)構是(shi)不(bu)相(xiang)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)，因(yin)此其(qi)反射與折射以及(ji)吸(xi)收超聲波(bo)的(de)(de)(de)程度(du)也就(jiu)不(bu)同(tong)(tong)，醫生(sheng)們(men)(men)(men)正(zheng)(zheng)是(shi)通(tong)過儀(yi)(yi)器所(suo)反映出的(de)(de)(de)波(bo)型(xing)(xing)、曲線，或(huo)影象的(de)(de)(de)特征(zheng)來辨別它(ta)們(men)(men)(men)。此外再(zai)結(jie)合解剖學(xue)知識(shi)、正(zheng)(zheng)常與病理(li)的(de)(de)(de)改變(bian)，便可診斷所(suo)檢查的(de)(de)(de)器官(guan)是(shi)否有病。醫生(sheng)們(men)(men)(men)應用的(de)(de)(de)超聲診斷方法有不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)(de)形式(shi)，可分為(wei)A型(xing)(xing)、B型(xing)(xing)、M型(xing)(xing)及(ji)D型(xing)(xing)四大(da)類:
A型：是(shi)以(yi)波形來(lai)顯示組(zu)織特征的(de)方法，主要用(yong)于測量(liang)器官的(de)徑(jing)線，以(yi)判定其大(da)小。可用(yong)來(lai)鑒別病變組(zu)織的(de)一些物理特性(xing)(xing)，如實質性(xing)(xing)、液體(ti)或是(shi)氣體(ti)是(shi)否存在等。
B型：用(yong)平面(mian)圖形(xing)(xing)的(de)(de)形(xing)(xing)式來顯(xian)示被探(tan)查組織的(de)(de)具體情況(kuang)。檢(jian)查時，將人體界面(mian)的(de)(de)反射(she)信號轉變為(wei)強(qiang)弱不同的(de)(de)光(guang)點，這(zhe)些光(guang)點可通過(guo)熒光(guang)屏顯(xian)現出來，這(zhe)種方法直(zhi)觀性好，重復性強(qiang)，可供前后對比，所以(yi)廣(guang)泛用(yong)于婦產科、泌尿、消化及心血管等系統疾病的(de)(de)診(zhen)斷。
M型：是用于觀察活(huo)動界面時間變化的(de)(de)一種方(fang)法。最適用于檢查心(xin)臟的(de)(de)活(huo)動情況(kuang)(kuang)，其曲線(xian)的(de)(de)動態改變稱為(wei)超(chao)聲心(xin)動圖，可以(yi)用來(lai)觀察心(xin)臟各層(ceng)結(jie)構的(de)(de)位置(zhi)、活(huo)動狀(zhuang)態、結(jie)構的(de)(de)狀(zhuang)況(kuang)(kuang)等，多用于輔(fu)助心(xin)臟及大(da)血管(guan)疫病的(de)(de)診斷。
D型：是(shi)專門(men)用(yong)來檢測血液流(liu)動和器(qi)官活(huo)動的(de)一種超(chao)聲(sheng)診(zhen)斷(duan)方法，又稱為多普勒超(chao)聲(sheng)診(zhen)斷(duan)法。可確定血管(guan)(guan)是(shi)否通暢、管(guan)(guan)腔有否狹(xia)窄、閉塞以(yi)及病變部位。新一代的(de)D型超(chao)聲(sheng)波還能定量地測定管(guan)(guan)腔內血液的(de)流(liu)量。科學(xue)家又發展了(le)彩色(se)編(bian)碼多普勒系(xi)統，可在(zai)超(chao)聲(sheng)心動圖解(jie)剖標志的(de)指(zhi)示下，以(yi)不同(tong)顏色(se)顯(xian)(xian)示血流(liu)的(de)方向(xiang)，色(se)澤(ze)的(de)深淺(qian)代表血流(liu)的(de)流(liu)速。還有立體(ti)超(chao)聲(sheng)顯(xian)(xian)象、超(chao)聲(sheng)CT、超(chao)聲(sheng)內窺鏡等超(chao)聲(sheng)技術不斷(duan)涌現(xian)出來，并且還可以(yi)與其(qi)他檢查儀器(qi)結合(he)使用(yong)，使疾病的(de)診(zhen)斷(duan)準確率(lv)大大提高。超(chao)聲(sheng)波技術正在(zai)醫學(xue)界(jie)發揮著巨大的(de)作用(yong)，隨著科學(xue)的(de)進步，它將(jiang)更加完善，將(jiang)更好(hao)地造福于人類。
主要(yao)用于探測機加工件(jian)內部(bu)有(you)無缺(que)陷（裂紋、砂眼、氣孔、白(bai)點、夾雜等），焊縫是(shi)否(fou)合(he)格，查找有(you)無暗傷，從而判定工件(jian)合(he)格與(yu)否(fou)。
全數字
真彩(cai)顯(xian)示器：五(wu)種顏(yan)色(se)可選、亮度可調
高性(xing)能鋰電池，連續工作7小時
與計算機通(tong)訊，可自動(dong)生成探傷報(bao)告
實時顯示SL、EL、GL、RL定量(liang)值
自動校準：自動測試“探(tan)頭(tou)零(ling)點”、“K值(zhi)”、“前沿”及“材料(liao)聲速”；
自動顯示(shi)缺陷回波(bo)位置（深度d、水平p、距離s、波(bo)幅、當量dB、孔徑ф值(zhi)）；
自由切(qie)換(huan)三(san)種標尺(chi)（深度(du)d、水平p、距(ju)離s），滿足不(bu)同(tong)的(de)探傷標準(zhun)要(yao)求和(he)探傷工程師的(de)標尺(chi)使用習慣；
自動增(zeng)益：自動將(jiang)波形調至屏(ping)高的80%，大大提高了探傷效率；
自(zi)動(dong)錄(lu)制探傷過程并(bing)可以進行動(dong)態(tai)回放(fang)；
