Ram Stress Test(RST)是一(yi)個維(wei)修級內(nei)(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)工具(ju),能(neng)夠檢(jian)(jian)測(ce)(ce)內(nei)(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)有(you)哪一(yi)塊(kuai)顆粒損壞,PCB板有(you)沒有(you)短(duan)路或(huo)虛焊(han);Ram Stress Test能(neng)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)SD內(nei)(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun),也能(neng)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)DDR內(nei)(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun),是專業的(de)內(nei)(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)維(wei)修工具(ju),完全可以取(qu)代(dai)昂貴(gui)的(de)內(nei)(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)卡。