自(zi)動φ值計算：直探頭鍛件(jian)探傷，找準缺陷最高波自(zi)動換算孔徑ф值；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻(zu)尼(ni)自動。
硬件實時采樣：150MHz，波形高度(du)保真(zhen)
閘門信號：單閘門、雙(shuang)閘門，峰值或(huo)邊緣讀數
增(zeng)益調節(jie)：手動(dong)調節(jie)110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步(bu)進）或自(zi)動(dong)調節(jie)至屏(ping)高的(de)80%
曲線包(bao)絡和波峰記憶：實時檢索(suo)并記錄缺陷最高(gao)波
φ值計算：直探頭(tou)鍛件(jian)探傷找準缺陷(xian)最高波(bo)自動(dong)換算
動(dong)態錄(lu)制：實時動(dong)態錄(lu)制波形，并可存儲、回放
缺陷定位：實時顯示水平值(zhi)L、深度值(zhi)H、聲程值(zhi)S
缺陷定量(liang)：實時顯示SL、EL、GL、RL定量(liang)值(zhi)
實(shi)時顯(xian)示孔狀缺陷Φ值(zhi)
缺(que)陷定性：通過波形，人工經驗判斷(duan)
曲(qu)面修正：曲(qu)面工(gong)件探傷(shang)，修正曲(qu)率換算
B型掃描(miao)：實時掃查，描(miao)述缺陷橫切面
閘門報(bao)警：進(jin)波(bo)報(bao)警、失(shi)波(bo)報(bao)警
DAC報警：自(zi)由(you)設置SL、EL、GL、RL報警
五(wu)大常規方法(fa)(fa)是指射線探傷法(fa)(fa)、超聲(sheng)波探傷法(fa)(fa)、磁粉(fen)探傷法(fa)(fa)、渦流探傷法(fa)(fa)和滲透探傷法(fa)(fa)。
射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是(shi)利用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)穿(chuan)透性和直線(xian)(xian)性來(lai)(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)方法。這些射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)雖然不(bu)會像(xiang)可(ke)見光(guang)(guang)那樣憑肉眼就(jiu)能(neng)直接(jie)察知，但(dan)它可(ke)使照(zhao)相底(di)片(pian)(pian)(pian)感(gan)(gan)光(guang)(guang)，也可(ke)用(yong)(yong)(yong)特殊(shu)的(de)(de)接(jie)收(shou)(shou)器來(lai)(lai)接(jie)收(shou)(shou)。常用(yong)(yong)(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)有(you)x光(guang)(guang)和同(tong)位素發出(chu)的(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)，分(fen)別稱為x光(guang)(guang)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當(dang)這些射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿(chuan)過（照(zhao)射(she)(she)(she)(she)）物質時，該物質的(de)(de)密度越(yue)大，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度減弱(ruo)(ruo)得越(yue)多(duo)，即射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)透過該物質的(de)(de)強(qiang)(qiang)度就(jiu)越(yue)小(xiao)。此時，若用(yong)(yong)(yong)照(zhao)相底(di)片(pian)(pian)(pian)接(jie)收(shou)(shou)，則底(di)片(pian)(pian)(pian)的(de)(de)感(gan)(gan)光(guang)(guang)量(liang)就(jiu)小(xiao)；若用(yong)(yong)(yong)儀器來(lai)(lai)接(jie)收(shou)(shou)，獲得的(de)(de)信(xin)號(hao)就(jiu)弱(ruo)(ruo)。因(yin)此，用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)來(lai)(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)零部件(jian)時，若其(qi)內部有(you)氣孔、夾渣等(deng)(deng)缺陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿(chuan)過有(you)缺陷(xian)的(de)(de)路(lu)徑比沒有(you)缺陷(xian)的(de)(de)路(lu)徑所透過的(de)(de)物質密度要小(xiao)得多(duo)，其(qi)強(qiang)(qiang)度就(jiu)減弱(ruo)(ruo)得少(shao)些，即透過的(de)(de)強(qiang)(qiang)度就(jiu)大些，若用(yong)(yong)(yong)底(di)片(pian)(pian)(pian)接(jie)收(shou)(shou)，則感(gan)(gan)光(guang)(guang)量(liang)就(jiu)大些，就(jiu)可(ke)以從底(di)片(pian)(pian)(pian)上反(fan)映出(chu)缺陷(xian)垂直于(yu)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)平(ping)面(mian)投(tou)影(ying)；若用(yong)(yong)(yong)其(qi)它接(jie)收(shou)(shou)器也同(tong)樣可(ke)以用(yong)(yong)(yong)儀表來(lai)(lai)反(fan)映缺陷(xian)垂直于(yu)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)平(ping)面(mian)投(tou)影(ying)和射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)透過量(liang)。由此可(ke)見，一般情(qing)況下，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是(shi)不(bu)易發現(xian)裂紋的(de)(de)，或(huo)者說，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對裂紋是(shi)不(bu)敏感(gan)(gan)的(de)(de)。因(yin)此，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對氣孔、夾渣、未焊透等(deng)(deng)體積(ji)(ji)(ji)型缺陷(xian)最敏感(gan)(gan)。即射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)適宜用(yong)(yong)(yong)于(yu)體積(ji)(ji)(ji)型缺陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適宜面(mian)積(ji)(ji)(ji)型缺陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
人(ren)們的(de)耳朵能直接(jie)接(jie)收到的(de)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)范圍通(tong)常是20Hz到20kHz，即(ji)音(yin)（聲(sheng)）頻(pin)(pin)(pin)。頻(pin)(pin)(pin)率(lv)低于(yu)20Hz的(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)次聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高于(yu)20kHz的(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工(gong)業上常用(yong)數兆赫茲超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)來探(tan)(tan)傷。超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)高，則(ze)傳播(bo)(bo)的(de)直線性強，又易于(yu)在固體中(zhong)(zhong)傳播(bo)(bo)，并且遇到兩種(zhong)不同介(jie)(jie)質形成(cheng)的(de)界面(mian)(mian)時(shi)易于(yu)反射(she)(she)，這(zhe)樣就可以用(yong)它(ta)來探(tan)(tan)傷。通(tong)常用(yong)超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)(tan)頭與(yu)待探(tan)(tan)工(gong)件表面(mian)(mian)良好的(de)接(jie)觸，探(tan)(tan)頭則(ze)可有效(xiao)地向工(gong)件發(fa)射(she)(she)超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并能接(jie)收（缺陷）界面(mian)(mian)反射(she)(she)來的(de)超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同時(shi)轉(zhuan)換成(cheng)電信號，再(zai)傳輸給儀器進行(xing)處理(li)。根(gen)據超聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)在介(jie)(jie)質中(zhong)(zhong)傳播(bo)(bo)的(de)速(su)度（常稱(cheng)(cheng)聲(sheng)速(su)）和傳播(bo)(bo)的(de)時(shi)間，就可知道缺陷的(de)位置(zhi)。當(dang)缺陷越大(da)，反射(she)(she)面(mian)(mian)則(ze)越大(da)，其反射(she)(she)的(de)能量(liang)(liang)也就越大(da)，故(gu)可根(gen)據反射(she)(she)能量(liang)(liang)的(de)大(da)小來查知各缺陷（當(dang)量(liang)(liang)）的(de)大(da)小。常用(yong)的(de)探(tan)(tan)傷波(bo)(bo)(bo)形有縱(zong)波(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)、表面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)等，前二者適(shi)用(yong)于(yu)探(tan)(tan)測(ce)內部缺陷，后者適(shi)宜于(yu)探(tan)(tan)測(ce)表面(mian)(mian)缺陷，但對表面(mian)(mian)的(de)條(tiao)件要求高。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)傷是建立在(zai)漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎(chu)上的一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷方法。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料及其(qi)(qi)制(zhi)品時，在(zai)其(qi)(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連(lian)續處將產(chan)生漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極。此時撒上干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉或澆上磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極就會(hui)吸(xi)附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉，產(chan)生用肉(rou)眼(yan)能(neng)直接觀察(cha)的明顯磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因此，可借助于該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料及其(qi)(qi)制(zhi)品的缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)傷法可探(tan)測(ce)露出(chu)表面(mian)(mian)，用肉(rou)眼(yan)或借助于放大鏡也不(bu)能(neng)直接觀察(cha)到的微小缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，也可探(tan)測(ce)未(wei)露出(chu)表面(mian)(mian)，而是埋藏在(zai)表面(mian)(mian)下幾毫米的近表面(mian)(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)。用這種方法雖(sui)然也能(neng)探(tan)查(cha)氣孔、夾雜、未(wei)焊(han)透(tou)等(deng)體積(ji)(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，但對面(mian)(mian)積(ji)(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)更靈敏(min)，更適于檢查(cha)因淬火、軋制(zhi)、鍛造、鑄(zhu)造、焊(han)接、電鍍、磨(mo)削、疲(pi)勞等(deng)引起的裂(lie)紋。
磁(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷中對缺(que)陷(xian)的(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)方法(fa)有(you)多種，有(you)用(yong)磁(ci)(ci)粉顯(xian)(xian)示(shi)的(de)(de)，也有(you)不用(yong)磁(ci)(ci)粉顯(xian)(xian)示(shi)的(de)(de)。用(yong)磁(ci)(ci)粉顯(xian)(xian)示(shi)的(de)(de)稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷，因它顯(xian)(xian)示(shi)直觀(guan)(guan)、操作簡單、人(ren)們樂于使用(yong)，故(gu)它是最常(chang)用(yong)的(de)(de)方法(fa)之一(yi)。不用(yong)磁(ci)(ci)粉顯(xian)(xian)示(shi)的(de)(de)，習慣上稱(cheng)(cheng)為漏磁(ci)(ci)探(tan)(tan)傷，它常(chang)借(jie)助于感應線圈(quan)、磁(ci)(ci)敏管、霍(huo)爾元件等(deng)來反映缺(que)陷(xian)，它比磁(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷更衛生(sheng)，但不如(ru)前(qian)者直觀(guan)(guan)。由于磁(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷主要用(yong)磁(ci)(ci)粉來顯(xian)(xian)示(shi)缺(que)陷(xian)，因此(ci)，人(ren)們有(you)時(shi)把(ba)磁(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷直接稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷，其(qi)設(she)備稱(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷設(she)備。
渦(wo)流(liu)(liu)探(tan)傷是由交(jiao)(jiao)流(liu)(liu)電流(liu)(liu)產(chan)生的(de)交(jiao)(jiao)變磁場作(zuo)用于待探(tan)傷的(de)導電材(cai)(cai)料，感(gan)應出(chu)電渦(wo)流(liu)(liu)。如(ru)果材(cai)(cai)料中有缺(que)陷，它將干擾所產(chan)生的(de)電渦(wo)流(liu)(liu)，即(ji)(ji)形成干擾信(xin)號。用渦(wo)流(liu)(liu)探(tan)傷儀檢測(ce)出(chu)其干擾信(xin)號，就可知道缺(que)陷的(de)狀(zhuang)況(kuang)。影響渦(wo)流(liu)(liu)的(de)因素(su)很多，即(ji)(ji)是說渦(wo)流(liu)(liu)中載(zai)有豐富的(de)信(xin)號，這些(xie)(xie)信(xin)號與材(cai)(cai)料的(de)很多因素(su)有關，如(ru)何將其中有用的(de)信(xin)號從諸多的(de)信(xin)號中一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離(li)出(chu)來(lai)，是渦(wo)流(liu)(liu)研(yan)究工作(zuo)者的(de)難題，多年來(lai)已經取(qu)得(de)了一(yi)(yi)些(xie)(xie)進展，在一(yi)(yi)定條件下可解決一(yi)(yi)些(xie)(xie)問題，但還遠不能(neng)滿(man)足(zu)現(xian)場的(de)要求，有待于大力發展。
渦(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)的顯著(zhu)特點是對導(dao)電材料(liao)就(jiu)能起(qi)作(zuo)用，而不一(yi)定(ding)是鐵(tie)磁材料(liao)，但對鐵(tie)磁材料(liao)的效果較(jiao)(jiao)差。其次，待探(tan)工件表面(mian)的光潔度(du)、平(ping)整度(du)、邊介等對渦(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)都有(you)較(jiao)(jiao)大影響，因此常將(jiang)渦(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)用于形狀較(jiao)(jiao)規則、表面(mian)較(jiao)(jiao)光潔的銅管等非(fei)鐵(tie)磁性(xing)工件探(tan)傷(shang)。
滲(shen)(shen)透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)毛細(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)來進行探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)方(fang)法。對于(yu)表(biao)(biao)面光(guang)滑(hua)而(er)清(qing)潔的(de)(de)零部件，用(yong)一種帶色(se)（常(chang)為(wei)(wei)紅(hong)色(se)）或帶有(you)熒光(guang)的(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)性很(hen)強的(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，涂(tu)覆于(yu)待探(tan)(tan)(tan)零部件的(de)(de)表(biao)(biao)面。若表(biao)(biao)面有(you)肉眼不能(neng)直接(jie)察知的(de)(de)微裂紋(wen)，由于(yu)該液(ye)(ye)(ye)體的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)性很(hen)強，它將沿著裂紋(wen)滲(shen)(shen)透(tou)到其(qi)(qi)根部。然后將表(biao)(biao)面的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)(ye)洗去，再(zai)涂(tu)上(shang)(shang)對比度較大的(de)(de)顯(xian)(xian)示液(ye)(ye)(ye)（常(chang)為(wei)(wei)白色(se)）。放置(zhi)片(pian)刻后，由于(yu)裂紋(wen)很(hen)窄，毛細(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)作用(yong)顯(xian)(xian)著，原滲(shen)(shen)透(tou)到裂紋(wen)內的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)(ye)將上(shang)(shang)升(sheng)到表(biao)(biao)面并(bing)擴(kuo)散，在白色(se)的(de)(de)襯底(di)上(shang)(shang)顯(xian)(xian)出(chu)(chu)較粗的(de)(de)紅(hong)線，從而(er)顯(xian)(xian)示出(chu)(chu)裂紋(wen)露(lu)于(yu)表(biao)(biao)面的(de)(de)形狀，因此，常(chang)稱為(wei)(wei)著色(se)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。若滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)(ye)采用(yong)的(de)(de)是帶熒光(guang)的(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，由毛細(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)上(shang)(shang)升(sheng)到表(biao)(biao)面的(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體，則會在紫(zi)外燈(deng)照射(she)下發出(chu)(chu)熒光(guang)，從而(er)更(geng)能(neng)顯(xian)(xian)示出(chu)(chu)裂紋(wen)露(lu)于(yu)表(biao)(biao)面的(de)(de)形狀，故常(chang)常(chang)又將此時的(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)直接(jie)稱為(wei)(wei)熒光(guang)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。此探(tan)(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法也可用(yong)于(yu)金(jin)屬和非金(jin)屬表(biao)(biao)面探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。其(qi)(qi)使用(yong)的(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)液(ye)(ye)(ye)劑有(you)較大氣味(wei)，常(chang)有(you)一定毒性。
除以上五大常規(gui)方(fang)法(fa)外(wai)，近年(nian)來又有了紅(hong)外(wai)、聲發(fa)射(she)等一些新的探傷(shang)方(fang)法(fa)。
